做一款芯片較基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計->流片->封裝->測試,，芯片成本構(gòu)成一般為人力成本20%,，流片40%,，封裝35%,，測試5% 測試其實是芯片各個環(huán)節(jié)中較“便宜”的一步,，在這個每家公司都喊著“Cost Down”的激烈市場中,，人力成本逐年攀升,，晶圓廠和封裝廠都在乙方市場中“叱咤風云”,，唯獨只有測試顯得不那么難啃，Cost Down的算盤落到了測試的頭上,。但仔細算算,，測試省50%，總成本也只省2.5%,，流片或封裝省15%,，測試就相當于不收費了。但測試是產(chǎn)品質(zhì)量然后一關(guān),，若沒有良好的測試,，產(chǎn)品PPM過高，退回或者賠償都遠遠不是5%的成本能表示的,。不同的性能指標需要對應的測試方案才能完成芯片質(zhì)量的篩選,。湖北多功能芯片測試機市價
本發(fā)明在另一實施例中公開一種芯片測試機的測試方法。該測試方法包括以下步驟：將多個待測試芯片放置于多個tray盤中,，每一個tray盤中放置多個待測試芯片,，將多個tray盤放置于自動上料裝置，并在自動下料裝置及不良品放置臺上分別放置一個空tray盤,；移載裝置從自動上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進行測試,；芯片測試完成后，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動下料裝置的空tray盤中,，將不良品移載至不良品放置臺的空tray盤中,；當自動上料裝置的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試，且自動下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,，移載裝置將自動上料裝置的空tray盤移載至自動下料裝置,。湖北多功能芯片測試機市價Function TEST: 測試芯片的邏輯功能。
s4：當自動上料裝置40的一個tray盤中的待測試芯片全部完成測試,，且自動下料裝置50的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,，移載裝置20將自動上料裝置40的空tray盤移載至自動下料裝置50。當自動上料裝置40的位于較上方的tray盤中的50個芯片全部完成測試后,，且該50個芯片全部都是合格品,，則此時自動下料裝置50的tray盤中放滿50個測試合格的芯片。則通過移載裝置20將自動上料裝置40的孔的tray盤移載至自動下料裝置50上,，且將該tray盤放置于自動下料裝置50的放置有50個芯片的tray盤的上方,。
當芯片進行高溫測試時，為了提供加熱的效率,，本實施例的加熱裝置還包括預加熱緩存機構(gòu)90,，預加熱緩存機構(gòu)90位于自動上料裝置40與測試裝置30之間。預加熱緩存機構(gòu)90包括預加熱墊板91,、隔離板92,、加熱器93、導熱板94及預加熱工作臺95,。預加熱墊板91固定于支撐板12上,，隔離板92固定于預加熱墊板91的上表面，加熱器93固定于隔離板92上,，且加熱器93位于隔離板92與導熱板94之間,，預加熱工作臺95固定于導熱板94的上表面，預加熱工作臺95上設(shè)有多個預加熱工位96,。如果設(shè)計有錯誤則無法測試,，需要重新拆裝電路甚至燒壞芯片或設(shè)備。
本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測試機及芯片測試方法,，本發(fā)明的芯片測試機的結(jié)構(gòu)緊湊,、體積較小，占地面積只一平米左右,，可以滿足小批量的芯片測試要求,。其技術(shù)方案如下：本發(fā)明在一實施例中公開了一種芯片測試機。該芯片測試機包括機架,，以及設(shè)置于機架上的移載裝置,、測試裝置、自動上料裝置,、自動下料裝置及不良品放置臺,，所述自動上料裝置包括頭一料倉及自動上料機構(gòu),，所述自動上料機構(gòu)在所述頭一料倉內(nèi)上下移動；所述自動下料機構(gòu)包括第二料倉及自動下料機構(gòu),，所述自動下料機構(gòu)在所述第二料倉內(nèi)上下移動,，所述移載裝置位于所述自動上料裝置、自動下料裝置,、測試裝置及不良品放置臺的上方,，所述移載裝置將自動上料裝置的待測試芯片移動至測試裝置，并將測試完成的芯片移動至自動下料裝置或不良品放置臺,，所述移載裝置還將自動上料裝置的空tray盤移動至自動下料裝置,。芯片測試原理是指在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理。江蘇晶圓芯片測試機市價
芯片測試是通過特制的測試儀器,將預定信號注入被測試的芯片引腳上,然后檢測芯片輸出端口的響應情況,。湖北多功能芯片測試機市價
CP測試內(nèi)容和測試方法：1,、SCAN，SCAN用于檢測芯片邏輯功能是否正確,。DFT設(shè)計時,，先使用DesignCompiler插入ScanChain，再利用ATPG（Automatic Test Pattern Generation）自動生成SCAN測試向量,。SCAN測試時,，先進入Scan Shift模式，ATE將pattern加載到寄存器上,，再通過Scan Capture模式,，將結(jié)果捕捉。再進入下次Shift模式時,，將結(jié)果輸出到ATE進行比較,。2、Boundary SCAN,，Boundary SCAN用于檢測芯片管腳功能是否正確,。與SCAN類似，Boundary SCAN通過在IO管腳間插入邊界寄存器（Boundary Register）,，使用JTAG接口來控制,，監(jiān)測管腳的輸入輸入出狀態(tài)。湖北多功能芯片測試機市價