Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng),，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,，通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量,，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級衰減方案,，衰減達 10??,，可測功率超 1000W。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設計的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率,，雙次配件內置雙片透鏡實現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率,，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結構，支持任意角度入射光束檢測,。其優(yōu)化設計的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器,，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題，緊湊結構減少 70% 空間占用,。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍,，通過 CE/FCC 認證，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,，已成功應用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）,、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設備校準（能量均勻性誤差＜2%），幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本,。國產光斑分析儀廠家有哪些,？維度光電深耕18年。激光發(fā)散角光斑分析儀作用

在激光應用領域,，高功率光束檢測一直是個難題,。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,，常規(guī)激光器功率遠超此強度,，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設備,。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng),。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制，可直接測量近 10W 的高功率激光,，無需額外衰減片,。在此基礎上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng),。與合適衰減片搭配，可測功率超 1000W,。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,，45° 傾斜設計，取樣率 4% - 5%,，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結構,，能測量任意角度入射激光,；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內部緊湊安裝兩片取樣透鏡,，取樣率 0.16% - 0.25%,，可應對 400W 功率光束，多面體結構有多個支撐安裝孔位,。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,，大衰減程度達 10??。而且其緊湊結構的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,，單次取樣 68mm,，雙次取樣 53mm，為各類激光應用場景的檢測提供了方案,。激光發(fā)散角光斑分析儀怎么選型用于準直器生產的光斑質量分析儀,。

維度光電聚焦激光領域應用，推出覆蓋千瓦高功率,、微米小光斑及脈沖激光的光束質量測量解決方案,。全系產品包含掃描狹縫式與相機式兩大技術平臺：狹縫式通過正交狹縫轉動輪實現(xiàn) 0.1μm 超高分辨率，可直接測量近 10W 激光,，適用于半導體晶圓切割等亞微米級場景,；相機式采用面陣傳感器實時捕獲光斑形態(tài)，支持皮秒級觸發(fā)同步,，分析脈沖激光能量分布,。技術突破包括：基于 ISO 11146 標準的 M2 因子算法，實現(xiàn)光束發(fā)散角,、束腰位置等 18 項參數(shù)測量,；AI 缺陷診斷系統(tǒng)自動識別光斑異常，率達 97.2%,。在工業(yè)實戰(zhàn)中,，狹縫式設備通過實時監(jiān)測光斑橢圓率，幫助某汽車零部件廠商將激光切割合格率提升至 99.6%,；科研場景下,，相機式與 M2 模塊組合成功解析飛秒激光傳輸特性，相關成果發(fā)表于《Nature Photonics》,。針對不同需求,，維度光電提供 "檢測設備 + 自動化接口 + 云平臺" 工業(yè)方案及 "全功能主機 + 定制模塊" 科研方案，助力客戶縮短周期 40% 以上,。未來將多模態(tài)融合設備與手持式分析儀,，推動激光測量技術智能化升級。

維度光電-光斑分析儀的使用 科研場景 將 BeamHere 安裝在飛秒激光實驗平臺,，使用觸發(fā)模式同步采集單脈沖光斑,。 通過軟件 "時間序列分析" 功能,，觀察脈沖序列中光斑形態(tài)變化。 調用 "光束質量評估" 模塊,，計算啁啾脈沖的 M2 因子演變曲線。 在 "用戶自定義" 界面添加波長,、脈寬等實驗參數(shù),，生成帶批注的報告。 工業(yè)場景 在激光切割設備光路中插入 BeamHere,，選擇 "在線監(jiān)測" 模式,。 實時顯示光斑橢圓率、能量分布均勻性等參數(shù),。 當檢測到光斑漂移超過閾值時,，軟件自動觸發(fā)警報并記錄異常數(shù)據(jù)。 每日生成生產質量報表,，統(tǒng)計良品率與設備穩(wěn)定性趨勢,。光斑分析儀多少錢？維度光電廠家直供,，型號齊全,，價格從 1.8 萬至 18 萬覆蓋全需求。

維度光電光束質量測量解決方案基于兩大技術平臺： 掃描狹縫式系統(tǒng)：采用正交狹縫轉動輪結構,，通過 ±90° 旋轉實現(xiàn) XY 軸同步掃描,，結合刀口 / 狹縫雙模式切換，突破亞微米級光斑檢測極限,。光學系統(tǒng)集成高靈敏度光電探測器,，配合高斯擬合算法，實現(xiàn) 0.1μm 分辨率與 ±0.8% 測量重復性,。 相機式成像系統(tǒng)：搭載背照式 CMOS 傳感器（量子效率 95%@500-1000nm）,，結合非球面透鏡組消除畸變，支持皮秒級觸發(fā)同步與全局快門技術,，捕捉單脈沖光斑形態(tài),。算法通過二階矩法計算 M2 因子，測量精度達 ±0.3%,。 創(chuàng)新突破： 狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量 面陣傳感器動態(tài)范圍擴展技術支持 1μW-1W 寬功率檢測 AI 缺陷診斷模型自動識別光斑異常（率 97.2%）極小光斑測量的光斑分析儀,。光通信光斑分析儀原廠

半導體行業(yè)激光光束質量檢測方案。激光發(fā)散角光斑分析儀作用

維度光電 BeamHere 系列為激光光束質量檢測提供高性價比解決方案： 掃描狹縫式：國內刀口 / 狹縫雙模式切換,，覆蓋 190-2700nm 光譜,，可測 2.5μm-10mm 光束，0.1μm 分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑分析,。創(chuàng)新狹縫衰減機制支持 10W 級高功率直接測量,，無需外置衰減片,。 相機式：400-1700nm 寬譜響應，支持實時 2D/3D 成像與非高斯光束測量,。六濾光片轉輪設計擴展功率量程,，可拆卸結構兼顧工業(yè)檢測與科研成像需求。 M2 測試模塊：通過 ISO 11146 標準算法,，測量 M2 因子,、發(fā)散角、束腰位置等參數(shù),，適配全系產品,。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面，支持一鍵生成標準化報告,，滿足光通信,、醫(yī)療、工業(yè)等多場景需求,。系統(tǒng)以模塊化設計實現(xiàn)高精度檢測,，助力客戶提升效率與產品質量。激光發(fā)散角光斑分析儀作用

維度光電：一站式光電服務平臺Dimension-labs隸屬深圳市維度科技有限公司,，以助推突破技術壁壘,、打破國外壟斷、加速國產化替代為使命,，以構建,、培育網(wǎng)狀光電生態(tài)鏈,促進產業(yè)鏈優(yōu)化升級，提升科研效率,，降低企業(yè)創(chuàng)新及研發(fā)成本為愿景建立一站式光電產品服務平臺(Dimension-Labs),，將互聯(lián)網(wǎng)電子商務與光電行業(yè)深度融合，形成創(chuàng)新型數(shù)字化產業(yè)生態(tài)鏈,，為全球的高校,、科研、企業(yè)及創(chuàng)客團體提供：

1,、質量的一站式光電產品現(xiàn)貨,、極速供應服務，產品涵蓋光機械,、光學元件,、光電檢測儀器、激光光源,、光學成像鏡頭,、科研相機、光束分析等;“燈塔”光電開放研究實驗室及光電數(shù)據(jù)庫,，

2,、提供技術攻關,、技術開發(fā)、儀器共享,、科技資源共享,、科研交流、檢驗檢測,、系統(tǒng)搭建等深度技術服務;

3,、立足服務平臺，連接線上線下,、銜接供需兩端、對接國內國外市場,，賦能經(jīng)濟社會數(shù)字化轉型和后時代社會建設,；

4、助力提高科研效率,，降低企業(yè)創(chuàng)新研發(fā)成本,，助推突破技術壁壘，加速國產化替代,，培育并構建數(shù)字化,、智能化網(wǎng)狀光電產業(yè)生態(tài)鏈。