數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量,，可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路,、中規(guī)模集成(MSI)電路,、大規(guī)模集成(LSI)電路、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路,。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內(nèi),，或元器件數(shù)不超過100個；中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間,，或元器件數(shù)在100-1000個之間,；大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上，或元器件數(shù)在10-10個之間,；超大規(guī)模集成電路包含的門電路在1萬個以上,，或元器件數(shù)在10-10之間,；特大規(guī)模集成電路的元器件數(shù)在10-10之間。它包括：基本邏輯門,、觸發(fā)器,、寄存器、譯碼器,、驅(qū)動器,、計數(shù)器、整形電路,、可編程邏輯器件,、微處理器、單片機,、DSP等,。安防行業(yè)很多工程維護維修技術(shù)也實際是來自于家電的維護維修技術(shù)。楊浦區(qū)各地電子元器件

測量標(biāo)稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同,，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實際值,。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時應(yīng)注意以下幾點：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的,，所以用萬用表測量Rt時,，亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時進行，以保證測試的可信度,。B測量功率不得超過規(guī)定值,，以免電流熱效應(yīng)引起測量誤差。C注意正確操作,。測試時,，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響,。估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1,，再用電烙鐵作熱源，靠近熱敏電阻Rt,，測出電阻值RT2,，同時用溫度計測出此時熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進行計算。壓敏電阻的檢測,。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻,，均為無窮大,，否則，說明漏電流大,。若所測電阻很小,，說明壓敏電阻已損壞,，不能使用。金山區(qū)國內(nèi)電子元器件產(chǎn)品電感器在電子制作中雖然使用得不是很多,，但它們在電路中同樣重要,。

電子元器件發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末,、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù),，二十世紀(jì)發(fā)展迅速，應(yīng)用,，成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個重要標(biāo)志,。電子元器件1906年，美國發(fā)明家德福雷斯特（DeForestLee）發(fā)明了真空三極管（電子管）,。代電子產(chǎn)品以電子管為,。四十年代末世界上誕生了只半導(dǎo)體三極管，它以小巧,、輕便,、省電,、壽命長等特點,，很快地被各國應(yīng)用起來，在很大范圍內(nèi)取代了電子管,。五十年代末期,，世界上出現(xiàn)了塊集成電路，它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上,，使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展,。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路，從而使電子產(chǎn)品向著高效能低消耗,、高精度,、高穩(wěn)定、智能化的方向發(fā)展,。由于,，電子計算機發(fā)展經(jīng)歷的四個階段恰好能夠充分說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特性，所以下面就從電子計算機發(fā)展的四個時代來說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特點,。

三極管在中文含義里面只是對三個腳的放大器件的統(tǒng)稱,，我們常說的三極管，可能有多種器件,?？梢钥吹剑m然都叫三極管,，其實在英文里面的說法是千差萬別的,，三極管這個詞匯其實也是中文特有的一個象形意義上的的詞匯電子三極管Triode這個是英漢字典里面“三極管”這個詞匯的英文翻譯,，這是和電子三極管早出現(xiàn)有關(guān)系的，所以先入為主,，也是真正意義上的三極管這個詞初所指的物品,。其余的那些被中文里叫做三極管的東西，實際翻譯的時候是不可以翻譯成Triode的,，否則就麻煩大咯,，電感在電路中常用“L”加數(shù)字表示，如：L6表示編號為6的電感,。電感線圈是將絕緣的導(dǎo)線在絕緣的骨架上繞一定的圈數(shù)制成,。直流可通過線圈，直流電阻就是導(dǎo)線本身的電阻,，壓降很小,。人們強烈地期待著能夠誕生一種固體器件，用來作為質(zhì)量輕,、價廉和壽命長的放大器和電子開關(guān),。

熔斷電阻器的檢測。在電路中,，當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后,，可根據(jù)經(jīng)驗作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦，可斷定是其負(fù)荷過重,，通過它的電流超過額定值很多倍所致,；如果其表面無任何痕跡而開路，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值,。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準(zhǔn)確,，應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下,。若測得的阻值為無窮大，則說明此熔斷電阻器已失效開路,，若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),，表明電阻變值，也不宜再使用,。在維修實踐中發(fā)現(xiàn),，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象，檢測時也應(yīng)予以注意,。電位器的檢測,。檢查電位器時，首先要轉(zhuǎn)動旋柄,，看看旋柄轉(zhuǎn)動是否平滑,，開關(guān)是否靈活，開關(guān)通,、斷時“喀噠”聲是否清脆,，并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點和電阻體摩擦的聲音，如有“沙沙”聲,，說明質(zhì)量不好,。電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模。閔行區(qū)制作電子元器件

電子元器件的發(fā)展歷史實際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史,。楊浦區(qū)各地電子元器件

隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù),、晶體外誕生長技術(shù)和擴散摻雜技術(shù)、耐壓氧化膜的制備技術(shù),、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn)，電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時代,。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè)。由于社會發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來越復(fù)雜,，這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕,、小型化、成本低等特點,。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,，由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計等綜合技術(shù)的進步,，在20世紀(jì)60年代研制成功了代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義：它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術(shù)和計算機的進步,，使科學(xué)研究的各個領(lǐng)域以及工業(yè)社會的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。楊浦區(qū)各地電子元器件

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