全系列產(chǎn)品矩陣與智能分析系統(tǒng) Dimension-Labs BeamHere 系列產(chǎn)品通過全光譜覆蓋與模塊化設(shè)計,，構(gòu)建起完整的光束質(zhì)量測量生態(tài)系統(tǒng)： 1. 全場景產(chǎn)品體系 光譜覆蓋：190-2700nm 超寬響應(yīng)范圍,，滿足紫外到遠紅外波段的測試需求 技術(shù)方案： 掃描狹縫式：支持 2.5μm-10mm 光斑檢測，0.1μm 超高分辨率,，可測近 10W 高功率激光,，適合半導(dǎo)體加工、高功率焊接等場景 相機式：400-1700nm 實時成像,，5.5μm 像元精度,，標(biāo)配 6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實現(xiàn) 1μW-1W 寬功率測量，擅長復(fù)雜光斑分析與脈沖激光檢測 結(jié)構(gòu)創(chuàng)新：掃描狹縫式采用 ±90° 轉(zhuǎn)筒調(diào)節(jié)與可調(diào)光闌設(shè)計,，相機式支持濾光片轉(zhuǎn)輪與相機分離,，拓展科研成像功能 2. M2 因子測試模塊 兼容全系產(chǎn)品，基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法實現(xiàn)光束質(zhì)量參數(shù)測量 可獲?。?光束發(fā)散角（mrad） 束腰位置（mm） M2 因子（無量綱） 瑞利長度（mm） 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,，為激光系統(tǒng)設(shè)計提供數(shù)據(jù)光斑分析儀與M2測試模塊組合，實現(xiàn)對光束傳播方向的發(fā)散角,、M2因子,、聚焦直徑等測量。光束質(zhì)量光斑分析儀怎么收費

Dimension-Labs 正式發(fā)布符合 ISO11146 標(biāo)準(zhǔn)的 Beamhere 光斑分析解決方案,。該系統(tǒng)通過硬件與軟件協(xié)同工作,，可測量光斑能量分布、發(fā)散角及 M2 因子等參數(shù),。產(chǎn)品內(nèi)置光束整形評估模塊,，可對聚焦光斑形態(tài)、準(zhǔn)直系統(tǒng)性能進行量化檢驗,。用戶可根據(jù)需求擴展 M2 測試功能,，實現(xiàn)光束傳播方向上的束腰位置定位與發(fā)散角動態(tài)分析。所有檢測數(shù)據(jù)均通過軟件進行智能處理,，一鍵生成包含 20 + 參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化測試報告,。 產(chǎn)品優(yōu)勢： 滿足測試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設(shè)計的分析軟件 軟件真正做到交互友好，簡單易用,，一鍵輸出測試報告,。Dimension光斑分析儀制造商光斑分析儀搭配什么 M2 因子測量模塊好？

Dimension-Labs 推出的相機式光斑分析儀系列包含兩個型號,，覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍,，實現(xiàn)可見光與近紅外波段光斑的實時顯示與分析。其優(yōu)勢如下： 寬光譜覆蓋與動態(tài)分析 單臺設(shè)備即可滿足 400-1700nm 全波段測量需求,，支持 2D 光斑實時成像與 3D 功率分布動態(tài)分析,。高幀率連續(xù)測量模式下，可實時捕捉光斑變化并生成任意視角的 3D 視圖，為光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試,、動態(tài)測試及時間監(jiān)控提供直觀數(shù)據(jù)支持,。 復(fù)雜光斑適應(yīng)性 基于面陣傳感器的成像原理，可測量非高斯分布光束（如平頂,、貝塞爾光束）及含高階橫模的復(fù)雜光斑,，突破傳統(tǒng)掃描式設(shè)備的局限性。 功率調(diào)節(jié)系統(tǒng) 標(biāo)配 6 片不同衰減率的濾光片,，通過獨特的轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)實現(xiàn)功率范圍擴展,，可測功率提升 100 倍,。一鍵切換濾光片設(shè)計簡化操作流程,，兼顧寬量程與高精度需求。 科研級功能拓展 采用模塊化可拆卸設(shè)計,，光斑分析相機與濾光片轉(zhuǎn)輪可分離使用,。拆卸后的相機兼容通用驅(qū)動軟件，支持科研成像,、光譜分析等擴展應(yīng)用,，實現(xiàn)工業(yè)檢測與實驗室的一機多用。

在激光應(yīng)用領(lǐng)域,，高功率光束檢測一直是個難題,。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,，常規(guī)激光器功率遠超此強度,，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設(shè)備,。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng),。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制，可直接測量近 10W 的高功率激光,，無需額外衰減片,。在此基礎(chǔ)上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng),。與合適衰減片搭配，可測功率超 1000W,。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,，45° 傾斜設(shè)計，取樣率 4% - 5%,，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，能測量任意角度入射激光；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡,，取樣率 0.16% - 0.25%,，可應(yīng)對 400W 功率光束，多面體結(jié)構(gòu)有多個支撐安裝孔位,。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,，大衰減程度達 10??。而且其緊湊結(jié)構(gòu)的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,，單次取樣 68mm,，雙次取樣 53mm，為各類激光應(yīng)用場景的檢測提供了方案,。光斑分析儀多少錢,？維度光電廠家直供，型號齊全,，價格從 1.8 萬至 18 萬覆蓋全需求,。

Dimension-Labs 針對高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng)，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制,，通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機制實現(xiàn) 10W 級激光直接測量,，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級衰減方案，衰減達 10??,，可測功率超 1000W,。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設(shè)計的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率，雙次配件內(nèi)置雙片透鏡實現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率,，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，支持任意角度入射光束檢測。其優(yōu)化設(shè)計的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器,，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題,，緊湊結(jié)構(gòu)減少 70% 空間占用。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍,，通過 CE/FCC 認(rèn)證,，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作，已成功應(yīng)用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）,、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設(shè)備校準(zhǔn)（能量均勻性誤差＜2%）,，幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本。光斑分析儀國產(chǎn)替代都有哪些廠家,？國產(chǎn)光斑分析儀系統(tǒng)搭建

可用于自動化設(shè)備集成的光斑質(zhì)量分析儀,。光束質(zhì)量光斑分析儀怎么收費

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列，整合掃描狹縫式,、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線,，為激光光束質(zhì)量檢測提供全場景解決方案,。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù)，覆蓋 190-2700nm 寬光譜,，支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量,。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級光斑細節(jié)，無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,，適用于激光加工,、醫(yī)療設(shè)備等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,，支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,，可測量非高斯光束（如平頂、貝塞爾光束）,。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計實現(xiàn)功率范圍擴展,，可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,，通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子,、發(fā)散角,、束腰位置等）,，結(jié)合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析,。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計滿足光通信,、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求,，兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景,。光束質(zhì)量光斑分析儀怎么收費