檢測(cè)電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接觸是否良好。用萬(wàn)用表的歐姆檔測(cè)“1”,、“2”(或“2”,、“3”)兩端，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時(shí)針?lè)较蛐两咏瓣P(guān)”的位置,，這時(shí)電阻值越小越好,。再順時(shí)針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄，電阻值應(yīng)逐漸增大,，表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動(dòng),。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時(shí)，阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱值,。如萬(wàn)用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中有跳動(dòng)現(xiàn)象,，說(shuō)明活動(dòng)觸點(diǎn)有接觸不良的故障。常溫檢測(cè)(室內(nèi)溫度接近25℃),；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測(cè)出其實(shí)際阻值,，并與標(biāo)稱阻值相對(duì)比,，二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過(guò)大,，則說(shuō)明其性能不良或已損壞,。加溫檢測(cè)；在常溫測(cè)試正常的基礎(chǔ)上,，即可進(jìn)行第二步測(cè)試—加溫檢測(cè),，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對(duì)其加熱，同時(shí)用萬(wàn)用表監(jiān)測(cè)其電阻值是否隨溫度的升高而增大,，如是,，說(shuō)明熱敏電阻正常，若阻值無(wú)變化,，說(shuō)明其性能變劣,，不能繼續(xù)使用。電子元器件逐步從真空管時(shí)代進(jìn)入晶體管時(shí)代和大規(guī)模,。長(zhǎng)寧區(qū)產(chǎn)地電子設(shè)備圖片

電子元器件的檢測(cè)是家電維修的一項(xiàng)基本功,，安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實(shí)際是來(lái)自于家電的維護(hù)維修技術(shù)，或是借鑒或同質(zhì),。如何準(zhǔn)確有效地檢測(cè)元器件的相關(guān)參數(shù),，判斷元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事,，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,，從而判斷元器件的正常與否。特別對(duì)初學(xué)者來(lái)說(shuō),，熟練掌握常用元器件的檢測(cè)方法和經(jīng)驗(yàn)很有必要,，以下對(duì)常用電子元器件的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和方法進(jìn)行介紹供對(duì)考。將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳相接即可測(cè)出實(shí)際電阻值,。為了提高測(cè)量精度,，應(yīng)根據(jù)被測(cè)電阻標(biāo)稱值的大小來(lái)選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系,，它的中間一段分度較為精細(xì)，因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,，即全刻度起始的20%～80%弧度范圍內(nèi),，以使測(cè)量更準(zhǔn)確。根據(jù)電阻誤差等級(jí)不同,。讀數(shù)與標(biāo)稱阻值之間分別允許有±5%,、±10%或±20%的誤差。如不相符,，超出誤差范圍,，則說(shuō)明該電阻值變值了,。嘉定區(qū)什么是電子設(shè)備圖片此后，人們提出了場(chǎng)效應(yīng)晶體管的構(gòu)想,。

隨著無(wú)缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù),、晶體外誕生長(zhǎng)技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù)、耐壓氧化膜的制備技術(shù),、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn)，電子元器件逐步從真空管時(shí)代進(jìn)入晶體管時(shí)代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時(shí)代,。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè)。由于社會(huì)發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來(lái)越復(fù)雜,，這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕,、小型化、成本低等特點(diǎn),。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,，由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計(jì)等綜合技術(shù)的進(jìn)步,，在20世紀(jì)60年代研制成功了代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時(shí)代的意義：它的誕生和發(fā)展推動(dòng)了銅芯技術(shù)和計(jì)算機(jī)的進(jìn)步,，使科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域以及工業(yè)社會(huì)的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。

光電子器件組裝的自動(dòng)化技術(shù)將是降低光電子器件成本的關(guān)鍵。手工組裝是限制光電子器件的成本進(jìn)一步下降的主要因素,。自動(dòng)化組裝可以降低人力成本,、提高產(chǎn)量和節(jié)約生產(chǎn)場(chǎng)地，因此光電子器件組裝的自動(dòng)化技術(shù)的研究將是降低光電子器件成本的關(guān)鍵,。由于光電子器件自動(dòng)化組裝的精度在亞微米量級(jí),，自動(dòng)化組裝生產(chǎn)一直被認(rèn)為是很困難的事，但有很大突破,。國(guó)外的學(xué)術(shù)期刊已多次報(bào)道在VCSEL,、新型光學(xué)準(zhǔn)直器件和自對(duì)準(zhǔn)等技術(shù)進(jìn)步基礎(chǔ)上，光器件自動(dòng)化組裝實(shí)現(xiàn)的突破,，同時(shí)專門針對(duì)自動(dòng)化組裝的光電子器件設(shè)計(jì)也正在興起,。2002年OFC展覽會(huì)上有十多家自動(dòng)封裝、自動(dòng)熔接設(shè)備廠商參展，熔接,、對(duì)準(zhǔn),、壓焊等許多認(rèn)為只能由人工操作的工藝都能由機(jī)械手進(jìn)行。據(jù)ElectroniCast預(yù)測(cè),，到2005年自動(dòng)化組裝與測(cè)試設(shè)備的銷量將達(dá),，光電子器件產(chǎn)值中的70%~80%將由全自動(dòng)或半自動(dòng)化組裝生產(chǎn),可以說(shuō)自動(dòng)化生產(chǎn)線的出現(xiàn)是光電子行業(yè)開始走向成熟的標(biāo)志和發(fā)展的必然。數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。

熔斷電阻器的檢測(cè),。在電路中，當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后,，可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦,，可斷定是其負(fù)荷過(guò)重，通過(guò)它的電流超過(guò)額定值很多倍所致,；如果其表面無(wú)任何痕跡而開路,，則表明流過(guò)的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值。對(duì)于表面無(wú)任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,，可借助萬(wàn)用表R×1擋來(lái)測(cè)量,，為保證測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下,。若測(cè)得的阻值為無(wú)窮大,，則說(shuō)明此熔斷電阻器已失效開路，若測(cè)得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),，表明電阻變值,，也不宜再使用。在維修實(shí)踐中發(fā)現(xiàn),，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,，檢測(cè)時(shí)也應(yīng)予以注意。電位器的檢測(cè),。檢查電位器時(shí),，首先要轉(zhuǎn)動(dòng)旋柄，看看旋柄轉(zhuǎn)動(dòng)是否平滑,，開關(guān)是否靈活,，開關(guān)通、斷時(shí)“喀噠”聲是否清脆,，并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點(diǎn)和電阻體摩擦的聲音,，如有“沙沙”聲，說(shuō)明質(zhì)量不好,。具有使用價(jià)值的是早的鍺合金型晶體管誕生,。奉賢區(qū)高產(chǎn)電子設(shè)備圖片

電子元器件的發(fā)展歷史實(shí)際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史。長(zhǎng)寧區(qū)產(chǎn)地電子設(shè)備圖片

測(cè)量標(biāo)稱電阻值Rt用萬(wàn)用表測(cè)量NTC熱敏電阻的方法與測(cè)量普通固定電阻的方法相同,，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測(cè)出Rt的實(shí)際值,。但因NTC熱敏電阻對(duì)溫度很敏感，故測(cè)試時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時(shí)所測(cè)得的,，所以用萬(wàn)用表測(cè)量Rt時(shí),，亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時(shí)進(jìn)行，以保證測(cè)試的可信度,。B測(cè)量功率不得超過(guò)規(guī)定值,，以免電流熱效應(yīng)引起測(cè)量誤差。C注意正確操作,。測(cè)試時(shí),，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響,。估測(cè)溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測(cè)得電阻值Rt1,，再用電烙鐵作熱源，靠近熱敏電阻Rt,，測(cè)出電阻值RT2,，同時(shí)用溫度計(jì)測(cè)出此時(shí)熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計(jì)算。壓敏電阻的檢測(cè),。用萬(wàn)用表的R×1k擋測(cè)量壓敏電阻兩引腳之間的正,、反向絕緣電阻，均為無(wú)窮大,，否則,，說(shuō)明漏電流大。若所測(cè)電阻很小,，說(shuō)明壓敏電阻已損壞,，不能使用。長(zhǎng)寧區(qū)產(chǎn)地電子設(shè)備圖片

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