使用示波器監(jiān)測(cè) MOS 管的柵極,、漏極和源極的電壓和電流波形。間歇性故障可能會(huì)導(dǎo)致波形出現(xiàn)異常的波動(dòng),、尖峰或失真,。例如，在正常工作時(shí),，柵極驅(qū)動(dòng)電壓應(yīng)該是一個(gè)穩(wěn)定的脈沖信號(hào),，如果出現(xiàn)間歇性故障，可能會(huì)觀察到電壓脈沖的幅度不穩(wěn)定,、頻率變化或者出現(xiàn)雜波,。通過(guò)分析這些異常波形，可以初步判斷故障的原因,，比如是否是驅(qū)動(dòng)電路問(wèn)題導(dǎo)致柵極電壓異常,，還是 MOS 管本身的性能問(wèn)題導(dǎo)致漏極電流波動(dòng)。

采用熱成像儀檢測(cè) MOS 管在工作時(shí)的溫度分布,。間歇性故障有可能是由于 MOS 管局部 過(guò)熱引起的,。當(dāng) MOS 管內(nèi)部存在接觸不良或者某個(gè)區(qū)域的電阻異常增大時(shí)，該區(qū)域會(huì)產(chǎn)生更多的熱量,，導(dǎo)致溫度升高,。熱成像儀可以直觀地顯示出 MOS 管表面的溫度分布情況，幫助確定過(guò)熱區(qū)域,。一旦發(fā)現(xiàn)過(guò)熱點(diǎn),，需要進(jìn)一步檢查該區(qū)域的電氣連接和 MOS 管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，找出導(dǎo)致過(guò)熱的原因,，如是否存在焊點(diǎn)松動(dòng),、芯片內(nèi)部裂縫等問(wèn)題，并進(jìn)行相應(yīng)的修復(fù)或更換,。