接觸探頭測量彎曲和難測的表面CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實耐用的不銹鋼單線圈。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射，對1.5mm厚的基板可抑制96%,。鋼制單線圈外加PVC涂層，蕞大可測厚度15um,。CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑17.5mm。CP-C6-1.3探測直徑小至6mm的圓柱形和球形樣品外側(cè),。CP-C12-1.3用于直徑小至12mm圓柱形和球形樣品外側(cè),。CP-C26-1.3用于直徑小至26mm圓柱形和球形樣品外側(cè)。CP-BendingRod-L350-2彎曲長度300mm,，總長度350mm的接觸探頭,。用于難以到達的區(qū)域，但不會自動對準表面,。CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭,。CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑蕞小的接觸探頭，配備微型直角反射鏡,，用來測量小至直徑3mm管子的內(nèi)壁,，不能自動對準表面。CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,，可以在相隔10mm的兩個平坦表面之間進行測量,。不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的。官方授權(quán)經(jīng)銷商膜厚儀優(yōu)惠價格

參考材料備用BK7和二氧化硅參考材料,。BG-Microscope顯微鏡系統(tǒng)內(nèi)取背景反射的小型抗反光鏡BG-F10-RT平臺系統(tǒng)內(nèi)獲取背景反射的抗反光鏡REF-Al-1mmSubstrate基底-高反射率鋁基準REF-Al-3mmSubstrate基底-高反射率鋁基準REF-BK71?"x1?"BK7反射基準,。REF-F10RT-FusedSilica-2Side背面未經(jīng)處理的石英，用于雙界面基準,。REF-Si-22"單晶硅晶圓REF-Si-44"單晶硅晶圓REF-Si-66"單晶硅晶圓REF-Si-88"單晶硅晶圓REF-SS3-Al專為SS-3樣品平臺設(shè)計之鋁反射率基準片REF-SS3-BK7專為SS-3樣品平臺設(shè)計之BK7玻璃反射率基準片REF-SS3-Si專為SS-3樣品平臺設(shè)計之硅反射率基準片薄膜厚度測量儀膜厚儀學校會用嗎可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力,。

  F20系列是世界上蕞**的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng),，只需按下一個按鈕，不到一秒鐘即可同時測量厚度和折射率,。設(shè)置也非常簡單,只需把設(shè)備連接到您運行Windows?系統(tǒng)的計算機USB端口,并連接樣品平臺就可以了,。F20系列不同型號的選擇，主要取決于您需要測量的薄膜厚度（確定所需的波長范圍）,。型號厚度范圍*波長范圍F2015nm-70μm380-1050nmF20-EXR15nm-250μm380-1700nmF20-NIR100nm-250μm950-1700nmF20-UV1nm-40μm190-1100nmF20-UVX1nm-250μm190-1700nmF20-XTμm-450μm1440-1690nm*取決于薄膜種類Filmetrics膜厚測試儀通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度,，通過非可見光的測量，可以測量薄至1nm或厚至13mm的薄膜,。測量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度,、顏色、折射率甚至是表面粗糙度,。1.有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)2.蕞大樣品薄膜厚度的測量范圍是：3nm～25um3.精度高于,、氧化物、氮化物,；,、Polyimides；3.光電鍍膜應用:硬化膜,、抗反射膜,、濾波片。1.光源有壽命,，不用時請關(guān)閉2.光纖易損,，不要彎折，不要頻繁插拔3.精密儀器,。

濾光片整平光譜響應,。ND#0.5衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#0.5衰減整平濾波器.ND#1衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#1衰減整平濾波器.ND#2衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#2衰減整平濾波器.420nm高通濾波器.420nm高通濾波器於濾波器架.515nm高通濾波器.515nm高通濾波器於濾波器架.520nm高通濾波器+ND1.520nm高通濾波器+ND#1十倍衰減整平濾波器.520nm高通濾波器+ND#2520nm高通濾波器+ND#2一百倍衰減整平濾波器.550nm高通濾波器550nm高通濾波器於濾波器架.應用：襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響),，平整度。

軟件升級提供專門用途的軟件,。UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為F10-AR升級的FFT硬涂層厚度測量軟件。包括TS-Hardcoat-4um厚度標準,。厚度測量范圍,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。其他：手提電腦手提電腦預裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件,。電腦提箱用于攜帶F10、F20,、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通，"conflat,、雙出入孔SMA,，并通過泄漏測試。LensPaper-CenterHole中間開孔鏡頭紙,，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張。只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。Filmetrics F3-SX膜厚儀技術(shù)服務(wù)

F3-sX 系列測厚范圍：10μm - 3mm；波長：960-1580nm,。官方授權(quán)經(jīng)銷商膜厚儀優(yōu)惠價格

備用光源：LAMP-TH1-5PAK：F10,、F20、F30,、F40,、F50,、和F60系統(tǒng)的非紫外光源,。5個/盒。1200小時平均無故障,。LAMP-TH：F42F42系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障。LAMP-THF60：F60系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障,。LAMP-THF80：F80系統(tǒng)的光源。1000小時平均無故障,。LAMP-D2-L10290：L10290氘光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者。LAMP-TH-L10290：L10290鎢鹵素光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者,。LAMP-D2-LS和DT2：LS和DT2光源需更換氘燈,而鹵素燈光源需更換使用LAMP-TH1-5PAK.官方授權(quán)經(jīng)銷商膜厚儀優(yōu)惠價格

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司是一家貿(mào)易型類企業(yè)，積極探索行業(yè)發(fā)展,，努力實現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新,。是一家其他有限責任公司企業(yè)，隨著市場的發(fā)展和生產(chǎn)的需求,，與多家企業(yè)合作研究,，在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進,，追求新型，在強化內(nèi)部管理,，完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時,，良好的質(zhì)量、合理的價格,、完善的服務(wù),，在業(yè)界受到寬泛好評。公司業(yè)務(wù)涵蓋半導體工藝設(shè)備,，半導體測量設(shè)備,，光刻機 鍵合機，膜厚測量儀,，價格合理,，品質(zhì)有保證，深受廣大客戶的歡迎,。岱美中國順應時代發(fā)展和市場需求,，通過**技術(shù)，力圖保證高規(guī)格高質(zhì)量的半導體工藝設(shè)備,，半導體測量設(shè)備,，光刻機 鍵合機，膜厚測量儀,。