測量標稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實際值,。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時應注意以下幾點：ARt是生產廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的，所以用萬用表測量Rt時，亦應在環(huán)境溫度接近25℃時進行,，以保證測試的可信度。B測量功率不得超過規(guī)定值,，以免電流熱效應引起測量誤差,。C注意正確操作。測試時,，不要用手捏住熱敏電阻體,，以防止人體溫度對測試產生影響。估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1,，再用電烙鐵作熱源,，靠近熱敏電阻Rt，測出電阻值RT2,，同時用溫度計測出此時熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進行計算,。壓敏電阻的檢測。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正,、反向絕緣電阻,，均為無窮大,，否則,，說明漏電流大。若所測電阻很小,，說明壓敏電阻已損壞,，不能使用。電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模,。青浦區(qū)制作電子材料誠信互利

熔斷電阻器的檢測,。在電路中，當熔斷電阻器熔斷開路后,，可根據(jù)經驗作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦,，可斷定是其負荷過重，通過它的電流超過額定值很多倍所致,；如果其表面無任何痕跡而開路,，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值,。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷，可借助萬用表R×1擋來測量,，為保證測量準確,，應將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測得的阻值為無窮大,，則說明此熔斷電阻器已失效開路,，若測得的阻值與標稱值相差甚遠，表明電阻變值,，也不宜再使用,。在維修實踐中發(fā)現(xiàn)，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,，檢測時也應予以注意,。電位器的檢測。檢查電位器時,，首先要轉動旋柄,，看看旋柄轉動是否平滑，開關是否靈活,，開關通,、斷時“喀噠”聲是否清脆，并聽一聽電位器內部接觸點和電阻體摩擦的聲音,，如有“沙沙”聲,，說明質量不好。嘉定區(qū)名優(yōu)電子材料聯(lián)系人安防行業(yè)很多工程維護維修技術也實際是來自于家電的維護維修技術,。

在20世紀出現(xiàn)并得到飛速發(fā)展的電子元器件工業(yè)使整個世界和人們的工作,、生活習慣發(fā)生了翻天覆地的變化。電子元器件的發(fā)展歷史實際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史,。1906年美國人德福雷斯特發(fā)明真空三極管,，用來放大電話的聲音電流。此后,，人們強烈地期待著能夠誕生一種固體器件,，用來作為質量輕、價廉和壽命長的放大器和電子開關,。1947年,，點接觸型鍺晶體管的誕生，在電子器件的發(fā)展史上翻開了新的一頁,。但是,，這種點接觸型晶體管在構造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點。在點接觸型晶體管開發(fā)成功的同時，結型晶體管論就已經提出,，但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導電類型以后,，結型晶體管材真正得以出現(xiàn)。1950年,，具有使用價值的是早的鍺合金型晶體管誕生,。1954年，結型硅晶體管誕生,。此后,，人們提出了場效應晶體管的構想。

變容二極管是根據(jù)普通二極管內部“PN結”的結電容能隨外加反向電壓的變化而變化這一原理專門設計出來的一種特殊二極管,。變容二極管在無繩電話機中主要用在手機或座機的高頻調制電路上,，實現(xiàn)低頻信號調制到高頻信號上，并發(fā)射出去,。在工作狀態(tài),，變容二極管調制電壓一般加到負極上，使變容二極管的內部結電容容量隨調制電壓的變化而變化,。發(fā)生漏電現(xiàn)象時,，高頻調制電路將不工作或調制性能變差。變容性能變差時,，高頻調制電路的工作不穩(wěn)定,，使調制后的高頻信號發(fā)送到對方被對方接收后產生失真。出現(xiàn)上述情況之一時,，就應該更換同型號的變容二極管,。在電路中常用“Q”加數(shù)字表示，如：Q17表示編號為17的三極管,。晶體三極管主要用于放大電路中起放大作用,，在常見電路中有三種接法。為了便于比較,，將晶體管三種接法電路所具有的特點列于下,，名稱共發(fā)射極電路共集電極電路(射極輸出器)共基極電路。電感器在電子制作中雖然使用得不是很多,，但它們在電路中同樣重要,。

隨著無缺陷結晶和缺陷控制等材料技術、晶體外誕生長技術和擴散摻雜技術,、耐壓氧化膜的制備技術、腐蝕和光刻技術的出現(xiàn)和發(fā)展,，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),，電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路時代。逐步形成作為高技術產業(yè)的半導體工業(yè),。由于社會發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來越復雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性,、速度快,、消耗功率小以及質量輕、小型化,、成本低等特點,。自20世紀50年代提出集成電路的設想后，由于材料技術,、器件技術和電路設計等綜合技術的進步,，在20世紀60年代研制成功了代集成電路。在半導體發(fā)展史上,。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義：它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術和計算機的進步,，使科學研究的各個領域以及工業(yè)社會的結構發(fā)生了歷史性變革。具有使用價值的是早的鍺合金型晶體管誕生,。普陀區(qū)國內電子材料誠信互利

這種點接觸型晶體管在構造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點,。青浦區(qū)制作電子材料誠信互利

檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”,、“2”(或“2”,、“3”)兩端，將電位器的轉軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置,，這時電阻值越小越好,。再順時針慢慢旋轉軸柄，電阻值應逐漸增大,，表頭中的指針應平穩(wěn)移動,。當軸柄旋至極端位置“3”時，阻值應接近電位器的標稱值,。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉動過程中有跳動現(xiàn)象,，說明活動觸點有接觸不良的故障。常溫檢測(室內溫度接近25℃),；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,，并與標稱阻值相對比，二者相差在±2Ω內即為正常,。實際阻值若與標稱阻值相差過大,，則說明其性能不良或已損壞。加溫檢測,；在常溫測試正常的基礎上,，即可進行第二步測試—加溫檢測,，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱，同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,，如是,，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化,，說明其性能變劣,，不能繼續(xù)使用。青浦區(qū)制作電子材料誠信互利

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