廣東憶存智能裝備有限公司2025-04-05

主要用于測(cè)試SSD的斷電、大量讀/寫比對(duì),、全盤讀/寫、指定 Pattern 對(duì)媒介的老化測(cè)試,、新增壞塊的統(tǒng)計(jì)和協(xié)議測(cè)試等等;主要分為這幾種 PCT ,、BIT 、MDT 與 FDS,。 PCT(Power Cycling Test) :各種Pattern異常斷電測(cè)試,，測(cè)試SSD算法的斷電處理和重建，驗(yàn)證異常斷電時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)的完整性,。 BIT(Burn-In Test): 驗(yàn)證各種Pattern順序或隨機(jī)讀/寫是否正常,，以及各種Pattern對(duì)媒介的響。 MDT(Multi-Drive Test) : 驗(yàn)證SSD是否支持ATA1-8規(guī)格的命令,，將對(duì)SSD發(fā)送所支持命令,，并確認(rèn)結(jié)果有無問題。 FDS(Full Drive Scan) : 對(duì)SSD進(jìn)行的全盤讀寫操作,，驗(yàn)證映射表是否正確:

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