F10-HC輕而易舉而且經(jīng)濟有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC以FilmetricsF20平臺為基礎,，根據(jù)光譜反射數(shù)據(jù)分析快速提供薄膜測量結果,。F10-HC先進的模擬算法是為測量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如，底涂/硬涂層)專門設計的,。全世界共有數(shù)百臺F10-HC儀器在工作，幾乎所有主要汽車硬涂層公司都在使用它們,。像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)10-HC可以連接到您裝有Windows計算機的USB端口并在幾分鐘內完成設定。包含的內容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure讀立軟件(用于遠程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料TS-Hardcoat-4um厚度標準備用燈額外的好處：應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃,。F50測厚范圍：20nm-70μm；波長：380-1050nm,。盒厚測量膜厚儀免稅價格

測量眼科設備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射(AR)光譜和殘余顏色,，以及硬涂層和疏水層的厚度。減反涂層減反涂層用來減少眩光以及無涂層鏡片導致的眼睛疲勞,。減反鏡片的藍綠色彩也吸引了眾多消費者,。因此，測量和控制減反涂層及其色彩就變得越來越重要了,。FilmetricsF10-AR是專門為各類眼鏡片設計的,，配備多種獨特功能用于減反涂層檢測。硬涂層硬涂層用來增加抗劃痕和抗紫外線的能力,。在鏡片上涂抹硬涂層,，就提供了這種保護，而減反涂層則是不太柔軟的較硬鍍層,。FilmetricsF10-AR配備了硬涂層測量升級軟件,。可以測量厚達15微米的一層或兩層硬涂層,。疏水層疏水涂層使減反鏡片具有對水和油排斥的屬性,，使它們易于清潔。這些涂層都是特別薄的–只有一百個原子的數(shù)量級–因此需要短波(紫外線)光來精確測量,。測量疏水層厚度的蕞佳儀器就是配備了UPG-F10-AR-d和UPG-F10-RT-nk升級軟件的F10-AR-UV,。鏡片的穿透率測量F10-AR可選購SS-Trans-Curved樣品臺用于測量鏡片的穿透率。干涉膜厚儀出廠價Filmetrics 提供一系列的和測繪系統(tǒng)來測量 3nm 到 1mm 的單層,、 多層,、 以及單獨的光刻膠薄膜。

集成電路故障分析故障分析(FA)技術用來尋找并確定集成電路內的故障原因,。故障分析中需要進行薄膜厚度測量的兩種主要類型是正面去層(用于傳統(tǒng)的面朝上的電路封裝)和背面薄化(用于較新的覆晶技術正面朝下的電路封裝),。正面去層正面去層的工藝需要了解電介質薄化后剩余電介質的厚度。背面故障分析背面故障分析需要在電路系統(tǒng)成像前移除大部分硅晶粒的厚度,，并了解在每個薄化步驟后剩余的硅厚度是相當關鍵的,。FilmetricsF3-sX是為了測量在不同的背面薄化過程的硅層厚度而專門設計的系統(tǒng)。厚度從5微米到1000微米能夠很容易的測量,，另外可選配模組來延伸蕞小測量厚度至0.1微米,，同時具有單點和多點測繪的版本可供選擇。測量范例現(xiàn)在我們使用我們的F3-s1550系統(tǒng)測量在不同的背面薄化過程的硅層厚度.具備特殊光學設計之F3-S1550利用比直徑更小於10μm的光斑尺寸得以測量拋光以及粗糙或不均勻表面的硅層厚度

F10-AR無須處理涂層背面我們探頭設計能抑制1.5mm厚基板98%的背面反射，使用更厚的鏡頭抑制的更多,。就像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)10-AR需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數(shù)分鐘內即可完成設定。包含的內容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure獨力軟件(用于遠程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料整平濾波器(用于高反射基板)備用燈額外的好處：每臺系統(tǒng)內建超過130種材料庫,隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃F3-s980 是波長為980奈米的版本,，是為了針對成本敏銳的應用而設計,。

  氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭，就可在F20的基礎上升級為新一代的F70膜厚測量儀,。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應用,，在可測樣品基底上有了極大的飛躍：●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量，即使是藥片,，木材或紙張等粗糙的非透明基底,。●玻璃或塑料的板材,、管道和容器,。●光學鏡頭和眼科鏡片,。Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右,。F20-EXR測厚范圍：15nm - 250μm；波長：380-1700nm,。Filmetrics F-HC膜厚儀推薦廠家

F20-UV測厚范圍：1nm - 40μm,；波長：190-1100nm。盒厚測量膜厚儀免稅價格

濾光片整平光譜響應,。ND#0.5衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#0.5衰減整平濾波器.ND#1衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#1衰減整平濾波器.ND#2衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#2衰減整平濾波器.420nm高通濾波器.420nm高通濾波器於濾波器架.515nm高通濾波器.515nm高通濾波器於濾波器架.520nm高通濾波器+ND1.520nm高通濾波器+ND#1十倍衰減整平濾波器.520nm高通濾波器+ND#2520nm高通濾波器+ND#2一百倍衰減整平濾波器.550nm高通濾波器550nm高通濾波器於濾波器架.盒厚測量膜厚儀免稅價格

岱美儀器技術服務（上海）有限公司主營品牌有EVG,Filmetrics,MicroSense,Herz,Herzan,Film Sense,Polyteknik,4D,Nanotronics,Subnano,Bruker,FSM,SHB,，發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大，該公司貿易型的公司,。公司是一家其他有限責任公司企業(yè),，以誠信務實的創(chuàng)業(yè)精神、專業(yè)的管理團隊,、踏實的職工隊伍,，努力為廣大用戶提供***的產(chǎn)品。公司擁有專業(yè)的技術團隊,，具有半導體工藝設備,，半導體測量設備，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀等多項業(yè)務,。岱美中國順應時代發(fā)展和市場需求，通過**技術,，力圖保證高規(guī)格高質量的半導體工藝設備,，半導體測量設備,，光刻機 鍵合機，膜厚測量儀,。