銦錫氧化物與透明導(dǎo)電氧化物液晶顯示器，有機(jī)發(fā)光二極管變異體,，以及絕大多數(shù)平面顯示器技術(shù)都依靠透明導(dǎo)電氧化物(TCO)來傳輸電流,，并作每個發(fā)光元素的陽極。和任何薄膜工藝一樣,，了解組成顯示器各層物質(zhì)的厚度至關(guān)重要,。對于液晶顯示器而言，就需要有測量聚酰亞胺和液晶層厚度的方法,，對有機(jī)發(fā)光二極管而言,，則需要測量發(fā)光、電注入和封裝層的厚度,。在測量任何多個層次的時候,，諸如光譜反射率和橢偏儀之類的光學(xué)技術(shù)需要測量或建模估算每一個層次的厚度和光學(xué)常數(shù)(反射率和k值)。不幸的是,，使得氧化銦錫和其他透明導(dǎo)電氧化物在顯示器有用的特性,，同樣使這些薄膜層難以測量和建模，從而使測量在它們之上的任何物質(zhì)變得困難,。Filmetrics的氧化銦錫解決方案Filmetrics已經(jīng)開發(fā)出簡便易行而經(jīng)濟(jì)有效的方法,，利用光譜反射率精確測量氧化銦錫。將新型的氧化銦錫模式和F20-EXR,很寬的400-1700nm波長相結(jié)合,，從而實現(xiàn)氧化銦錫可靠的“一鍵”分析,。氧化銦錫層的特性一旦得到確定,，剩余顯示層分析的關(guān)鍵就解決了。只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。湖北膜厚儀摩擦學(xué)應(yīng)用

  更可加裝至三個探頭，同時測量三個樣品,，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇,。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外，可提供*小5um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺,，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping),。F70:瑾通過在F20基本平臺上增加鏡頭，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至,。F10-RT：在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量，特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源,，特別適用于超薄膜層厚度和n、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學(xué)參數(shù)（n和k）。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度,、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個桌面系統(tǒng)組裝起來。F20包括所有測量需要的部件：分光計,、光源,、光纖導(dǎo)線、鏡頭集和和Windows下運(yùn)行的軟件,。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實例幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist。半導(dǎo)體膜厚儀摩擦學(xué)應(yīng)用要想成功測量光刻膠要面對一些獨(dú)特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

鏡頭組件Filmetrics提供幾十種不同鏡頭配置。訂制專門用途的鏡片一般在幾天之內(nèi)可以完成,。LA-GL25-25-30-EXR用于60-1000mm工作距離的直徑1"鏡頭組件,，30mm焦距鏡頭,。KM-GL25用于直徑1"鏡頭的簡化動力支架?？梢栽趦蓚€軸上斜向調(diào)節(jié),。8-32安裝螺紋。KM-F50用于直徑0.5"鏡頭的簡化動力支架,。還可以用于F50,。可提供不同的鏡頭組合,。LA-F50/SS-13-20-UVX小光斑(200um)選項,，可見光,近紅外或紫外線。如果您想要了解更多的信息,，請聯(lián)系我們岱美儀器,。

  其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間，測量精度高達(dá)1埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá),，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機(jī)型可選?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等,。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術(shù),*多4層透明薄膜厚度、n,、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得,。其應(yīng)用光泛，例如:半導(dǎo)體工業(yè):光阻,、氧化物,、氮化物。LCD工業(yè):間距(cellgaps),，ito電極,、polyimide保護(hù)膜。光電鍍膜應(yīng)用:硬化鍍膜,、抗反射鍍膜,、過濾片。極易操作,、快速,、準(zhǔn)確、機(jī)身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型,，可以實現(xiàn)反射、膜厚,、n,、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機(jī)腔體外的窗口?？蓪崟r監(jiān)控長晶速度,、實時提供膜厚、n,、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距。F50測厚范圍：20nm-70μm,；波長：380-1050nm,。

F30包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置光斑尺寸10微米的單點測量平臺FILMeasure8反射率測量軟件Si參考材料FILMeasure度力軟件(用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫,隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃型號厚度范圍*波長范圍F3-s980:10μm-1mm960-1000nmF3-s1310:15μm-2mm1280-1340nmF3-s1550:25μm-3mm1520-1580nm*取決于薄膜種類。一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。晶片膜厚儀國內(nèi)用戶

F3-sX 系列測厚范圍：10μm - 3mm；波長：960-1580nm,。湖北膜厚儀摩擦學(xué)應(yīng)用

測量復(fù)雜的有機(jī)材料典型的有機(jī)發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層,，空穴傳輸層，以及重組/發(fā)光層,。所有這些層都有不尋常有機(jī)分子（小分子和/或聚合物）,。雖然有機(jī)分子高度反常色散，測量這些物質(zhì)的光譜反射充滿挑戰(zhàn),，但對Filmetrics卻不盡然,。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個OLED的開發(fā)歷史，能夠處理隨著有機(jī)分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征,。軟基底上的薄膜有機(jī)發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力,，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準(zhǔn)，這對托偏儀測量是個嚴(yán)重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復(fù)雜光學(xué),，或者打磨PET背面。 而這些對我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓(xùn)和測量時間,。操作箱中測量有機(jī)發(fā)光顯示器材料對水和氧極度敏感。 很多科研小組都要求在控制的干燥氮?dú)獠僮飨渲袦y量,。 而我們體積小,，模塊化，光纖設(shè)計的儀器提供非密封,、實時“操作箱”測量,。湖北膜厚儀摩擦學(xué)應(yīng)用

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司是一家貿(mào)易型類企業(yè)，積極探索行業(yè)發(fā)展,，努力實現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新,。是一家其他有限責(zé)任公司企業(yè),，隨著市場的發(fā)展和生產(chǎn)的需求，與多家企業(yè)合作研究,，在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進(jìn),，追求新型，在強(qiáng)化內(nèi)部管理,，完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時,，良好的質(zhì)量、合理的價格,、完善的服務(wù),，在業(yè)界受到寬泛好評。公司始終堅持客戶需求優(yōu)先的原則,，致力于提供高質(zhì)量的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀,。岱美中國順應(yīng)時代發(fā)展和市場需求，通過**技術(shù),，力圖保證高規(guī)格高質(zhì)量的半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀,。