X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù),。每一種結(jié)晶物質(zhì),，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型,、晶面間距等參數(shù),，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā),，會產(chǎn)生二次熒光X射線,，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置可以進(jìn)行化合物的定性分析,，測定譜線的積分強(qiáng)度可以進(jìn)行定量分析,，而測定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣品表面＞10×10mm,，厚度在5μm以上,，表面必須平整,，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀,、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,，衍射強(qiáng)度異常，需提供測試方向,。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變）,，測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品,，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,，消除表面應(yīng)變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度,，直徑約40微米，重量大于5g,。衍射又稱為繞射,，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。安徽奧林巴斯XRD廠家

x射線光電子能譜法在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法,。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀(jì)初就有報道,，但當(dāng)時可達(dá)到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年,，一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象,，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜,。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別,。X射線衍射儀的主要參數(shù)：X射線管的功率：對于密封式X射線管，Cu靶一般為2kw,，Ag,、Mo、W等靶一般大于2kw,，而對Co,、Fe、Ni等靶則小于2kw,。對于轉(zhuǎn)靶,，常用的有12kw和18kw。單色器的效率：應(yīng)不小于25%,。探測器的效率：視品種而異,。計(jì)數(shù)的線性范圍：關(guān)系到強(qiáng)度測量的準(zhǔn)確性，一般在 cps,。有許多儀器附加了校正軟件,，宣稱可以達(dá)到 cps,。衍射角(2θ)的測量準(zhǔn)確度和精確度。分辨率：常用的Si(311)衍射峰的半高寬來表示,。對于一般實(shí)驗(yàn)室粉末衍射儀,，此值約在0.05°~0.1°之間。江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀可以定制嗎x射線具有很強(qiáng)的穿透力,。

晶體X射線衍射： X射線在晶體中發(fā)生的衍射現(xiàn)象,。晶體具有點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)，點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的周期（即晶胞邊長,，b,，c）與X射線的波長屬于同一數(shù)量級，X射線衍射現(xiàn)象是一種基于波疊加原理的干涉現(xiàn)象,，干涉的結(jié)果隨不同而有所不同（Δ為波程差,；λ為波長）。為整數(shù)的方向,，波的振幅得到大程度的加強(qiáng),，稱為衍射，對應(yīng)的方 向?yàn)檠苌浞较?,，而為半整數(shù)的方向,，波的振幅得到大程度的抵消。因此,，X射線通過晶體之后,，在某些方向（衍射方向）X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)，而另一些方向X射線強(qiáng)度卻減弱甚至消失 ,，如果在晶體的背后放置一張感光底片,，將會得到X射線的衍射圖形。

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn): a) 分析速度高,。測定用時與測定精密度有關(guān),，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素,。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),，而且跟固體、粉末,、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),，這種效應(yīng)更為明顯。波長變化用于化學(xué)位的測定 ,。c) 非破壞分析,。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,，結(jié)果重現(xiàn)性好,。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。e) 分析精密度高,。f) 制樣簡單，固體,、粉末,、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。缺點(diǎn)：a）難于作相對分析,，故定量分析需要標(biāo)樣,。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響,。X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。

多晶X射線衍射儀,，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末,、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等,。主要由四個部分構(gòu)成：1) X射線發(fā)生器(產(chǎn)生X射線的裝置);2)測角儀(測量角度2θ的裝置);3) X射線探測器(測量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置);4) X射線系統(tǒng)控制裝置(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等).另外：測角儀（包括狹縫系統(tǒng)）,、探測器等都是X射線衍射儀中非常關(guān)鍵的組成部分X射線發(fā)生器由X射線管,、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及保護(hù)電路等組成,。這里著重介紹X射線管,。X射線管的實(shí)質(zhì)是個真空二極管，其陰極是鎢絲,，陽極為金屬片,。在陰極兩端加上電流之后，鎢絲發(fā)熱,，產(chǎn)生熱輻射電子,。這些電子在高壓電場作用下被加速，轟擊陽極（又稱靶）,，產(chǎn)生X射線（此過程產(chǎn)生大量熱量,，為了保護(hù)靶材，必須確保循環(huán)水系統(tǒng)工作正常）,。XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析,。江蘇奧林巴斯XRD批發(fā)廠家

很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度,。安徽奧林巴斯XRD廠家

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù),。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu),，包括點(diǎn)陣類型,、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣,，試樣中的物質(zhì)受激發(fā),，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律,。通過測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析,，測定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測,。安徽奧林巴斯XRD廠家