深圳市欣同達(dá)科技有限公司2024-11-13

不同類(lèi)型和質(zhì)量等級(jí)的測(cè)試座能夠承受的比較大插拔次數(shù)有所不同,。一般來(lái)說(shuō),，普通的消費(fèi)級(jí)測(cè)試座可能能夠承受幾百次到上千次的插拔,，而工業(yè)級(jí)、高精度的測(cè)試座可能會(huì)達(dá)到數(shù)千次甚至上萬(wàn)次的插拔,。 超過(guò)其比較大插拔次數(shù)后,，測(cè)試座的性能通常會(huì)出現(xiàn)以下變化： 接觸不良：頻繁的插拔會(huì)使接觸探針或插座的彈性部件逐漸失去彈性，導(dǎo)致與被測(cè)器件引腳的接觸不再緊密,，從而出現(xiàn)接觸電阻增比較大的情況,，影響信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。 機(jī)械損傷：插拔過(guò)程中可能會(huì)對(duì)測(cè)試座的機(jī)械結(jié)構(gòu)造成損傷,，如夾具松動(dòng),、探針彎曲或折斷等，進(jìn)一步影響測(cè)試座的正常使用和穩(wěn)定性,。 信號(hào)傳輸問(wèn)題：由于接觸不良和機(jī)械損傷等原因,，可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)在傳輸過(guò)程中出現(xiàn)中斷、衰減或失真等問(wèn)題,，使得測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確,。

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