Probe Card---乃是Tester與wafer上的DUT之間其中一個連接介面，目的在連接Tester Channel 與待測DUT,。大部分為鎢銅或鈹銅,，也有鈀等其他材質(zhì)；材質(zhì)的選擇需要強度高,、導電性及不易氧化等特性,，樣子如下面所示。當 probe card 的探針正確接觸wafer內(nèi)一顆 die的每個bond pads后, 送出start信號通過Interface給tester開始測試, tester完成測試送回分類訊號 ( End of test) 給Prober, 量產(chǎn)時必須 tester 與 prober 做連接(docking) 才能測試,。較終測試(FT,或者封裝測試)：就是在圖（3）中的Package Device上進行測試.下圖就是一個完整的FT的測試系統(tǒng),。對比wafer test，其中硬件部分,，prober換成了handler,，其作用是一樣的，handler的主要作用是機械手臂,，抓取DUT,，放在測試區(qū)域，由tester對其進行測試,，然后handler再根據(jù)tester的測試結(jié)果,，抓取DUT放到相應的區(qū)域，比如好品區(qū),，比如壞品1類區(qū),，壞品2類區(qū)等。Open/Short Test: 檢查芯片引腳中是否有開路或短路,。廣東常規(guī)倒裝芯片測試機廠家

測試相關(guān)的各種名詞：ATE-----------Automatic Test Equipment,自動化測試設備,，是一個高性能計算機控制的設備的集中，可以實現(xiàn)自動化的測試,。Tester---------測試機,，是由電子系統(tǒng)組成，這些系統(tǒng)產(chǎn)生信號,，建立適當?shù)臏y試模式,，正確地按順序設置，然后使用它們來驅(qū)動芯片本身,，并抓取芯片的輸出反饋,，或者進行記錄，或者和測試機中預期的反饋進行比較,，從而判斷好品和壞品,。Test Program---測試程序,，測試機通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件,，我們統(tǒng)稱已經(jīng)放在測試系統(tǒng)中,，等待測試的器件為DUT。北京常規(guī)倒裝芯片測試機廠商芯片測試機是一種用于檢測芯片表面缺陷的設備,。

芯片測試設備利用基于數(shù)字信號處理（DSP）的測試技術(shù)來測試混合信號芯片與傳統(tǒng)的測試技術(shù)相比有許多優(yōu)勢,。芯片測試設備由于能并行地進行參數(shù)測試，所以能減少測試時間,；由于能把各個頻率的信號分量區(qū)分開來（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來）,，所以能增加測試的精度和可重復性。由于擁有很多陣列處理函數(shù),，比如說求平均數(shù)等,，這對混合信號測試非常有用。芯片測試設備運行原理如上所示,，為了測試大規(guī)模的芯片以及集成電路,，用戶需要對芯片測試設備的運行原理了解清楚更有利于芯片測試設備的選擇。

測試如何體現(xiàn)在設計的過程中,，下圖表示的是設計公司在進行一個新的項目的時候的一般流程,，從市場需求出發(fā)，到產(chǎn)品tape out進行制造,，包含了系統(tǒng)設計,、邏輯設計、電路設計,、物理設計,，到然后開始投入制造。較下面一欄標注了各個設計環(huán)節(jié)中對于測試的相關(guān)考慮,，從測試架構(gòu),、測試邏輯設計、測試模式產(chǎn)生,、到各種噪聲/延遲/失效模式綜合,、進而產(chǎn)生測試pattern，然后在制造完成后進行測試,，對測試數(shù)據(jù)進行分析,，從而分析失效模式，驗證研發(fā),。對于芯片來說,，有兩種類型的測試，抽樣測試和生產(chǎn)全測,。

測試計劃書：就是test plan,需要仔細研究產(chǎn)品規(guī)格書,，根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格書來書寫測試計劃書,，具體的需要包含下面這些信息：a)DUT的信息，具體的每個pad或者pin的信息,，CP測試需要明確每個bond pads的坐標及類型信息,，F(xiàn)T測試需要明確封裝類型及每個pin的類型信息。b)測試機要求,，測試機的資源需求,，比如電源數(shù)量需求、程序的編寫環(huán)境,、各種信號資源數(shù)量、精度如何這些,，還需要了解對應的測試工廠中這種測試機的數(shù)量及產(chǎn)能,，測試機費用這些。c)各種硬件信息,，比如CP中的probe card, FT中的load board的設計要求,，跟測試機的各種信號資源的接口。d)芯片參數(shù)測試規(guī)范,，具體的測試參數(shù),，每個測試項的測試條件及參數(shù)規(guī)格，這個主要根據(jù)datasheet中的規(guī)范來確認,。e)測試項目開發(fā)計劃,，規(guī)定了具體的細節(jié)以及預期完成日期，做到整個項目的可控制性和效率,。芯片測試機是一種用于檢測半導體芯片性能和缺陷的設備,。廣東Prober芯片測試機廠商

測試本身就是設計，這個是需要在起初就設計好,，對于設計公司來說,，測試至關(guān)重要，不亞于電路設計本身,。廣東常規(guī)倒裝芯片測試機廠家

壓縮蒸汽制冷循環(huán)采用低沸點物質(zhì)作制冷劑,，利用在濕蒸汽區(qū)定壓即定溫的特性，在低溫下定壓氣化吸熱制冷,，可以克服上述壓縮空氣,、回熱壓縮空氣循環(huán)的部分缺點。芯片高低溫測試機吸收式制冷循環(huán)：吸收式制冷循環(huán)利用制冷劑在溶液中不同溫度下具有不同溶解度的特性,，使制冷劑在較低的溫度和壓力下被吸收劑吸收,，同時又使它在較高的溫度和壓力下從溶液中蒸發(fā)，完成循環(huán)實現(xiàn)制冷目的,。芯片高低溫測試機是可供各種行業(yè)使用,，比如：制藥,、化工、工業(yè),、研究所,、高校等行業(yè)中使用，當然,，無錫晟澤的其他制冷加熱控溫設備使用的范圍也比較廣,。廣東常規(guī)倒裝芯片測試機廠家