本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測試機及芯片測試方法，本發(fā)明的芯片測試機的結(jié)構(gòu)緊湊,、體積較小,，占地面積只一平米左右，可以滿足小批量的芯片測試要求,。其技術(shù)方案如下：本發(fā)明在一實施例中公開了一種芯片測試機,。該芯片測試機包括機架，以及設(shè)置于機架上的移載裝置,、測試裝置,、自動上料裝置、自動下料裝置及不良品放置臺,，所述自動上料裝置包括頭一料倉及自動上料機構(gòu),，所述自動上料機構(gòu)在所述頭一料倉內(nèi)上下移動；所述自動下料機構(gòu)包括第二料倉及自動下料機構(gòu),，所述自動下料機構(gòu)在所述第二料倉內(nèi)上下移動,，所述移載裝置位于所述自動上料裝置、自動下料裝置,、測試裝置及不良品放置臺的上方,，所述移載裝置將自動上料裝置的待測試芯片移動至測試裝置,，并將測試完成的芯片移動至自動下料裝置或不良品放置臺,，所述移載裝置還將自動上料裝置的空tray盤移動至自動下料裝置,。芯片測試機既可以進行數(shù)字測試,，也可以進行模擬測試,。海南芯片測試機廠家直銷

設(shè)計公司主要目標是根據(jù)市場需求來進行芯片研發(fā),，在整個設(shè)計過程中,，需要一直考慮測試相關(guān)的問題，主要有下面幾個原因：1） 隨著芯片的復(fù)雜度原來越高,，芯片內(nèi)部的模塊越來越多,，制造工藝也是越來越先進,，對應(yīng)的失效模式越來越多,，而如何能完整有效地測試整個芯片,，在設(shè)計過程中需要被考慮的比重越來越多,。2） 設(shè)計、制造,、甚至測試本身,，都會帶來一定的失效,，如何保證設(shè)計處理的芯片達到設(shè)計目標,，如何保證制造出來的芯片達到要求的良率,，如何確保測試本身的質(zhì)量和有效,，從而提供給客戶符合產(chǎn)品規(guī)范的,、質(zhì)量合格的產(chǎn)品,，這些都要求必須在設(shè)計開始的頭一時間就要考慮測試方案,。3） 成本的考量,。越早發(fā)現(xiàn)失效,，越能減少無謂的浪費,；設(shè)計和制造的冗余度越高，越能提供較終產(chǎn)品的良率,；同時，如果能得到更多的有意義的測試數(shù)據(jù),，也能反過來提供給設(shè)計和制造端有用的信息,，從而使得后者有效地分析失效模式，改善設(shè)計和制造良率,。全自動芯片測試機供應(yīng)商芯片測試機可以提供定制化的測試方案,，以滿足工程師的需求。

在未進行劃片封裝的整片Wafer上,，通過探針將裸露的芯片與測試機連接,，從而進行的芯片測試就是CP測試。晶圓CP測試,，常應(yīng)用于功能測試與性能測試中,，了解芯片功能是否正常，以及篩掉芯片晶圓中的故障芯片,。FT測試,，封裝后成品FT測試，常應(yīng)用與功能測試,、性能測試和可靠性測試中,，檢查芯片功能是否正常,，以及封裝過程中是否有缺陷產(chǎn)生，并且?guī)椭诳煽啃詼y試中用來檢測經(jīng)過“火雪雷電”之后的芯片是不是還能工作。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動測試設(shè)備（ATE）+機械臂（Handler）+儀器儀表,，需要制作的硬件是測試板（Loadboard）+測試插座（Socket）等,。

下面對本發(fā)明的優(yōu)點或原理進行說明：使用本發(fā)明的芯片測試機進行芯片測試時，首先在自動上料裝置上放置多個tray盤,，每一個tray盤上均放滿或放置多個待測試芯片，同時在自動下料裝置和不良品放置臺上分別放置空的tray盤,。測試機啟動后，由移載裝置從自動上料裝置的tray盤中吸取待測試芯片移載至測試裝置進行測試,，芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中放置,。當自動上料裝置的一個tray盤中的芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中全部裝滿測試后的芯片后,，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置,。本發(fā)明的芯片測試機的結(jié)構(gòu)緊湊,，體積較小,，占地面積只為一平米左右,，可滿足小批量的芯片測試需求,。芯片測試機可以檢測芯片的電學(xué)參數(shù),，包括電流和電壓等,。

自動上料機構(gòu)42上料時,，將放滿待測芯片的多個tray盤上下疊放在頭一料倉41的第二移動底板47上，且位于較上層的tray盤位于頭一料倉41的開口部,。移載裝置20首先吸取位于較上層的tray盤中的芯片進行測試,，當位于較上層的tray盤中的芯片測試完成后,，將空的tray盤移載至自動下料機構(gòu)52。然后伺服電機43驅(qū)動滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動,，滾珠絲桿45通過頭一移動底板46帶動第二移動底板47向上移動,，帶動位于下方的tray盤向上移動，直至所有的tray盤中的芯片全部測試完成,。芯片測試機可以進行超時測試，用于測試芯片在極端條件下的穩(wěn)定性,。上海PD芯片測試機行價

芯片測試機可以檢測芯片的性能和缺陷,。海南芯片測試機廠家直銷

對于光學(xué)IC,，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能測試,。chiptest主要設(shè)備：探針平臺（包括夾持不同規(guī)格chip的夾具）。chiptest輔助設(shè)備：無塵室及其全套設(shè)備,。chiptest能測試的范圍和wafertest是差不多的,，由于已經(jīng)經(jīng)過了切割,、減薄工序,，還可以將切割,、減薄工序中損壞的不良品挑出來,。但chiptest效率比wafertest要低不少。packagetest是在芯片封裝成成品之后進行的測試,。由于芯片已經(jīng)封裝,，所以不再需要無塵室環(huán)境，測試要求的條件較大程度上降低,。海南芯片測試機廠家直銷

深圳市泰克光電科技有限公司位于深圳市寶安區(qū)新橋街道象山社區(qū)新玉路84號B棟3層,，擁有一支專業(yè)的技術(shù)團隊。在泰克光電近多年發(fā)展歷史,，公司旗下現(xiàn)有品牌TEC-PHO,SHIBUYA,Oh'TEC等,。公司堅持以客戶為中心、半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備,，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料的研發(fā)與銷售,，半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件開發(fā)及銷售；國內(nèi)貿(mào)易,、貨物及技術(shù)進出口,。（法律、行政法規(guī)決定禁止的項目除外,，限制的項目須取得許可后方可經(jīng)營）半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備,，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料，半導(dǎo)體器件檢測儀器的軟件生產(chǎn),。市場為導(dǎo)向,，重信譽，保質(zhì)量,，想客戶之所想,，急用戶之所急，全力以赴滿足客戶的一切需要,。誠實,、守信是對企業(yè)的經(jīng)營要求，也是我們做人的基本準則,。公司致力于打造***的探針臺,，芯片測試機,，藍膜編帶機,，分光編帶機,。