數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量,可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路,、中規(guī)模集成(MSI)電路、大規(guī)模集成(LSI)電路、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內(nèi),,或元器件數(shù)不超過100個;中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間,,或元器件數(shù)在100-1000個之間,;大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上,,或元器件數(shù)在10-10個之間,;超大規(guī)模集成電路包含的門電路在1萬個以上,或元器件數(shù)在10-10之間,;特大規(guī)模集成電路的元器件數(shù)在10-10之間,。它包括:基本邏輯門、觸發(fā)器,、寄存器,、譯碼器、驅動器,、計數(shù)器,、整形電路、可編程邏輯器件,、微處理器,、單片機、DSP等,。此后,,人們提出了場效應晶體管的構想。虹口區(qū)常見電子元器件質(zhì)量服務
電子元器件的檢測是家電維修的一項基本功,,安防行業(yè)很多工程維護維修技術也實際是來自于家電的維護維修技術,,或是借鑒或同質(zhì)。如何準確有效地檢測元器件的相關參數(shù),,判斷元器件的是否正常,,不是一件千篇一律的事,必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,,從而判斷元器件的正常與否,。特別對初學者來說,,熟練掌握常用元器件的檢測方法和經(jīng)驗很有必要,以下對常用電子元器件的檢測經(jīng)驗和方法進行介紹供對考,。將兩表筆(不分正負)分別與電阻的兩端引腳相接即可測出實際電阻值,。為了提高測量精度,應根據(jù)被測電阻標稱值的大小來選擇量程,。由于歐姆擋刻度的非線性關系,,它的中間一段分度較為精細,因此應使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內(nèi),,以使測量更準確。根據(jù)電阻誤差等級不同,。讀數(shù)與標稱阻值之間分別允許有±5%,、±10%或±20%的誤差。如不相符,,超出誤差范圍,,則說明該電阻值變值了。長寧區(qū)制作電子元器件專業(yè)服務電子元器件的檢測是家電維修的一項基本功,。
場效應晶體管具有較高輸入阻抗和低噪聲等優(yōu)點,,因而也被應用于各種電子設備中。尤其用場效應管做整個電子設備的輸入級,,可以獲得一般晶體管很難達到的性能,。場效應管與晶體管的比較(1)場效應管是電壓控制元件,而晶體管是電流控制元件,。在只允許從信號源取較少電流的情況下,,應選用場效應管;而在信號電壓較低,,又允許從信號源取較多電流的條件下,,應選用晶體管。(2)場效應管是利用多數(shù)載流子導電,,所以稱之為單極型器件,,而晶體管是即有多數(shù)載流子,也利用少數(shù)載流子導電,。被稱之為雙極型器件,。(3)有些場效應管的源極和漏極可以互換使用,柵壓也可正可負,,靈活性比晶體管好,。(4)場效應管能在很小電流和很低電壓的條件下工作,而且它的制造工藝可以很方便地把很多場效應管集成在一塊硅片上,因此場效應管在大規(guī)模集成電路中得到了的應用,。
光電子器件組裝的自動化技術將是降低光電子器件成本的關鍵,。手工組裝是限制光電子器件的成本進一步下降的主要因素。自動化組裝可以降低人力成本,、提高產(chǎn)量和節(jié)約生產(chǎn)場地,,因此光電子器件組裝的自動化技術的研究將是降低光電子器件成本的關鍵。由于光電子器件自動化組裝的精度在亞微米量級,,自動化組裝生產(chǎn)一直被認為是很困難的事,,但有很大突破。國外的學術期刊已多次報道在VCSEL,、新型光學準直器件和自對準等技術進步基礎上,,光器件自動化組裝實現(xiàn)的突破,同時專門針對自動化組裝的光電子器件設計也正在興起,。2002年OFC展覽會上有十多家自動封裝,、自動熔接設備廠商參展,熔接,、對準,、壓焊等許多認為只能由人工操作的工藝都能由機械手進行。據(jù)ElectroniCast預測,,到2005年自動化組裝與測試設備的銷量將達,,光電子器件產(chǎn)值中的70%~80%將由全自動或半自動化組裝生產(chǎn),可以說自動化生產(chǎn)線的出現(xiàn)是光電子行業(yè)開始走向成熟的標志和發(fā)展的必然,。這種點接觸型晶體管在構造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點,。
在20世紀出現(xiàn)并得到飛速發(fā)展的電子元器件工業(yè)使整個世界和人們的工作、生活習慣發(fā)生了翻天覆地的變化,。電子元器件的發(fā)展歷史實際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史,。1906年美國人德福雷斯特發(fā)明真空三極管,用來放大電話的聲音電流,。此后,,人們強烈地期待著能夠誕生一種固體器件,用來作為質(zhì)量輕,、價廉和壽命長的放大器和電子開關,。1947年,點接觸型鍺晶體管的誕生,,在電子器件的發(fā)展史上翻開了新的一頁,。但是,這種點接觸型晶體管在構造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點,。在點接觸型晶體管開發(fā)成功的同時,,結型晶體管論就已經(jīng)提出,但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導電類型以后,,結型晶體管材真正得以出現(xiàn),。1950年,,具有使用價值的是早的鍺合金型晶體管誕生。1954年,,結型硅晶體管誕生,。此后,人們提出了場效應晶體管的構想,。人們強烈地期待著能夠誕生一種固體器件,,用來作為質(zhì)量輕、價廉和壽命長的放大器和電子開關,。上海常見電子元器件質(zhì)量服務
電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模,。虹口區(qū)常見電子元器件質(zhì)量服務
檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”,、“2”(或“2”,、“3”)兩端,將電位器的轉軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置,,這時電阻值越小越好,。再順時針慢慢旋轉軸柄,電阻值應逐漸增大,,表頭中的指針應平穩(wěn)移動,。當軸柄旋至極端位置“3”時,阻值應接近電位器的標稱值,。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉動過程中有跳動現(xiàn)象,,說明活動觸點有接觸不良的故障。常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃),;將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,,并與標稱阻值相對比,二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常,。實際阻值若與標稱阻值相差過大,,則說明其性能不良或已損壞。加溫檢測,;在常溫測試正常的基礎上,,即可進行第二步測試—加溫檢測,將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱,,同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,,如是,說明熱敏電阻正常,,若阻值無變化,,說明其性能變劣,不能繼續(xù)使用。虹口區(qū)常見電子元器件質(zhì)量服務
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