設備軟件：1.中英文軟件界面,，三級操作權限，各級操作權限可自由設定力值單位Kg,、g、N,，可根據(jù)測試需要進行選擇,。2.軟件可實時輸出測試結果的直方圖、力值曲線,，測試數(shù)據(jù)實時保存與導出功能,，測試數(shù)據(jù)并可實時連接MES系統(tǒng)軟件可設置標準值并直接輸出測試結果并自動對測試結果進行判定。3.SPC數(shù)據(jù)導出自帶當前導出數(shù)據(jù)值,、較小值,、平均值及CPK計算。傳感器精度：傳感器精度±0.003％,；綜合測試精度±0.25％測試傳感器量程自動切換,。測試精度：多點位線性精度校正，并用標準法碼進行重復性測試,，保證傳感器測試數(shù)據(jù)準確性,。軟件參數(shù)設置：根據(jù)各級權限可對合格力值、剪切高度,、測試速度等參數(shù)進行調(diào)節(jié),。測試平臺：真空360度自由旋轉(zhuǎn)測試平臺，適應于各種材料測試需求,，只需要更換相應的治具或壓板,，即可輕松實現(xiàn)多種材料的測試需求。芯片測試機支持多樣化的測試需求,，適用不同種類芯片的測試,。天津CMOS芯片測試機行價

動態(tài)測試原理（或者叫功能測試或叫跑pattern方式）,，使用動態(tài)測試法進行開短路測試比之前介紹的靜態(tài)測試法更快，成本也更低,，適合管腳比較多的芯片,，減少測試時間。使用測試機動態(tài)電流負載單元為前端偏置的 VDD 保護二極管提供電流,，通過輸出比較電平確定PASS區(qū)域（中間態(tài)或“Z”態(tài)）,。兩種測量方法對比：利用功能測試進行開短路測試的優(yōu)點是速度相對比較快；不利之處在于datalog所能顯示的結果信息有限,，當fail產(chǎn)生,，我們無法直接判斷失效的具體所在和產(chǎn)生原因。通常在測試中因為芯片引腳不多,，對時間影響不明顯,，大部分選擇靜態(tài)（DC測試）方法.天津CMOS芯片測試機行價在芯片測試機上進行的測試可以檢測到芯片的缺陷，如電壓偏移等,。

芯片測試座是一種電子元器件,，它是用來測試集成電路芯片的設備，它可以用來測試和檢查電路芯片的性能,，以確保其達到規(guī)定的標準,。芯片測試座的基本結構包括主體機架、測試頭,、測試模塊,、放大器和控制器等部件組成。 芯片測試座一般用于測試電路芯片的性能,，包括電源參數(shù),、噪聲性能、抗干擾性能,、靜態(tài)特性和動態(tài)特性等,。通常，芯片測試座由多個測試頭組成,，每個測試頭可以提供不同的測試功能,。芯片測試座的工作原理是，通過測試頭將測試信號輸入到芯片,，然后將芯片的輸出結果和規(guī)定的標準進行對比,。

對于光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能測試,。chiptest主要設備：探針平臺（包括夾持不同規(guī)格chip的夾具）,。chiptest輔助設備：無塵室及其全套設備。chiptest能測試的范圍和wafertest是差不多的，由于已經(jīng)經(jīng)過了切割,、減薄工序,，還可以將切割、減薄工序中損壞的不良品挑出來,。但chiptest效率比wafertest要低不少,。packagetest是在芯片封裝成成品之后進行的測試。由于芯片已經(jīng)封裝,，所以不再需要無塵室環(huán)境,，測試要求的條件較大程度上降低。芯片測試機還可以進行電壓測試以測試電壓飽和和開路,。

晶圓測試是效率Z高的測試,，因為一個晶圓上常常有幾百個到幾千個甚至上萬個芯片，而這所有芯片可以在測試平臺上一次性測試,。chiptest是在晶圓經(jīng)過切割,、減薄工序，成為一片片單獨的chip之后的測試,。其設備通常是測試廠商自行開發(fā)制造或定制的,，一般是將晶圓放在測試平臺上，用探針探到芯片中事先確定的測試點,，探針上可以通過直流電流和交流信號,，可以對其進行各種電氣參數(shù)測試。chiptest和wafertest設備Z主要的區(qū)別是因為被測目標形狀大小不同因而夾具不同,。芯片測試機能夠快速識別芯片的問題，并提供快速修復方案,。深圳CMOS芯片測試機定制

芯片測試機可用于快速排除芯片制造中的錯誤,。天津CMOS芯片測試機行價

伺服電機43、行星減速機44均固定于頭一料倉41或第二料倉51的底部,，滾珠絲桿45,、頭一移動底板46、第二移動底板47及兩個導向軸48均固定于頭一料倉41或第二料倉51的內(nèi)部,，伺服電機43的驅(qū)動主軸與行星減速機44相連,，行星減速機44通過聯(lián)軸器與滾珠絲桿45相連。頭一料倉41,、第二料倉51的上方設有絲桿固定板49,，滾珠絲桿45的底部通過絲桿固定座451固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上，滾珠絲桿45的頂部通過絲桿固定座451固定于絲桿固定板49上,。兩個導向軸48的底部也固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上,，兩個導向軸48的頂部也固定于絲桿固定板49上。滾珠絲桿45及兩個導向軸48分別與頭一移動底板46相連，頭一移動底板46與第二移動底板47相連,。天津CMOS芯片測試機行價