F3-CS：快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易,軟件內(nèi)建所有常見的電介質(zhì)和半導(dǎo)體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學(xué)常數(shù)(n和k）,厚度結(jié)果會及時的以直覺的測量結(jié)果顯示對于進(jìn)階使用者,，可以進(jìn)一步以F3-CS測量折射率,F3-CS可在任何運(yùn)行WindowsXP到Windows864位作業(yè)系統(tǒng)的計算機(jī)上運(yùn)行,USB電纜則提供電源和通信功能.包含的內(nèi)容：USB供電之光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件內(nèi)置樣品平臺BK7參考材料四萬小時光源壽命額外的好處：應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。授權(quán)膜厚儀免稅價格

電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué),，半導(dǎo)體，以及其它數(shù)十個行業(yè),而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì),，鈍化層，或掩膜材料被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),。這個案例中,，我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度，折射率,，和消光系數(shù),。有趣的事，氮化硅薄膜的光學(xué)性質(zhì)與薄膜的分子當(dāng)量緊密相關(guān),。使用Filmetrics專有的氮化硅擴(kuò)散模型,，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學(xué)性質(zhì)，不管他們是富硅,，貧硅,，還是分子當(dāng)量。Filmetrics F10-ARc膜厚儀國內(nèi)代理F50-NIR測厚范圍：100nm-250μm,；波長：950-1700nm,。

FSM413MOT紅外干涉測量設(shè)備：適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅、藍(lán)寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應(yīng)用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導(dǎo)體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點(diǎn)高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度,、側(cè)壁角度...如果您想了解更多關(guān)于FSM膜厚儀的技術(shù)問題，請聯(lián)系我們岱美儀器。

測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射(AR)光譜和殘余顏色,，以及硬涂層和疏水層的厚度,。測量范例：F10-AR系統(tǒng)配備HC升級選擇通過反射率信息進(jìn)行硬涂層厚度測量。這款儀器儀器采用接觸探頭,，從而降低背面反射影響,，并可測凹凸表面。接觸探頭安置在鏡頭表面,。FILMeasure軟件自動分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格,。可測平均反射率,，指定點(diǎn)蕞小蕞大反射率,，以抵消硬涂層的存在。如果這個鏡頭符合要求,，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示,。F40-UV范圍：4nm-40μm，波長：190-1100nm,。

平臺和平臺附件標(biāo)準(zhǔn)和磚用平臺,。CS-1可升級接觸式SS-3樣品臺，可測波長范圍190-1700nmSS-36“×6”樣品平臺,，F(xiàn)20系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置,。可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，103mm進(jìn)深,。適用所有波長范圍。SS-3-88“×8”樣品平臺,?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度，139mm進(jìn)深,。適用所有波長范圍,。SS-3-24F20的24“×24”樣品平臺?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm進(jìn)深。適用所有波長范圍,。SS-56"x6"吋樣品臺,，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件，需搭配具有APC接頭的光纖,，全波長范圍使用樣品壓重-SS-3-50樣品壓重SS-3平臺,50mmx50mm樣品壓重-SS-3-110樣品壓重SS-3平臺,110mmx110mmF40測量范圍,；20nm-40μm;波長：400-850nm,。官方授權(quán)膜厚儀實(shí)惠價格

測量方式: 紅外干涉(非接觸式)。授權(quán)膜厚儀免稅價格

顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40系列轉(zhuǎn)接器,。Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將F40接到OlympusBX或MX上而不必使用Olympus價格較貴的c-mount轉(zhuǎn)接器,。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上(模仿F40，光敏度低5倍),，包括集成攝像機(jī),、光纖、TS-Focus-SiO2-4-10000厚度標(biāo)準(zhǔn),、F40軟件,，和F40手冊。軟件升級：UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為F10-AR升級的FFT硬涂層厚度測量軟件。包括TS-Hardcoat-4um厚度標(biāo)準(zhǔn),。厚度測量范圍0.25um-15um,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。授權(quán)膜厚儀免稅價格

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司一直專注于磁記錄,、半導(dǎo)體、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù)，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,，商務(wù)信息咨詢服務(wù) ，是一家儀器儀表的企業(yè),，擁有自己**的技術(shù)體系,。目前我公司在職員工以90后為主，是一個有活力有能力有創(chuàng)新精神的團(tuán)隊(duì),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司主營業(yè)務(wù)涵蓋半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀,，堅持“質(zhì)量保證、良好服務(wù),、顧客滿意”的質(zhì)量方針,，贏得廣大客戶的支持和信賴。公司憑著雄厚的技術(shù)力量、飽滿的工作態(tài)度,、扎實(shí)的工作作風(fēng),、良好的職業(yè)道德，樹立了良好的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備,，光刻機(jī) 鍵合機(jī)，膜厚測量儀形象,，贏得了社會各界的信任和認(rèn)可,。