去嵌入操作步驟以**網(wǎng)絡(luò)去嵌入（NetworkDe-embedding）**為例（以AgilentE5063A界面為例）：進(jìn)入去嵌入設(shè)置菜單：按面板“Analysis”>選擇“FixtureSimulator”>“De-Embedding”。選擇目標(biāo)端口：?jiǎn)螕簟癝electPort”>選擇需去嵌入的端口（如Port1,、Port2）,。加載夾具模型文件：?jiǎn)螕簟癠serFile”>導(dǎo)入夾具的.s2p文件（系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別為“User”類型）。注意：若取消設(shè)置,，選“None”,。啟用去嵌入功能：打開(kāi)“De-Embedding”開(kāi)關(guān)>返回主界面后開(kāi)啟“FixtureSimulator”。多端口處理：若夾具涉及多端口（如Port1和Port2均需去嵌）,，需為每個(gè)端口單獨(dú)加載模型,。進(jìn)入去嵌入設(shè)置菜單：按面板“Analysis”>選擇“FixtureSimulator”>“De-Embedding”,。選擇目標(biāo)端口：?jiǎn)螕簟癝electPort”>選擇需去嵌入的端口（如Port1、Port2）,。加載夾具模型文件：?jiǎn)螕簟癠serFile”>導(dǎo)入夾具的.s2p文件（系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別為“User”類型）,。注意：若取消設(shè)置，選“None”,。啟用去嵌入功能：打開(kāi)“De-Embedding”開(kāi)關(guān)>返回主界面后開(kāi)啟“FixtureSimulator”,。多端口處理：若夾具涉及多端口（如Port1和Port2均需去嵌），需為每個(gè)端口單獨(dú)加載模型,。檢查儀器狀態(tài)：確保網(wǎng)絡(luò)分析儀處于正常工作狀態(tài),，包括電源連接、信號(hào)源和被測(cè)設(shè)備等,。上海羅德網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNB20

    芯片化與低成本化：推動(dòng)行業(yè)普及硅基光子集成探頭將VNA**功能集成于CMOS或鈮酸鋰芯片（如IMEC方案）,，尺寸縮減至厘米級(jí)，支持晶圓級(jí)測(cè)試[[網(wǎng)頁(yè)17][[網(wǎng)頁(yè)86]],。國(guó)產(chǎn)化替代加速鼎立科技,、普源精電等國(guó)內(nèi)廠商突破10–50GHz中**市場(chǎng)，價(jià)格較進(jìn)口產(chǎn)品低30%[[網(wǎng)頁(yè)16][[網(wǎng)頁(yè)75]],。??五,、云化與協(xié)同測(cè)試生態(tài)分布式測(cè)試網(wǎng)絡(luò)多臺(tái)VNA通過(guò)5G/6G網(wǎng)絡(luò)協(xié)同測(cè)試衛(wèi)星星座，數(shù)據(jù)云端匯總生成三維射頻地圖（如空天地一體化場(chǎng)景）[[網(wǎng)頁(yè)28][[網(wǎng)頁(yè)86]],。開(kāi)源算法共享廠商開(kāi)放API接口（如Python庫(kù)）,，用戶自定義校準(zhǔn)算法并共享至社區(qū)（如去嵌入模型庫(kù)）[[網(wǎng)頁(yè)86]]。未來(lái)網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)將呈現(xiàn)“四極演化”：頻率極高頻：太赫茲OTA測(cè)試支撐6G通感融合[[網(wǎng)頁(yè)28]],；功能極智能：AI從輔助分析升級(jí)為自主決策[[網(wǎng)頁(yè)75][[網(wǎng)頁(yè)86]],；設(shè)備極靈活：模塊化硬件+云端控制重構(gòu)測(cè)試范式[[網(wǎng)頁(yè)86]]；成本極普惠：芯片化推動(dòng)**儀器下沉至中小企業(yè)[[網(wǎng)頁(yè)16][[網(wǎng)頁(yè)17]],。**終目標(biāo)是通過(guò)“軟件定義硬件”實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的自我演進(jìn),，為6G、量子互聯(lián)網(wǎng)等戰(zhàn)略領(lǐng)域提供全覆蓋,、高可靠的電磁特性******能力,。 上海工廠網(wǎng)絡(luò)分析儀連接直通校準(zhǔn)件、反射校準(zhǔn)件和傳輸線校準(zhǔn)件,，按照儀器的提示進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn),。

可靠性測(cè)試與認(rèn)證（3-6個(gè)月）環(huán)境測(cè)試：在高溫、低溫,、潮濕,、振動(dòng)等環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，確保儀器的可靠性和穩(wěn)定性。電磁兼容性測(cè)試：確保儀器在復(fù)雜的電磁環(huán)境中能夠正常工作,，且不會(huì)對(duì)其他設(shè)備產(chǎn)生干擾,。認(rèn)證測(cè)試：進(jìn)行相關(guān)的認(rèn)證測(cè)試，如CE認(rèn)證,、FCC認(rèn)證等,，以滿足市場(chǎng)準(zhǔn)入要求。生產(chǎn)準(zhǔn)備與量產(chǎn)（1-3個(gè)月）生產(chǎn)工藝制定：制定詳細(xì)的生產(chǎn)工藝和質(zhì)量控制流程,，確保生產(chǎn)過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)化和一致性,。生產(chǎn)人員培訓(xùn)：對(duì)生產(chǎn)人員進(jìn)行培訓(xùn),，使其熟悉生產(chǎn)工藝和操作流程,。小批量試生產(chǎn)：進(jìn)行小批量試生產(chǎn)，驗(yàn)證生產(chǎn)工藝的可行性和產(chǎn)品的質(zhì)量,。量產(chǎn)：在生產(chǎn)工藝和質(zhì)量控制穩(wěn)定的前提下,，進(jìn)行大規(guī)模生產(chǎn)。

    網(wǎng)絡(luò)分析儀（尤其是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA）作為實(shí)驗(yàn)室的**測(cè)試設(shè)備,，在未來(lái)發(fā)展中面臨多重挑戰(zhàn),，涵蓋技術(shù)演進(jìn)、應(yīng)用復(fù)雜度,、成本控制及人才需求等方面,。以下是基于行業(yè)趨勢(shì)與實(shí)驗(yàn)室需求的分析：??一、高頻與太赫茲技術(shù)的精度與穩(wěn)定性挑戰(zhàn)動(dòng)態(tài)范圍不足6G通信頻段拓展至110–330GHz（太赫茲頻段）,，路徑損耗超100dB,，而當(dāng)前VNA動(dòng)態(tài)范圍*約100dB（@10Hz帶寬），微弱信號(hào)易被噪聲淹沒(méi),，難以滿足高精度測(cè)試需求（如濾波器通帶紋波＜）[[網(wǎng)頁(yè)61][[網(wǎng)頁(yè)17]],。解決方案：需結(jié)合量子噪聲抑制技術(shù)與GaN高功率源，目標(biāo)動(dòng)態(tài)范圍＞120dB[[網(wǎng)頁(yè)17]],。相位精度受環(huán)境干擾太赫茲波長(zhǎng)極短（–3mm）,，機(jī)械振動(dòng)或±℃溫漂即導(dǎo)致相位誤差＞，難以滿足相控陣系統(tǒng)±°的相位容差要求[[網(wǎng)頁(yè)17][[網(wǎng)頁(yè)61]],。二,、多物理量協(xié)同測(cè)試的復(fù)雜度提升多域信號(hào)同步難題未來(lái)實(shí)驗(yàn)室需同步分析通信、感知,、計(jì)算負(fù)載等多維參數(shù)（如通感一體化系統(tǒng)需時(shí)延誤差＜1ps）,，傳統(tǒng)VNA架構(gòu)難以兼顧實(shí)時(shí)性與精度[[網(wǎng)頁(yè)17][[網(wǎng)頁(yè)24]]。 更高的頻率范圍：隨著5G通信,、毫米波芯片,、光通信等領(lǐng)域的發(fā)展，對(duì)網(wǎng)絡(luò)分析儀的頻率范圍提出了更高要求。

    時(shí)頻同步系統(tǒng)保障1588v2/SyncE時(shí)間同步精度測(cè)試應(yīng)用：測(cè)量PTP報(bào)文傳輸時(shí)延（＜±1μs）與時(shí)鐘相位噪聲,，滿足5GTDD系統(tǒng)協(xié)同需求[[網(wǎng)頁(yè)75]],。方案：EXFO同步測(cè)試儀結(jié)合VNA算法，驗(yàn)證從RU到**網(wǎng)的端到端時(shí)間誤差[[網(wǎng)頁(yè)75]],。??六,、器件研發(fā)與生產(chǎn)測(cè)試毫米波IC特性分析測(cè)試77GHz車載雷達(dá)芯片增益平坦度（±）和輸入匹配（S11＜-10dB），縮短研發(fā)周期[[網(wǎng)頁(yè)1][[網(wǎng)頁(yè)24]],。高速PCB信號(hào)完整性測(cè)試分析SerDes通道插入損耗（S21@28GHz＜-3dB）與時(shí)域反射（TDR）,，抑制串?dāng)_[[網(wǎng)頁(yè)76]]。??不同場(chǎng)景下的應(yīng)用對(duì)比應(yīng)用方向測(cè)試參數(shù)與技術(shù)性能指標(biāo)工具/方案射頻器件測(cè)試S21損耗,、S11匹配,、ACLR濾波器帶外抑制＞40dB時(shí)域門限隔離干擾[[網(wǎng)頁(yè)82]]天線校準(zhǔn)幅相一致性、輻射效率波束指向誤差＜±1°混響室替代物校準(zhǔn)[[網(wǎng)頁(yè)82]],。 使用傳輸線器件作為校準(zhǔn)件,，其參數(shù)更容易被確立，校準(zhǔn)精度不完全由校準(zhǔn)件決定,。佛山網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNB4

將電子校準(zhǔn)件連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試端口,，通過(guò)USB接口與儀器通信。上海羅德網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNB20

連接被測(cè)件連接被測(cè)件：連接被測(cè)件時(shí),，確保連接方式與被測(cè)件的工作頻率和接口類型相匹配,，避免用力過(guò)大，保護(hù)接頭內(nèi)芯,。測(cè)量選擇測(cè)量模式：根據(jù)需要,，選擇合適的測(cè)量模式，如S參數(shù)測(cè)量模式,。設(shè)置顯示格式：根據(jù)需求,，設(shè)置顯示格式，如幅度-頻率圖,、相位-頻率圖或史密斯圓圖,。執(zhí)行測(cè)量：連接被測(cè)件后，儀器開(kāi)始測(cè)量并實(shí)時(shí)顯示結(jié)果,，可通過(guò)標(biāo)記點(diǎn)等功能查看具體數(shù)據(jù),。結(jié)果分析與保存分析測(cè)量結(jié)果：觀察測(cè)量結(jié)果，分析被測(cè)件的性能指標(biāo),，如插入損耗,、反射損耗、增益等,。保存數(shù)據(jù)：將測(cè)量結(jié)果保存到內(nèi)部存儲(chǔ)器或外部存儲(chǔ)設(shè)備,，以便后續(xù)分析和處理。上海羅德網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNB20