電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學,，半導體,，以及其它數(shù)十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。常見的電介質(zhì)有:二氧化硅 – 蕞簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0),， 而且非常接近化學計量 (就是說,，硅：氧非常接近 1:2),。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應規(guī)范,，通常被用來做厚度和折射率標準,。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度,。氮化硅 – 對此薄膜的測量比很多電介質(zhì)困難，因為硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要與薄膜厚度同時測量。 更麻煩的是,，氧常常滲入薄膜,，生成一定程度的氮氧化硅，增大測量難度,。 但是幸運的是,，我們的系統(tǒng)能在幾秒鐘內(nèi) “一鍵” 測量氮化硅薄膜完整特征!F40測量范圍；20nm-40μm;波長：400-850nm,。Filmetrics F10-AR膜厚儀優(yōu)惠價格

光纖紫外線,、可見光譜和近紅外備用光纖。接觸探頭是相當堅固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過,。該套件包括指令，以及簡單的維修工具,，新的和舊風格的探頭,。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長，直徑200um的光纖,，兩端配備SMA接頭,。米長，分叉反射探頭,。通用附件攜帶箱等,。手提電腦手提電腦預裝FILMeasure軟件、XP和Microsoft辦公軟件,。電腦提箱用于攜帶F10,、F20、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通,，"conflat、雙出入孔SMA,，并通過泄漏測試,。LensPaper-CenterHole中間開孔鏡頭紙，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張,。銦錫氧化物膜厚儀芯片行業(yè)可見光可測試的深度，良好的厚樣以及多層樣品的局部應力,。

TotalThicknessVariation(TTV)應用規(guī)格:測量方式:紅外干涉(非接觸式)樣本尺寸:50,、75、100,、200,、300mm,，也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸測量厚度:15—780μm(單探頭)3mm(雙探頭總厚度測量)掃瞄方式:半自動及全自動型號,另2D/3D掃瞄(Mapping)可選襯底厚度測量:TTV、平均值,、*小值,、*大值、公差...可選粗糙度:20—1000?(RMS)重復性:0.1μm(1sigma)單探頭*0.8μm(1sigma)雙探頭*分辨率:10nm請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多關(guān)于本產(chǎn)品的信息,。

FSM8018VITE測試系列設(shè)備VITE技術(shù)介紹：VITE是傅里葉頻域技術(shù),，利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)（Phasesheartechnology）設(shè)備介紹適用于所有可讓近紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度,、側(cè)壁角度...F30樣品層:分子束外延和金屬有機化學氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的，或輕度吸收的薄膜,。

光源用于一般用途應用之光源L思-DDT2可用在Filmetrics設(shè)備的光源具有氘燈-鎢絲與遠端控制的快門來取代舊款HamamatsuD2光源L思-DLED1具有高亮度白光LED的光源光纖配件：CP-RepairToolKitCP-1-1.3接觸探頭是相當堅固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過。該套件包括指令,，以及簡單的維修工具,，新的和舊風格的探頭。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長,，直徑200um的光纖,，兩端配備SMA接頭。FO-RP1-.25-SMA-200-1.32米長,，分叉反射探頭。測量厚度: 15 — 780 μm (單探頭) ,； 3 mm (雙探頭總厚度測量),。官方授權(quán)經(jīng)銷商膜厚儀用途是什么

成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn)， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。Filmetrics F10-AR膜厚儀優(yōu)惠價格

  氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內(nèi)存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭,，就可在F20的基礎(chǔ)上升級為新一代的F70膜厚測量儀。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應用,，在可測樣品基底上有了極大的飛躍：●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,，即使是藥片,，木材或紙張等粗糙的非透明基底?！癫ＡЩ蛩芰系陌宀?、管道和容器?！窆鈱W鏡頭和眼科鏡片,。Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右Filmetrics光學膜厚測量儀經(jīng)驗**無出其右。Filmetrics F10-AR膜厚儀優(yōu)惠價格