Dimension-Labs 為激光設(shè)備與生產(chǎn)企業(yè)推出 Beamhere 光束質(zhì)量管家,。該系統(tǒng)通過智能檢測模塊,，可快速完成光斑能量分布測繪,、發(fā)散角計(jì)算及 M2 因子分析，幫助用戶優(yōu)化光束整形效果,、提升聚焦精度。所有測試參數(shù)均符合 ISO11146 國際標(biāo)準(zhǔn),，包含光斑寬度,、質(zhì)心位置等指標(biāo)?？蛇x配的 M2 測試功能可動(dòng)態(tài)分析光束傳播特性,，終由軟件自動(dòng)生成專業(yè)測試報(bào)告，將傳統(tǒng)人工檢測效率提升 80% 以上。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)： 滿足測試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設(shè)計(jì)的分析軟件 軟件真正做到交互友好,，簡單易用,，一鍵輸出測試報(bào)告。相機(jī)式光斑分析儀都有哪些廠家,？刀口與狹縫雙模式切換

Dimension-Labs 針對(duì)高功率激光檢測難題推出 BeamHere 大功率光束取樣系統(tǒng),，突破傳統(tǒng)面陣傳感器在 10μW/cm2 飽和閾值的限制，通過創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制實(shí)現(xiàn) 10W 級(jí)激光直接測量,，配合可疊加的單次（DL-LBA-1）與雙次（DL-LBA-2）取樣配件形成多級(jí)衰減方案,，衰減達(dá) 10??，可測功率超 1000W,。該系統(tǒng)采用 45° 傾斜設(shè)計(jì)的單次取樣配件支持 4%-5% 取樣率,，雙次配件內(nèi)置雙片透鏡實(shí)現(xiàn) 0.16%-0.25% 取樣率，均配備 C 口通用接口和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu),，支持任意角度入射光束檢測,。其優(yōu)化設(shè)計(jì)的 68mm（單次）和 53mm（雙次）取樣光程確保聚焦光斑完整投射至傳感器，解決傳統(tǒng)外搭光路光程不足問題,，緊湊結(jié)構(gòu)減少 70% 空間占用,。系統(tǒng)覆蓋 190-2500nm 寬光譜范圍，通過 CE/FCC 認(rèn)證,，可在 - 40℃至 85℃環(huán)境穩(wěn)定工作,，已成功應(yīng)用于工業(yè)激光加工（熱影響區(qū)≤30μm）、科研超快激光（皮秒脈沖分析）及醫(yī)療設(shè)備校準(zhǔn)（能量均勻性誤差＜2%）,，幫助客戶提升 3 倍檢測效率并降** 30% 檢測成本,。小光斑光斑分析儀優(yōu)勢(shì)可用于自動(dòng)化設(shè)備集成的光斑質(zhì)量分析儀。

維度光電深刻認(rèn)識(shí)到高功率光束檢測在激光應(yīng)用中的性和難度,。大多數(shù)光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會(huì)飽和,，而常規(guī)激光器功率普遍較高，這使得大功率光束檢測成為激光應(yīng)用的難點(diǎn),。為解決這一問題,，維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng)。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制,，可直接測量近 10W 高功率激光,，保障了測試過程的安全與高效。為應(yīng)對(duì)更高功率,，又推出單次和雙次取樣配件,，可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片,，可測功率超 1000W,。單次取樣配件 DL - LBA - 1,，取樣率 4% - 5%，采用 45° 傾斜設(shè)計(jì)和 C 口安裝,，有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測量不同角度入射激光,；雙次取樣配件 DL - LBA - 2，取樣率 0.16% - 0.25%,，內(nèi)部兩片取樣透鏡緊湊安裝,，能應(yīng)對(duì) 400W 功率光束，多面體結(jié)構(gòu)便于工業(yè)或?qū)嶒?yàn)環(huán)境安裝,。組合安裝配件可獲得高衰減程度,，實(shí)現(xiàn)更高功率激光測量。同時(shí),，其緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的取樣光程滿足聚焦光斑測量,，單次 68mm，雙次 53mm,，為激光生產(chǎn)提供了強(qiáng)大的檢測支持,。

全系列產(chǎn)品矩陣與智能分析系統(tǒng) Dimension-Labs BeamHere 系列產(chǎn)品通過全光譜覆蓋與模塊化設(shè)計(jì)，構(gòu)建起完整的光束質(zhì)量測量生態(tài)系統(tǒng)： 1. 全場景產(chǎn)品體系 光譜覆蓋：190-2700nm 超寬響應(yīng)范圍,，滿足紫外到遠(yuǎn)紅外波段的測試需求 技術(shù)方案： 掃描狹縫式：支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,，0.1μm 超高分辨率，可測近 10W 高功率激光,，適合半導(dǎo)體加工,、高功率焊接等場景 相機(jī)式：400-1700nm 實(shí)時(shí)成像，5.5μm 像元精度,，標(biāo)配 6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實(shí)現(xiàn) 1μW-1W 寬功率測量,，擅長復(fù)雜光斑分析與脈沖激光檢測 結(jié)構(gòu)創(chuàng)新：掃描狹縫式采用 ±90° 轉(zhuǎn)筒調(diào)節(jié)與可調(diào)光闌設(shè)計(jì)，相機(jī)式支持濾光片轉(zhuǎn)輪與相機(jī)分離,，拓展科研成像功能 2. M2 因子測試模塊 兼容全系產(chǎn)品，基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量參數(shù)測量 可獲?。?光束發(fā)散角（mrad） 束腰位置（mm） M2 因子（無量綱） 瑞利長度（mm） 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,，為激光系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)可用于產(chǎn)線檢測的光斑分析儀。

Dimension-Labs 推出的掃描狹縫式光斑分析儀,，通過國內(nèi)的雙模式切換技術(shù),，實(shí)現(xiàn) 190-2700nm 寬光譜覆蓋與 2.5μm-10mm 光束直徑測量。其 0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級(jí)光斑細(xì)節(jié),，創(chuàng)新設(shè)計(jì)解決三大檢測痛點(diǎn)： 小光斑測量：刀口模式分析 < 20μm 光斑形態(tài),，避免像素丟失 高功率檢測：狹縫物理衰減機(jī)制允許直接測量近 10W 激光，無需衰減片 大光斑分析：狹縫模式支持 10mm 光斑能量分布檢測 設(shè)備采用正交狹縫轉(zhuǎn)動(dòng)輪結(jié)構(gòu),，通過旋轉(zhuǎn)掃描同步采集 XY 軸數(shù)據(jù),，經(jīng)算法處理輸出光束直徑,、橢圓率等參數(shù)。緊湊設(shè)計(jì)適配多場景安裝,，通過 CE/FCC 認(rèn)證,，適用于激光加工、醫(yī)療設(shè)備及科研領(lǐng)域,，幫助客戶提升光束質(zhì)量檢測效率,，降**檢測成本。如何評(píng)判激光質(zhì)量的好壞,？國產(chǎn)化光斑分析儀網(wǎng)站

國產(chǎn)光斑分析儀哪個(gè)好,？維度光電光斑分析儀全系列。刀口與狹縫雙模式切換

維度光電Dimension-Labs BeamHere 系列作為全光譜光束分析解決方案,，致力于為激光技術(shù)應(yīng)用提供 "一站式" 質(zhì)量管控工具,。產(chǎn)品矩陣覆蓋 190-2700nm 超寬光譜，融合掃描狹縫式（2.5μm-10mm 光斑）與相機(jī)式（400-1700nm 成像）兩大技術(shù)平臺(tái),，形成從亞微米級(jí)高功率檢測到毫米級(jí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測的立體覆蓋,。通過 ISO 11146 認(rèn)證的 M2 因子測試模塊，結(jié)合 AI 算法,，實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量的量化評(píng)估與預(yù)測,。模塊化設(shè)計(jì)支持設(shè)備功能動(dòng)態(tài)擴(kuò)展，適配激光加工,、醫(yī)療,、科研等多場景需求，助力客戶構(gòu)建智能化光束檢測體系,。刀口與狹縫雙模式切換