F10-ARc獲得蕞精確的測量.自動基準功能大達增加基準間隔時間,量測準確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍可選擇UPG-F10-AR-HC軟件升級測量0.25-15μm硬涂層的厚度.即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度我們獨佳探頭設計可排除98％背面反射,當鏡片比1.5mm更厚時,可排除比例更高修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現象,。F10-ARc：200nm-15μm**380-1050nm當您需要技術支援致電我們的應用工程師,，提供即時的24小時援助（週一至週五）網上的“手把手”支持(需要連接互聯網)硬件升級計劃,。F50-UV測厚范圍：5nm-40μm；波長：190-1100nm,。測膜儀膜厚儀美元報價

硬涂層厚度測量Filmetrics系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應用,，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度。F10-HC是為彎曲表面和多層薄膜(例如,，底涂/硬涂層)而專門設計的,。汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量，因為涂層厚度對于品質至關重要,。外側硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內側的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的,。這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn)，而Filmetrics已經開發(fā)出軟件,、硬件和應用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息。這款儀器采用光學接觸探頭,，它的設計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,，給出涂層厚度,。在這個例子中,，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆。干涉膜厚儀高性價比選擇系統(tǒng)測試應力的精度小于15mpa (0.03cm-1) ,，全自動的200mm和300mm硅片檢查,，自動檢驗和聚焦的能力。

鏡頭組件Filmetrics提供幾十種不同鏡頭配置,。訂制專門用途的鏡片一般在幾天之內可以完成,。LA-GL25-25-30-EXR用于60-1000mm工作距離的直徑1"鏡頭組件，30mm焦距鏡頭,。KM-GL25用于直徑1"鏡頭的簡化動力支架,。可以在兩個軸上斜向調節(jié),。8-32安裝螺紋,。KM-F50用于直徑0.5"鏡頭的簡化動力支架。還可以用于F50,?？商峁┎煌溺R頭組合。LA-F50/SS-13-20-UVX小光斑(200um)選項,，可見光,近紅外或紫外線,。如果您想要了解更多的信息，請聯系我們岱美儀器,。

  其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達1埃，測量穩(wěn)定性高達,，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機型可選,。可應用領域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等,。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術,*多4層透明薄膜厚度,、n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得,。其應用光泛,，例如:半導體工業(yè):光阻、氧化物,、氮化物,。LCD工業(yè):間距(cellgaps)，ito電極,、polyimide保護膜,。光電鍍膜應用:硬化鍍膜、抗反射鍍膜、過濾片,。極易操作,、快速、準確,、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,，Filmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型，可以實現反射,、膜厚,、n、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,。可實時監(jiān)控長晶速度,、實時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn)， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

F3-CS：Filmetrics的F3-CS專門為了微小視野及微小樣品測量設計,任何人從已線操作到研&發(fā)人員都可以此簡易USB供電系統(tǒng)在數秒鐘內測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.我們具專利的自動校正功能大幅縮短測量設置並可自動調節(jié)儀器的靈敏度,使用免手持測量模式時,只需簡單地將樣品面朝下放置在平臺上測量樣品,此時該系統(tǒng)已具備可測量數百種膜層所必要的一切設置不管膜層是否在透明或不透明基底上.快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易,軟件內建所有常見的電介質和半導體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學常數(n和k）,厚度結果會及時的以直覺的測量結果顯示對于進階使用者，可以進一步以F3-CS測量折射率,F3-CS可在任何運行WindowsXP到Windows864位作業(yè)系統(tǒng)的計算機上運行,USB電纜則提供電源和通信功能.F3-s980 是波長為980奈米的版本,，是為了針對成本敏銳的應用而設計,。Profilm3D膜厚儀醫(yī)療設備

Filmetrics 提供一系列的和測繪系統(tǒng)來測量 3nm 到 1mm 的單層、 多層,、 以及單獨的光刻膠薄膜。測膜儀膜厚儀美元報價

  更可加裝至三個探頭,，同時測量三個樣品,，具紫外線區(qū)或標準波長可供選擇。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:瑾通過在F20基本平臺上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設備的測量范圍極大的拓展至。F10-RT：在F20實現反射率跟穿透率的同時測量,，特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎上增加70o光源,，特別適用于超薄膜層厚度和n、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學參數（n和k）,。您可以在幾秒鐘內通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度、折射率和消光系數,。任何具備基本電腦技術的人都能在幾分鐘內將整個桌面系統(tǒng)組裝起來,。F20包括所有測量需要的部件：分光計、光源,、光纖導線,、鏡頭集和和Windows下運行的軟件。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實例幾乎任何光滑,、半透明、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist,。測膜儀膜厚儀美元報價

岱美儀器技術服務（上海）有限公司主營品牌有EVG,Filmetrics,MicroSense,Herz,Herzan,Film Sense,Polyteknik,4D,Nanotronics,Subnano,Bruker,FSM,SHB，發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大,，該公司貿易型的公司,。公司致力于為客戶提供安全、質量有保證的良好產品及服務,，是一家其他有限責任公司企業(yè),。公司業(yè)務涵蓋半導體工藝設備，半導體測量設備,，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀，價格合理,，品質有保證,，深受廣大客戶的歡迎。岱美中國順應時代發(fā)展和市場需求,，通過**技術,，力圖保證高規(guī)格高質量的半導體工藝設備，半導體測量設備,，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀。