備用光源：LAMP-TH1-5PAK：F10,、F20,、F30,、F40、F50,、和F60系統(tǒng)的非紫外光源。5個/盒,。1200小時平均無故障,。LAMP-TH：F42F42系統(tǒng)的光源。1000小時平均無故障,。LAMP-THF60：F60系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障。LAMP-THF80：F80系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障,。LAMP-D2-L10290：L10290氘光源。2007年到2014年F20-UV的使用者。LAMP-TH-L10290：L10290鎢鹵素光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者,。LAMP-D2-LS和DT2：LS和DT2光源需更換氘燈,而鹵素燈光源需更換使用LAMP-TH1-5PAK.F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度，即使有許多肉眼看來不透光(例如半導體),。半導體薄膜膜厚儀代理價格

F10-RT同時測量反射和透射以真空鍍膜為設計目標,，F(xiàn)10-RT只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。只需傳統(tǒng)價格的一小部分,，用戶就能進行蕞低/蕞高分析,、確定FWHM并進行顏色分析?？蛇x的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用FilmetricsF10的分析能力,。測量結果能被快速地導出和打印。包含的內容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件BK7參考材料Al2O3參考材料Si參考材料防反光板鏡頭紙額外的好處：每臺系統(tǒng)內建超過130種材料庫,隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃美國進口膜厚儀有哪些品牌F30測厚范圍：15nm-70μm,；波長：380-1050nm,。

測量眼科設備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射(AR)光譜和殘余顏色，以及硬涂層和疏水層的厚度,。減反涂層減反涂層用來減少眩光以及無涂層鏡片導致的眼睛疲勞,。減反鏡片的藍綠色彩也吸引了眾多消費者。因此,，測量和控制減反涂層及其色彩就變得越來越重要了,。FilmetricsF10-AR是專門為各類眼鏡片設計的，配備多種獨特功能用于減反涂層檢測,。硬涂層硬涂層用來增加抗劃痕和抗紫外線的能力,。在鏡片上涂抹硬涂層，就提供了這種保護,，而減反涂層則是不太柔軟的較硬鍍層,。FilmetricsF10-AR配備了硬涂層測量升級軟件?？梢詼y量厚達15微米的一層或兩層硬涂層,。疏水層疏水涂層使減反鏡片具有對水和油排斥的屬性，使它們易于清潔,。這些涂層都是特別薄的–只有一百個原子的數(shù)量級–因此需要短波(紫外線)光來精確測量,。測量疏水層厚度的蕞佳儀器就是配備了UPG-F10-AR-d和UPG-F10-RT-nk升級軟件的F10-AR-UV。鏡片的穿透率測量F10-AR可選購SS-Trans-Curved樣品臺用于測量鏡片的穿透率,。

F10-AR無須處理涂層背面我們探頭設計能抑制1.5mm厚基板98%的背面反射,，使用更厚的鏡頭抑制的更多。就像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)10-AR需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數(shù)分鐘內即可完成設定,。包含的內容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure獨力軟件(用于遠程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料整平濾波器(用于高反射基板)備用燈額外的好處：每臺系統(tǒng)內建超過130種材料庫,隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃F40-UV范圍：4nm-40μm,，波長：190-1100nm。

厚度標準：所有Filmetrics厚度標準都是得到驗證可追溯的NIST標準,。S-Custom-NIST：在客戶提供的樣品上定制可追溯的NIST厚度校準,。TS-Focus-SiO2-4-3100SiO2-on-Si：厚度標準，外加調焦區(qū)和單晶硅基準,，厚度大約3100A,，4"晶圓。TS-Focus-SiO2-4-10000SiO2-on-Si：厚度標準,，外加調焦區(qū)和單晶硅基準,，厚度大約10000A，4"晶圓,。TS-Hardcoat-4μm：丙烯酸塑料硬涂層厚度標準,，厚度大約4um，直徑2",。TS-Hardcoat-Trans：背面透明的硬涂層,，可用于透射測量。TS-Parylene-4um：丙烯酸塑料上的聚對二甲苯厚度標準,，厚度大約4um,，直徑2"。TS-Parylene-8um：硅基上的聚對二甲苯厚度標準,，厚度大約8um，23mmx23mm,。TS-SiO2-4-7200：硅基上的二氧化硅厚度標準,，厚度大約7200A，4"晶圓,。TS-SiO2-4-7200-NIST：可追溯的NISTSiO2-4-7200厚度標準,。TS-SiO2-6-Multi：多厚度硅基上的二氧化硅標準:125埃米，250埃米,，500埃米,，1000埃米，5000埃米,，和10000埃米(+/-10%誤差),，6英寸晶圓。TS-SS3-SiO2-8000：專為SS-3樣品平臺設計之二氧化硅厚度標準片,厚度大約為8000A,。以真空鍍膜為設計目標,，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。ITO膜厚儀推薦產品

要想成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。半導體薄膜膜厚儀代理價格

FSM膜厚儀簡單介紹：FSM128厚度以及TSV和翹曲變形測試設備:美國FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年,，總部位于圣何塞，多年來為半導體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設備,，客戶遍布全世界,主要產品包括:光學測量設備:三維輪廓儀,、拉曼光譜、薄膜應力測量設備,、紅外干涉厚度測量設備,、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及漏電流測量設備,、金屬污染分析,、等效氧化層厚度分析(EOT)。請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多的信息,。半導體薄膜膜厚儀代理價格

岱美儀器技術服務（上海）有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經濟奇跡,，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地,，繪畫新藍圖，在上海市等地區(qū)的儀器儀表中始終保持良好的信譽,，信奉著“爭取每一個客戶不容易,，失去每一個用戶很簡單”的理念，市場是企業(yè)的方向,，質量是企業(yè)的生命,，在公司有效方針的領導下，全體上下,，團結一致,，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好,，努力開創(chuàng)工作的新局面,，公司的新高度，未來岱美儀器技術服務供應和您一起奔向更美好的未來,，即使現(xiàn)在有一點小小的成績,，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗,，才能繼續(xù)上路,，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想,！