X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來求解晶體結(jié)構(gòu),，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準(zhǔn)確,，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高,，求得的結(jié)構(gòu)就準(zhǔn)確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個(gè)空間的,。具有大的HKL,，也即大θ或小d值的衍射的強(qiáng)度一般比較低，不易測得,。如何在三維空間測得盡可能多的,，盡可能準(zhǔn)確的衍射線強(qiáng)度成為對X射線單晶體衍射儀的基本要求。 實(shí)驗(yàn)儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上,，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ,，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢,？常用的方法就是轉(zhuǎn)動晶體,。轉(zhuǎn)動中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會在某個(gè)時(shí)候符合布拉格方程而產(chǎn)生衍射,。目前常用的收集單晶體衍射數(shù)據(jù)的方法,，一為回?cái)[法，二為四圓衍射儀法,。X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成,。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價(jià)格

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分,、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法,。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。X射線衍射儀的原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí),，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉,，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),這就是X射線衍射的基本原理,。衢州衍射儀怎么樣衍射儀廠家直供優(yōu)勢,。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù),。每一種結(jié)晶物質(zhì),，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu),，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù),，用具有足夠能量的x射線照射試樣,，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線）,，晶體的晶面反射遵循布拉格定律,。通過測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析,，而測定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測,。

X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器,、管壓和管流穩(wěn)定電路以及保護(hù)電路等組成,。這里著重介紹X射線管。X射線管的實(shí)質(zhì)是個(gè)真空二極管,，其陰極是鎢絲,，陽極為金屬片。在陰極兩端加上電流之后,，鎢絲發(fā)熱,，產(chǎn)生熱輻射電子。這些電子在高壓電場作用下被加速,，轟擊陽極（又稱靶）,，產(chǎn)生X射線（此過程產(chǎn)生大量熱量，為了保護(hù)靶材,，必須確保循環(huán)水系統(tǒng)工作正常）,。X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長的射線,，很主要的是K系射線,。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā),，擊走K層電子后,，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。衍射儀如何選擇,？上海澤權(quán)告訴您,。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

不同的靶,，其X射線特征波長不同,，根據(jù)布拉格方程2dsinθ=nλ，某一間距為d的晶面族其衍射角將不同,各間距值的晶面族的衍射角將表現(xiàn)出有規(guī)律的改變,。因此,，使用不同靶材的X射線管所得到的衍射圖上的衍射峰的位置是不相同的，衍射峰位置的變化是有規(guī)律的,。（每種晶體結(jié)構(gòu)的晶面間距d是固定的,，與何種靶材X射線管無關(guān)）衍射圖上衍射峰間的相對強(qiáng)度主要決定于晶體的結(jié)構(gòu)，但是由于樣品的吸收性質(zhì)也和入射線的波長有關(guān),。因此同一樣品用不同靶所取得的圖譜上衍射峰間的相對強(qiáng)度會稍有差別,，與靶材有關(guān)。x射線具有很強(qiáng)的穿透力,，醫(yī)學(xué)上常用作檢查,，工業(yè)中用來探傷。蕪湖衍射儀哪里有

X射線衍射儀配備一個(gè)獨(dú)特的小樣品托架,，只需15毫克樣品就可以完成分析,，提升工作效率。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價(jià)格

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn): a) 分析速度高,。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),，而且跟固體、粉末,、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為明顯。波長變化用于化學(xué)位的測定 ,。c) 非破壞分析,。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復(fù)多次測量,，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單,，固體,、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析,。缺點(diǎn)：a）難于作相對分析,，故定量分析需要標(biāo)樣,。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響,。奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理商價(jià)格