隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù),、晶體外誕生長技術(shù)和擴散摻雜技術(shù),、耐壓氧化膜的制備技術(shù)、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展,,各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),電子元器件逐步從真空管時代進(jìn)入晶體管時代和大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路時代,。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè)。由于社會發(fā)展的需要,,電子裝置變的越來越復(fù)雜,,這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕,、小型化、成本低等特點,。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,,由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計等綜合技術(shù)的進(jìn)步,在20世紀(jì)60年代研制成功了代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上,。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義:它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術(shù)和計算機的進(jìn)步,使科學(xué)研究的各個領(lǐng)域以及工業(yè)社會的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。電子元器件的檢測是家電維修的一項基本功,。嘉定區(qū)國內(nèi)電子元器件圖片
變?nèi)荻O管是根據(jù)普通二極管內(nèi)部“PN結(jié)”的結(jié)電容能隨外加反向電壓的變化而變化這一原理專門設(shè)計出來的一種特殊二極管。變?nèi)荻O管在無繩電話機中主要用在手機或座機的高頻調(diào)制電路上,,實現(xiàn)低頻信號調(diào)制到高頻信號上,,并發(fā)射出去。在工作狀態(tài),,變?nèi)荻O管調(diào)制電壓一般加到負(fù)極上,,使變?nèi)荻O管的內(nèi)部結(jié)電容容量隨調(diào)制電壓的變化而變化。發(fā)生漏電現(xiàn)象時,,高頻調(diào)制電路將不工作或調(diào)制性能變差,。變?nèi)菪阅茏儾顣r,高頻調(diào)制電路的工作不穩(wěn)定,,使調(diào)制后的高頻信號發(fā)送到對方被對方接收后產(chǎn)生失真,。出現(xiàn)上述情況之一時,就應(yīng)該更換同型號的變?nèi)荻O管,。在電路中常用“Q”加數(shù)字表示,,如:Q17表示編號為17的三極管。晶體三極管主要用于放大電路中起放大作用,,在常見電路中有三種接法,。為了便于比較,將晶體管三種接法電路所具有的特點列于下,,名稱共發(fā)射極電路共集電極電路(射極輸出器)共基極電路,。金山區(qū)什么是電子元器件數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng)。
電子元器件發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史,。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末,、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù),二十世紀(jì)發(fā)展迅速,,應(yīng)用,,成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個重要標(biāo)志。電子元器件1906年,,美國發(fā)明家德福雷斯特(DeForestLee)發(fā)明了真空三極管(電子管),。代電子產(chǎn)品以電子管為。四十年代末世界上誕生了只半導(dǎo)體三極管,,它以小巧,、輕便,、省電、壽命長等特點,,很快地被各國應(yīng)用起來,,在很大范圍內(nèi)取代了電子管。五十年代末期,,世界上出現(xiàn)了塊集成電路,,它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上,使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展,。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路,,從而使電子產(chǎn)品向著高效能低消耗、高精度,、高穩(wěn)定,、智能化的方向發(fā)展。由于,,電子計算機發(fā)展經(jīng)歷的四個階段恰好能夠充分說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特性,,所以下面就從電子計算機發(fā)展的四個時代來說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特點。
數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量,,可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路、中規(guī)模集成(MSI)電路,、大規(guī)模集成(LSI)電路,、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內(nèi),,或元器件數(shù)不超過100個,;中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間,或元器件數(shù)在100-1000個之間,;大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上,,或元器件數(shù)在10-10個之間,;超大規(guī)模集成電路包含的門電路在1萬個以上,,或元器件數(shù)在10-10之間;特大規(guī)模集成電路的元器件數(shù)在10-10之間,。它包括:基本邏輯門,、觸發(fā)器、寄存器,、譯碼器,、驅(qū)動器、計數(shù)器,、整形電路,、可編程邏輯器件、微處理器、單片機,、DSP等,。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè)。
測量標(biāo)稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同,,即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實際值,。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感,故測試時應(yīng)注意以下幾點:ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的,,所以用萬用表測量Rt時,,亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時進(jìn)行,以保證測試的可信度,。B測量功率不得超過規(guī)定值,,以免電流熱效應(yīng)引起測量誤差。C注意正確操作,。測試時,,不要用手捏住熱敏電阻體,以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響,。估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1,,再用電烙鐵作熱源,靠近熱敏電阻Rt,,測出電阻值RT2,,同時用溫度計測出此時熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計算。壓敏電阻的檢測,。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正,、反向絕緣電阻,均為無窮大,,否則,,說明漏電流大。若所測電阻很小,,說明壓敏電阻已損壞,,不能使用。具有使用價值的是早的鍺合金型晶體管誕生,。青浦區(qū)名優(yōu)電子元器件廠家現(xiàn)貨
安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實際是來自于家電的維護(hù)維修技術(shù),。嘉定區(qū)國內(nèi)電子元器件圖片
熔斷電阻器的檢測。在電路中,,當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后,,可根據(jù)經(jīng)驗作出判斷:若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦,可斷定是其負(fù)荷過重,,通過它的電流超過額定值很多倍所致,;如果其表面無任何痕跡而開路,,則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,,可借助萬用表R×1擋來測量,,為保證測量準(zhǔn)確,應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下,。若測得的阻值為無窮大,,則說明此熔斷電阻器已失效開路,若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),,表明電阻變值,,也不宜再使用。在維修實踐中發(fā)現(xiàn),,也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,,檢測時也應(yīng)予以注意。電位器的檢測,。檢查電位器時,,首先要轉(zhuǎn)動旋柄,看看旋柄轉(zhuǎn)動是否平滑,,開關(guān)是否靈活,,開關(guān)通、斷時“喀噠”聲是否清脆,,并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點和電阻體摩擦的聲音,,如有“沙沙”聲,說明質(zhì)量不好,。嘉定區(qū)國內(nèi)電子元器件圖片
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