全系列產(chǎn)品矩陣與智能分析系統(tǒng) Dimension-Labs BeamHere 系列產(chǎn)品通過全光譜覆蓋與模塊化設(shè)計(jì),，構(gòu)建起完整的光束質(zhì)量測量生態(tài)系統(tǒng)： 1. 全場景產(chǎn)品體系 光譜覆蓋：190-2700nm 超寬響應(yīng)范圍,，滿足紫外到遠(yuǎn)紅外波段的測試需求 技術(shù)方案： 掃描狹縫式：支持 2.5μm-10mm 光斑檢測，0.1μm 超高分辨率,，可測近 10W 高功率激光,，適合半導(dǎo)體加工、高功率焊接等場景 相機(jī)式：400-1700nm 實(shí)時(shí)成像,，5.5μm 像元精度,，標(biāo)配 6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實(shí)現(xiàn) 1μW-1W 寬功率測量，擅長復(fù)雜光斑分析與脈沖激光檢測 結(jié)構(gòu)創(chuàng)新：掃描狹縫式采用 ±90° 轉(zhuǎn)筒調(diào)節(jié)與可調(diào)光闌設(shè)計(jì),，相機(jī)式支持濾光片轉(zhuǎn)輪與相機(jī)分離,，拓展科研成像功能 2. M2 因子測試模塊 兼容全系產(chǎn)品，基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量參數(shù)測量 可獲?。?光束發(fā)散角（mrad） 束腰位置（mm） M2 因子（無量綱） 瑞利長度（mm） 支持光束傳播方向上的全鏈路分析,，為激光系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)發(fā)散較大，怎么測量光束質(zhì)量,？維度光電光斑分析儀官網(wǎng)

維度光電深刻認(rèn)識(shí)到高功率光束檢測在激光應(yīng)用中的性和難度,。大多數(shù)光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會(huì)飽和,，而常規(guī)激光器功率普遍較高，這使得大功率光束檢測成為激光應(yīng)用的難點(diǎn),。為解決這一問題,，維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng)。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制,，可直接測量近 10W 高功率激光,，保障了測試過程的安全與高效。為應(yīng)對(duì)更高功率,，又推出單次和雙次取樣配件,，可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片,，可測功率超 1000W,。單次取樣配件 DL - LBA - 1，取樣率 4% - 5%,，采用 45° 傾斜設(shè)計(jì)和 C 口安裝,，有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測量不同角度入射激光；雙次取樣配件 DL - LBA - 2,，取樣率 0.16% - 0.25%,，內(nèi)部兩片取樣透鏡緊湊安裝，能應(yīng)對(duì) 400W 功率光束,，多面體結(jié)構(gòu)便于工業(yè)或?qū)嶒?yàn)環(huán)境安裝,。組合安裝配件可獲得高衰減程度，實(shí)現(xiàn)更高功率激光測量,。同時(shí),，其緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的取樣光程滿足聚焦光斑測量，單次 68mm,，雙次 53mm,，為激光生產(chǎn)提供了強(qiáng)大的檢測支持。維度科技光斑分析儀要多少錢光斑分析儀與M2測試模塊組合,，實(shí)現(xiàn)對(duì)光束傳播方向的發(fā)散角,、M2因子、聚焦直徑等測量,。

維度光電 BeamHere 系列為激光光束質(zhì)量檢測提供高性價(jià)比解決方案： 掃描狹縫式：國內(nèi)刀口 / 狹縫雙模式切換,，覆蓋 190-2700nm 光譜，可測 2.5μm-10mm 光束,，0.1μm 分辨率實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)光斑分析,。創(chuàng)新狹縫衰減機(jī)制支持 10W 級(jí)高功率直接測量,，無需外置衰減片,。 相機(jī)式：400-1700nm 寬譜響應(yīng),，支持實(shí)時(shí) 2D/3D 成像與非高斯光束測量。六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)擴(kuò)展功率量程,，可拆卸結(jié)構(gòu)兼顧工業(yè)檢測與科研成像需求,。 M2 測試模塊：通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法，測量 M2 因子,、發(fā)散角,、束腰位置等參數(shù)，適配全系產(chǎn)品,。 配套 BeamHere 軟件提供直觀操作界面,，支持一鍵生成標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告，滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等多場景需求。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高精度檢測,，助力客戶提升效率與產(chǎn)品質(zhì)量,。

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列，整合掃描狹縫式,、相機(jī)式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線,，為激光光束質(zhì)量檢測提供全場景解決方案。 掃描狹縫式光斑分析儀刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),，覆蓋 190-2700nm 寬光譜,，支持 2.5μm-10mm 光束直徑測量。0.1μm 超高分辨率可捕捉亞微米級(jí)光斑細(xì)節(jié),，無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,，適用于激光加工、醫(yī)療設(shè)備等高能量場景,。 相機(jī)式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,，支持 2D/3D 實(shí)時(shí)成像與動(dòng)態(tài)分析，可測量非高斯光束（如平頂,、貝塞爾光束）,。獨(dú)特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展，可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展,。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,，通過 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測量光束傳播參數(shù)（M2 因子、發(fā)散角,、束腰位置等）,，結(jié)合 BeamHere 軟件實(shí)現(xiàn)一鍵生成報(bào)告、多參數(shù)同步分析,。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)滿足光通信,、醫(yī)療,、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測需求，兼顧實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景,。激光發(fā)散角怎么測,，維度光電M2測量系統(tǒng)。

維度光電-光斑分析儀的使用 科研場景 將 BeamHere 安裝在飛秒激光實(shí)驗(yàn)平臺(tái),，使用觸發(fā)模式同步采集單脈沖光斑,。 通過軟件 "時(shí)間序列分析" 功能，觀察脈沖序列中光斑形態(tài)變化,。 調(diào)用 "光束質(zhì)量評(píng)估" 模塊,，計(jì)算啁啾脈沖的 M2 因子演變曲線。 在 "用戶自定義" 界面添加波長,、脈寬等實(shí)驗(yàn)參數(shù),，生成帶批注的報(bào)告。 工業(yè)場景 在激光切割設(shè)備光路中插入 BeamHere,，選擇 "在線監(jiān)測" 模式,。 實(shí)時(shí)顯示光斑橢圓率、能量分布均勻性等參數(shù),。 當(dāng)檢測到光斑漂移超過閾值時(shí),，軟件自動(dòng)觸發(fā)警報(bào)并記錄異常數(shù)據(jù)。 每日生成生產(chǎn)質(zhì)量報(bào)表,，統(tǒng)計(jì)良品率與設(shè)備穩(wěn)定性趨勢,。掃描狹縫光斑分析儀有國產(chǎn)的嗎？光斑大小光斑分析儀怎么收費(fèi)

光斑分析儀搭配什么 M2 因子測量模塊好,？維度光電光斑分析儀官網(wǎng)

維度光電Dimension-Labs BeamHere 系列作為全光譜光束分析解決方案,，致力于為激光技術(shù)應(yīng)用提供 "一站式" 質(zhì)量管控工具。產(chǎn)品矩陣覆蓋 190-2700nm 超寬光譜,，融合掃描狹縫式（2.5μm-10mm 光斑）與相機(jī)式（400-1700nm 成像）兩大技術(shù)平臺(tái),，形成從亞微米級(jí)高功率檢測到毫米級(jí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測的立體覆蓋。通過 ISO 11146 認(rèn)證的 M2 因子測試模塊,，結(jié)合 AI 算法,，實(shí)現(xiàn)光束質(zhì)量的量化評(píng)估與預(yù)測。模塊化設(shè)計(jì)支持設(shè)備功能動(dòng)態(tài)擴(kuò)展,，適配激光加工,、醫(yī)療、科研等多場景需求,，助力客戶構(gòu)建智能化光束檢測體系,。維度光電光斑分析儀官網(wǎng)