電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學,，半導體,，以及其它數(shù)十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。常見的電介質(zhì)有:二氧化硅 – 蕞簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0),， 而且非常接近化學計量 (就是說，硅：氧非常接近 1:2),。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應規(guī)范,，通常被用來做厚度和折射率標準。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度,。氮化硅 – 對此薄膜的測量比很多電介質(zhì)困難，因為硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要與薄膜厚度同時測量,。 更麻煩的是,，氧常常滲入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅,，增大測量難度,。 但是幸運的是，我們的系統(tǒng)能在幾秒鐘內(nèi) “一鍵” 測量氮化硅薄膜完整特征!產(chǎn)品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C,。薄膜測厚儀膜厚儀液晶顯示行業(yè)

自動厚度測量系統(tǒng)幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機器人加載均可。在線厚度測量系統(tǒng)監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達100Hz的采樣率可以在多個測量位置得到,。附件Filmetrics提供各種附件以滿足您的應用需要。F20系列世界上蕞**的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。設(shè)置同樣簡單,只需插上設(shè)備到您運行Windows?系統(tǒng)計算機的USB端口,并連接樣品平臺,F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用.事實上，我們每天從我們的客戶學習更多的應用.選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）Filmetrics F50膜厚儀研發(fā)生產(chǎn)成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

軟件升級提供專門用途的軟件。UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT,。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為F10-AR升級的FFT硬涂層厚度測量軟件,。包括TS-Hardcoat-4um厚度標準。厚度測量范圍,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。其他：手提電腦手提電腦預裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件,。電腦提箱用于攜帶F10、F20,、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通，"conflat,、雙出入孔SMA,，并通過泄漏測試。LensPaper-CenterHole中間開孔鏡頭紙,，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張。

電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學,，半導體,，以及其它數(shù)十個行業(yè),而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜。測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì),，鈍化層,，或掩膜材料被廣泛應用于半導體產(chǎn)業(yè)。這個案例中，我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,，折射率,，和消光系數(shù)。有趣的事,，氮化硅薄膜的光學性質(zhì)與薄膜的分子當量緊密相關(guān),。使用Filmetrics專有的氮化硅擴散模型，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學性質(zhì),，不管他們是富硅,，貧硅，還是分子當量,。F10-AR在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進行蕞低,、蕞高和平均反射測試。

  更可加裝至三個探頭,，同時測量三個樣品,，具紫外線區(qū)或標準波長可供選擇。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:瑾通過在F20基本平臺上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至。F10-RT：在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,，特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源，特別適用于超薄膜層厚度和n,、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學參數(shù)（n和k）。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度,、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個桌面系統(tǒng)組裝起來。F20包括所有測量需要的部件：分光計,、光源,、光纖導線、鏡頭集和和Windows下運行的軟件,。您需要的只是接上您的電腦。膜層實例幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist?？蓽y量的層數(shù): 通常能夠測量薄膜堆內(nèi)的三層獨力薄膜,。 在某些情況下，能夠測量到十幾層,。干涉膜厚儀液晶顯示行業(yè)

一般較短波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜，而較長波長可以測量更厚,、更不平整和更不透明的薄膜,。薄膜測厚儀膜厚儀液晶顯示行業(yè)

生物醫(yī)療器械應用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準備方面會用到許多類型的涂層。有些涂層是為了保護設(shè)備免受腐蝕,，而其他的則是為了預防組織損傷,、感然或者是排異反應。藥物傳輸涂層也變得日益普通,。其它生物醫(yī)學器械,，如血管成型球囊，具有獨力的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作,。測量范例：支架是塑料或金屬制成的插入血管防止收縮的小管。很多時候,，這些支架用聚合物或藥物涂層處理,，以提高功能和耐腐蝕。F40配上20倍物鏡（25微米光斑）,，我們能夠測量沿不銹鋼支架外徑這些涂層的厚度,。這個功能強大的儀器提供醫(yī)療器械行業(yè)快速可靠，非破壞性,，無需樣品準備的厚度測量,。薄膜測厚儀膜厚儀液晶顯示行業(yè)

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思,，創(chuàng)經(jīng)濟奇跡,，一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍圖,，在上海市等地區(qū)的儀器儀表中始終保持良好的信譽,，信奉著“爭取每一個客戶不容易，失去每一個用戶很簡單”的理念,，市場是企業(yè)的方向,，質(zhì)量是企業(yè)的生命,，在公司有效方針的領(lǐng)導下，全體上下,，團結(jié)一致,，共同進退，**協(xié)力把各方面工作做得更好,，努力開創(chuàng)工作的新局面,，公司的新高度，未來岱美儀器技術(shù)服務(wù)供應和您一起奔向更美好的未來,，即使現(xiàn)在有一點小小的成績,，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗,，才能繼續(xù)上路,，讓我們一起點燃新的希望，放飛新的夢想,！