深圳市力恩科技有限公司2024-11-15
測(cè)試LPDDR3內(nèi)存的讀取性能可以通過(guò)連續(xù)讀取大量數(shù)據(jù)并測(cè)量延遲,、帶寬和吞吐量來(lái)實(shí)現(xiàn),。
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