半自動型，chuck尺寸800mm/600mm,；X,Y電動移動行程200mm/150mm,；chuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm,；可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡,；針座擺放個(gè)數(shù)6~8顆；顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2",；可搭配Probe card測試,；適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品,；電動型,；chuck尺寸1200mm，平坦度土1u(不銹鋼或鍍金),；X,Y電動移動行程300mm x 300mm,；chuck粗調(diào)升降9mm,，微調(diào)升降16mm,，微調(diào)精度土1u,；可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡。探針臺的科學(xué)研究成果對推動人類的科學(xué)技術(shù)進(jìn)步有著舉足輕重的作用,。電學(xué)溫控探針臺價(jià)位

全球半導(dǎo)體設(shè)備支出進(jìn)入上升周期,。5G、物聯(lián)網(wǎng),、大數(shù)據(jù),、人工智能以及汽車電 子等新技術(shù)和新產(chǎn)品的應(yīng)用，將帶來龐大的半導(dǎo)體市場需求,，行業(yè)將進(jìn)入新一輪的 上升周期,。半導(dǎo)體設(shè)備位于產(chǎn)業(yè)鏈的上游，其市場規(guī)模隨著下游半導(dǎo)體的技術(shù)發(fā)展 和市場需求而波動,。根據(jù) SEMI 預(yù)測,，2020 年全球半導(dǎo)體設(shè)備市場規(guī)模達(dá)創(chuàng)紀(jì)錄 的 689 億美元，同比增長 16%,，2021 年將達(dá) 719 億美元,，同比增長 4.4%，2022 年仍舊保持增長態(tài)勢,，市場將達(dá) 761 億美元,，同比增長 5.8%。電學(xué)溫控探針臺價(jià)位探針臺的科技成果對推進(jìn)全球科學(xué)事業(yè),、推動人類文明進(jìn)步發(fā)揮著重要的作用,。

隨著5G、汽車?yán)走_(dá)等技術(shù)的發(fā)展,，在片測試也進(jìn)入了亞毫米波/太赫茲頻段,，對在片測試技術(shù)提出了更高的挑戰(zhàn)。在片測量系統(tǒng)：微波射頻在片測量系統(tǒng)一般由射頻/微波測量儀器和探針臺及附件組成,。 微波射頻在片測量系統(tǒng)中,，探針臺和探針用于芯片測量端口與射頻測量儀器端口（同軸或波導(dǎo)）之間的適配；微波射頻測量儀器完成各項(xiàng)所需的射頻測量,。探針臺（Probe Station）：探針臺是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一,，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量,，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。通過與測試儀器的配合,，探針臺將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來,，在進(jìn)入后序工序前予以剔除,，較大程度上降低器件的制造成本。探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測,、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用,。

8英寸手動探針臺使用方式：1、將樣品載入真空卡盤,，開啟真空閥門控制開關(guān),，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2,、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3,、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點(diǎn)移動至顯微鏡下,。4、顯微鏡切換為高倍率物鏡,，在大倍率下找到待測點(diǎn),，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,，帶測點(diǎn)在顯微鏡視場中心,。5、待測點(diǎn)位置確認(rèn)好后,，再調(diào)節(jié)探針座的位置,，將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點(diǎn)的位置旁邊，再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,，慢慢的將探針移至被測點(diǎn),，此時(shí)動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片,，當(dāng)探針針尖懸空于被測點(diǎn)上空時(shí),，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針,，然后則使用X軸旋鈕左右滑動,，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸,。6,、確保針尖和被測點(diǎn)接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試,。探針臺可以通過觀測宇宙現(xiàn)象來解開地球和人類的謎團(tuán),。

探針臺(Prober station)又稱探針測試臺，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個(gè)測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,，并提供多個(gè)可調(diào)測試針以及探針座,，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流,、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析,，抽查測試等用途,。探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)得研發(fā)，生產(chǎn)制造,，失效分析等,，是對晶圓(Wafer)上得器件進(jìn)行電特性測試或故障分析而使用得精密機(jī)臺，通過探針臺能很好得幫助工程技術(shù)人員實(shí)現(xiàn)微小位置得電學(xué)參數(shù)測試,。探針臺的發(fā)展需要國際合作和共同努力,。安徽X8M探針臺廠家直銷

探針臺是人類探索宇宙、了解自身的一所寶庫,。電學(xué)溫控探針臺價(jià)位

讓一個(gè)好的探針臺與眾不同并為您的測試增加價(jià)值的是它能夠精確控制這些探針在設(shè)備上的位置,、外部刺激的應(yīng)用方式以及測試發(fā)生時(shí)設(shè)備周圍的環(huán)境條件。探針臺由六個(gè)基本組件組成：Chuck – 一種用于固定晶片或裸片而不損壞它的裝置,。載物臺 – 用于將卡盤定位在 X,、Y、Z 和 Theta (θ) 上,。機(jī)械手——用于將探頭定位在被測設(shè)備 (DUT) 上,。壓板 - 用于固定操縱器并使探針與設(shè)備接觸。探頭先進(jìn)和臂 - 安裝在機(jī)械手上,，它們直接接觸設(shè)備,。光學(xué) - 用于查看和放大被測設(shè)備和探頭先進(jìn)。電學(xué)溫控探針臺價(jià)位