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beam here光斑分析儀怎么收費(fèi)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-04-11

使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質(zhì)量測(cè)量的流程 系統(tǒng)搭建:將 BeamHere 相機(jī)式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,,通過支架調(diào)節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor,。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設(shè)備與電腦,安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅(qū)動(dòng)校準(zhǔn),。 數(shù)據(jù)采集:開啟半導(dǎo)體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài),,軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式,設(shè)置曝光時(shí)間 50μs,,幀率 100fps,,同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉。 參數(shù)提?。很浖詣?dòng)識(shí)別光斑區(qū)域,計(jì)算 FWHM 直徑(XY 軸),、橢圓率,、能量集中度等 12 項(xiàng)基礎(chǔ)參數(shù),同時(shí)基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法生成 M2 因子,、瑞利長(zhǎng)度等光束質(zhì)量指標(biāo),。 可視化分析:切換至 3D 視圖旋轉(zhuǎn)觀察能量分布,通過 "刀邊法" 驗(yàn)證光斑對(duì)稱性,,標(biāo)記異常區(qū)域進(jìn)行局部放大分析,。 報(bào)告輸出:點(diǎn)擊 "生成報(bào)告" 按鈕,自動(dòng)插入測(cè)試日期,、激光器參數(shù),、測(cè)量曲線等內(nèi)容,支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導(dǎo)出,。光斑分析儀以舊換新,?維度光電推出設(shè)備升級(jí)計(jì)劃,。beam here光斑分析儀怎么收費(fèi)

光斑分析儀

維度光電BeamHere 光斑分析儀選型指南: 1. 光束特性分析 光斑尺寸:亞微米用狹縫式(2.5μm 精度),毫米級(jí)用相機(jī)式(10mm 量程),。 功率等級(jí):高功率用狹縫式(近 10W),,微瓦級(jí)用相機(jī)式(適配衰減片)。 光束形態(tài):高斯用狹縫式(經(jīng)濟(jì)),,非高斯用相機(jī)式(保留細(xì)節(jié)),。 脈沖特性:?jiǎn)蚊}沖用相機(jī)式(觸發(fā)同步),連續(xù)/高頻用狹縫式(匹配掃描頻率),。 2. 應(yīng)用場(chǎng)景適配 工業(yè):高功率用狹縫式,,動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)與校準(zhǔn)用相機(jī)式,組合方案覆蓋全流程,。 醫(yī)療:相機(jī)式監(jiān)測(cè)能量分布,,脈沖激光適配觸發(fā)模式確保精度。 科研:超短脈沖與復(fù)雜光束分析用相機(jī)式,,材料加工優(yōu)化結(jié)合狹縫式,。 光通信:光纖檢測(cè)用相機(jī)式,激光器表征用狹縫式高靈敏度測(cè)量,。 3. 功能擴(kuò)展規(guī)劃 單一需求:以光斑尺寸與功率為,,如高功率 + 亞微米光斑選狹縫式。 復(fù)雜場(chǎng)景:雙技術(shù)組合(狹縫式 + 相機(jī)式),,實(shí)現(xiàn)全場(chǎng)景覆蓋,。 長(zhǎng)期規(guī)劃:科研機(jī)構(gòu)選全功能模塊(M2 因子測(cè)試、皮秒同步),,工業(yè)用戶選基礎(chǔ)款 + 定制接口,。狹縫光斑分析儀官網(wǎng)光束質(zhì)量分析儀推薦?維度光電 M2 因子測(cè)量模塊,;

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相機(jī)式與狹縫式光斑分析儀對(duì)比指南 光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場(chǎng)景的光斑尺寸,、功率、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度: 光斑尺寸 ≤55μm → 狹縫式(2.5μm 精度) ≥55μm → 相機(jī)式(10mm 量程) 激光功率 ≥1W → 狹縫式(直接測(cè)量近 10W) ≤1W → 相機(jī)式(6 片衰減片適配) 光斑形態(tài) 高斯 / 規(guī)則 → 兩者均可(狹縫式更經(jīng)濟(jì)) 非高斯 / 高階橫模 → 相機(jī)式(保留細(xì)節(jié)) 脈沖特性 需單脈沖分析 → 相機(jī)式(觸發(fā)同步) 連續(xù)或匹配重頻 → 狹縫式(高精度掃描) 推薦組合: 場(chǎng)景:相機(jī)式 + 狹縫式組合,,覆蓋全尺寸與復(fù)雜形態(tài) 工業(yè)產(chǎn)線:狹縫式(高功率)+ 相機(jī)式(動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)) 醫(yī)療設(shè)備:相機(jī)式(脈沖激光)+M2 模塊(光束質(zhì)量評(píng)估) 維度光電 BeamHere 系列提供模塊化解決方案,,支持快速切換檢測(cè)模式,幫助用戶降**設(shè)備購置成本與檢測(cè)周期,。

維度光電深刻認(rèn)識(shí)到高功率光束檢測(cè)在激光應(yīng)用中的性和難度,。大多數(shù)光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會(huì)飽和,而常規(guī)激光器功率普遍較高,,這使得大功率光束檢測(cè)成為激光應(yīng)用的難點(diǎn),。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng),。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制,,可直接測(cè)量近 10W 高功率激光,,保障了測(cè)試過程的安全與高效。為應(yīng)對(duì)更高功率,,又推出單次和雙次取樣配件,,可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片,,可測(cè)功率超 1000W,。單次取樣配件 DL - LBA - 1,取樣率 4% - 5%,,采用 45° 傾斜設(shè)計(jì)和 C 口安裝,,有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測(cè)量不同角度入射激光;雙次取樣配件 DL - LBA - 2,,取樣率 0.16% - 0.25%,,內(nèi)部?jī)善油哥R緊湊安裝,能應(yīng)對(duì) 400W 功率光束,,多面體結(jié)構(gòu)便于工業(yè)或?qū)嶒?yàn)環(huán)境安裝,。組合安裝配件可獲得高衰減程度,實(shí)現(xiàn)更高功率激光測(cè)量,。同時(shí),,其緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的取樣光程滿足聚焦光斑測(cè)量,單次 68mm,,雙次 53mm,,為激光生產(chǎn)提供了強(qiáng)大的檢測(cè)支持。光斑分析儀廠家哪家好,?推薦維度光電,!

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光斑分析儀通過光學(xué)傳感器將光斑能量分布轉(zhuǎn)化為電信號(hào),結(jié)合算法分析實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量評(píng)估,。Dimension-Labs 產(chǎn)品采用雙技術(shù)路線:掃描狹縫式通過 0.1μm 超窄狹縫逐行掃描,,實(shí)現(xiàn) 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度測(cè)量;相機(jī)式則利用面陣傳感器實(shí)時(shí)成像,,支持 200-2600nm 全光譜覆蓋。全系標(biāo)配 M2 因子測(cè)試模塊,,結(jié)合 BeamHere 軟件,,可自動(dòng)計(jì)算發(fā)散角、橢圓率等參數(shù),,并生成符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試報(bào)告,。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): 滿足測(cè)試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測(cè)試模塊 精心設(shè)計(jì)的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡(jiǎn)單易用,,一鍵輸出測(cè)試報(bào)告,。激光光斑的光斑尺寸,、形狀、強(qiáng)度分布,、M2因子,、空間位置與穩(wěn)定性測(cè)試。無干涉光斑分析儀怎么測(cè)量

用于準(zhǔn)直器生產(chǎn)的光斑質(zhì)量分析儀,。beam here光斑分析儀怎么收費(fèi)

維度光電BeamHere 光斑分析儀系列,,提供全場(chǎng)景激光光束質(zhì)量分析解決方案。產(chǎn)品覆蓋 190-2700nm 光譜,,包括掃描狹縫式和相機(jī)式技術(shù),,實(shí)現(xiàn)亞微米至毫米級(jí)光斑測(cè)量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測(cè),,具備 0.1μm 分辨率,,適用于高功率激光。相機(jī)式提供 400-1700nm 響應(yīng),,實(shí)現(xiàn) 2D/3D 成像分析,,測(cè)量功率范圍 1μW-1W。M2 因子測(cè)試模塊基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn),,評(píng)估光束質(zhì)量,。軟件提供自動(dòng)化分析和標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告。技術(shù)創(chuàng)新包括正交狹縫轉(zhuǎn)動(dòng)輪結(jié)構(gòu)和適應(yīng)復(fù)雜光斑的面陣傳感器,。產(chǎn)品適用于光束整形檢驗(yàn),、光鑷系統(tǒng)檢測(cè)和準(zhǔn)直監(jiān)測(cè)。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)優(yōu)化,,通過 CE/FCC 認(rèn)證,,應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,助力光束質(zhì)量分析和工藝優(yōu)化,。beam here光斑分析儀怎么收費(fèi)

標(biāo)簽: 光斑分析儀