X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù),。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu),，包括點(diǎn)陣類型,、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣,，試樣中的物質(zhì)受激發(fā),，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律,。通過測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析,，測定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測,。一束X射線照射到物體上時(shí),，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,，這些波互相干涉,。嘉興衍射儀一般多少錢

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和,，反映的晶格的對稱性信息,；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些,，往往不止發(fā)生一次散射,，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用,，與核外的電子分布情況相關(guān),。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對稱性上,，通常是用x射線來定的,，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況,，因此便于分析,，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀代理公司衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象,。

X射線衍射分析可以獲得哪些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)? 通常做的是粉末衍射，可以得到樣品在不同角度的衍射強(qiáng)度,，也就是兩列數(shù)據(jù),，一列是角度（一般5-80，這個(gè)根據(jù)不同材料的需要，測試時(shí)要自己確定）,，一列是強(qiáng)度,，對比已有的衍射譜的pdf卡片，從而知道材料中是有哪些相存在,。 如果材料中有未知的相,，也可以通過XRD確定其結(jié)構(gòu)。 先對其做指標(biāo)化,，確定了hkl,，同時(shí)還能把晶體結(jié)構(gòu)定下來，還有就是定晶格參數(shù),。 如果你還要做進(jìn)一步的分析,，你可以做結(jié)構(gòu)精修,，從而確定不同原子在晶格內(nèi)的位置,，鍵長鍵角什么的。如果技術(shù)好,，還可以得到材料中的應(yīng)力,，溫度因子，晶格取向等信息,。

X射線衍射儀技術(shù)（XRD） X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction,，XRD)。通過對材料進(jìn)行X射線衍射,，分析其衍射圖譜,，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法,。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型,、分子內(nèi)成鍵方式,、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜,。X射線衍射方法具有不損傷樣品,、無污染、快捷,、測量精度高,、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用,。 SwiftMin自動(dòng)礦物相辨別（ID）和定量軟件可以直接在XRD分析儀上實(shí)時(shí)提供數(shù)據(jù),。

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品,。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性,。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量,。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。 近年來,，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金,、地質(zhì),、有色、建材,、商檢,、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍,。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體,、粉末,、熔珠、液體等樣品,，分析范圍為Be到U,。并且具有分析速度快、測量范圍寬,、干擾小的特點(diǎn),。X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測試儀器。安徽奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD批發(fā)多少錢

X射線衍射儀系統(tǒng)主要由X光管,、高壓發(fā)生器,、測角儀、探測器,、控制系統(tǒng),、穩(wěn)壓電源、水冷機(jī)幾大部分組成,。嘉興衍射儀一般多少錢

結(jié)構(gòu)分析方法,。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射,，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng),。 從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角,；d是結(jié)晶面間隔,；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,，進(jìn)而求得面間隔,，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。物質(zhì)受X射線照射時(shí),，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離,。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測量儀器,。在電離作用下,，氣體能夠?qū)щ姡荒承┪镔|(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng),；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng),。嘉興衍射儀一般多少錢

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