深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-02-11

在-55℃的低溫環(huán)境下,，該測試插座可能會面臨一些性能變化,。一方面，測試座材料如CeramicPEEK,、pps等可能會變脆,，其機(jī)械性能下降，在受到外力沖擊或振動時,，更容易出現(xiàn)裂紋或損壞,，影響測試插座的結(jié)構(gòu)完整性。另一方面,，彈簧探針的彈性可能會受到影響,，彈簧的彈性系數(shù)發(fā)生變化，導(dǎo)致探針與芯片引腳的接觸壓力不穩(wěn)定,，可能出現(xiàn)接觸不良的情況,，進(jìn)而影響信號傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。在155℃的高溫環(huán)境下,，同樣存在性能問題,。部分材料可能會發(fā)生熱膨脹，導(dǎo)致測試插座的尺寸發(fā)生變化,，影響探針與芯片引腳的精細(xì)對接,。而且,，高溫可能加速材料的老化，像Rubber導(dǎo)電膠的性能可能會下降,，其導(dǎo)電性能和緩沖作用都會受到影響,。此外，高溫還可能導(dǎo)致彈簧探針的金屬材料發(fā)生蠕變,，使彈簧的彈性進(jìn)一步降低,，影響測試插座的正常工作。因此,，在進(jìn)行高低溫測試時,，需要密切關(guān)注測試插座的性能變化，確保測試結(jié)果的可靠性,。

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