廣東華芯半導(dǎo)體技術(shù)有限公司2025-06-17

可使用 X 射線檢測(cè)儀檢測(cè)空洞率,，通過(guò)優(yōu)化真空度、抽真空時(shí)間,、錫膏質(zhì)量等措施來(lái)降低空洞率。廣東華芯半導(dǎo)體技術(shù)有限公司的設(shè)備配備先進(jìn)的空洞率檢測(cè)模塊,，并擁有專利技術(shù),，能夠有效降低空洞率，提升焊接質(zhì)量,。

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