場效應(yīng)晶體管具有較高輸入阻抗和低噪聲等優(yōu)點(diǎn)，因而也被應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,。尤其用場效應(yīng)管做整個(gè)電子設(shè)備的輸入級(jí),，可以獲得一般晶體管很難達(dá)到的性能。場效應(yīng)管與晶體管的比較(1)場效應(yīng)管是電壓控制元件,，而晶體管是電流控制元件,。在只允許從信號(hào)源取較少電流的情況下，應(yīng)選用場效應(yīng)管,；而在信號(hào)電壓較低,，又允許從信號(hào)源取較多電流的條件下，應(yīng)選用晶體管,。(2)場效應(yīng)管是利用多數(shù)載流子導(dǎo)電,，所以稱之為單極型器件，而晶體管是即有多數(shù)載流子,，也利用少數(shù)載流子導(dǎo)電,。被稱之為雙極型器件。(3)有些場效應(yīng)管的源極和漏極可以互換使用,，柵壓也可正可負(fù),，靈活性比晶體管好。(4)場效應(yīng)管能在很小電流和很低電壓的條件下工作,，而且它的制造工藝可以很方便地把很多場效應(yīng)管集成在一塊硅片上,，因此場效應(yīng)管在大規(guī)模集成電路中得到了的應(yīng)用。安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實(shí)際是來自于家電的維護(hù)維修技術(shù),。寶山區(qū)特色電子材料誠信互利

檢測電位器的活動(dòng)臂與電阻片的接觸是否良好,。用萬用表的歐姆檔測“1”、“2”(或“2”,、“3”)兩端,，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時(shí)針方向旋至接近“關(guān)”的位置，這時(shí)電阻值越小越好,。再順時(shí)針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄，電阻值應(yīng)逐漸增大,，表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動(dòng),。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時(shí)，阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱值,。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動(dòng)過程中有跳動(dòng)現(xiàn)象,，說明活動(dòng)觸點(diǎn)有接觸不良的故障,。常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃)；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實(shí)際阻值,，并與標(biāo)稱阻值相對比,，二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過大,，則說明其性能不良或已損壞,。加溫檢測；在常溫測試正常的基礎(chǔ)上,，即可進(jìn)行第二步測試—加溫檢測,，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱，同時(shí)用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,，如是,，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化,，說明其性能變劣,，不能繼續(xù)使用。上海常見電子材料價(jià)格咨詢逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè),。

數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量，可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路,、中規(guī)模集成(MSI)電路,、大規(guī)模集成(LSI)電路、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路,。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個(gè)以內(nèi),，或元器件數(shù)不超過100個(gè)；中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個(gè)之間,，或元器件數(shù)在100-1000個(gè)之間,；大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個(gè)以上，或元器件數(shù)在10-10個(gè)之間,；超大規(guī)模集成電路包含的門電路在1萬個(gè)以上,，或元器件數(shù)在10-10之間；特大規(guī)模集成電路的元器件數(shù)在10-10之間,。它包括：基本邏輯門,、觸發(fā)器、寄存器,、譯碼器,、驅(qū)動(dòng)器、計(jì)數(shù)器,、整形電路,、可編程邏輯器件,、微處理器、單片機(jī),、DSP等,。

電子元器件發(fā)展史其實(shí)就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末,、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù),，二十世紀(jì)發(fā)展迅速，應(yīng)用,，成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要標(biāo)志,。電子元器件1906年，美國發(fā)明家德福雷斯特（DeForestLee）發(fā)明了真空三極管（電子管）,。代電子產(chǎn)品以電子管為,。四十年代末世界上誕生了只半導(dǎo)體三極管，它以小巧,、輕便,、省電、壽命長等特點(diǎn),，很快地被各國應(yīng)用起來,，在很大范圍內(nèi)取代了電子管。五十年代末期,，世界上出現(xiàn)了塊集成電路,，它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上，使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展,。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路,，從而使電子產(chǎn)品向著高效能低消耗、高精度,、高穩(wěn)定,、智能化的方向發(fā)展。由于,，電子計(jì)算機(jī)發(fā)展經(jīng)歷的四個(gè)階段恰好能夠充分說明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特性,，所以下面就從電子計(jì)算機(jī)發(fā)展的四個(gè)時(shí)代來說明電子技術(shù)發(fā)展的四個(gè)階段的特點(diǎn)。人們強(qiáng)烈地期待著能夠誕生一種固體器件,，用來作為質(zhì)量輕,、價(jià)廉和壽命長的放大器和電子開關(guān)。

測量標(biāo)稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同,，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實(shí)際值,。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時(shí)所測得的,，所以用萬用表測量Rt時(shí),，亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時(shí)進(jìn)行，以保證測試的可信度,。B測量功率不得超過規(guī)定值,，以免電流熱效應(yīng)引起測量誤差。C注意正確操作,。測試時(shí),，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響,。估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1,，再用電烙鐵作熱源，靠近熱敏電阻Rt,，測出電阻值RT2,，同時(shí)用溫度計(jì)測出此時(shí)熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計(jì)算。壓敏電阻的檢測,。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正,、反向絕緣電阻，均為無窮大,，否則,，說明漏電流大。若所測電阻很小,，說明壓敏電阻已損壞,，不能使用。電子元器件的發(fā)展歷史實(shí)際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史,。普陀區(qū)常見電子材料圖片

這種點(diǎn)接觸型晶體管在構(gòu)造上存在著接觸點(diǎn)不穩(wěn)定的致命弱點(diǎn),。寶山區(qū)特色電子材料誠信互利

隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù)、晶體外誕生長技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù),、耐壓氧化膜的制備技術(shù),、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),，電子元器件逐步從真空管時(shí)代進(jìn)入晶體管時(shí)代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時(shí)代。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè),。由于社會(huì)發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來越復(fù)雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性,、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化,、成本低等特點(diǎn),。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后,，由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計(jì)等綜合技術(shù)的進(jìn)步,，在20世紀(jì)60年代研制成功了代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時(shí)代的意義：它的誕生和發(fā)展推動(dòng)了銅芯技術(shù)和計(jì)算機(jī)的進(jìn)步,，使科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域以及工業(yè)社會(huì)的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。寶山區(qū)特色電子材料誠信互利

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