F10-HC輕而易舉而且經(jīng)濟(jì)有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC以FilmetricsF20平臺(tái)為基礎(chǔ)，根據(jù)光譜反射數(shù)據(jù)分析快速提供薄膜測量結(jié)果。F10-HC先進(jìn)的模擬算法是為測量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如,，底涂/硬涂層)專門設(shè)計(jì)的,。全世界共有數(shù)百臺(tái)F10-HC儀器在工作，幾乎所有主要汽車硬涂層公司都在使用它們,。像我們所有的臺(tái)式儀器一樣，F(xiàn)10-HC可以連接到您裝有Windows計(jì)算機(jī)的USB端口并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)定。包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure讀立軟件(用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料TS-Hardcoat-4um厚度標(biāo)準(zhǔn)備用燈額外的好處：應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃,。F50-NIR測厚范圍：100nm-250μm；波長：950-1700nm,。半導(dǎo)體薄膜膜厚儀原產(chǎn)地

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請(qǐng)瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對(duì)您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。單點(diǎn)厚度測量：一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺(tái)式測量系統(tǒng),。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆,。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng),。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點(diǎn)只有1微米（μm）時(shí)，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個(gè)系統(tǒng),。官方授權(quán)分銷膜厚儀實(shí)際價(jià)格F50-XT測厚范圍：0.2μm-450μm,；波長：1440-1690nm。

  F20系列是世界上蕞**的臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng),，只需按下一個(gè)按鈕,，不到一秒鐘即可同時(shí)測量厚度和折射率。設(shè)置也非常簡單,只需把設(shè)備連接到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)USB端口,并連接樣品平臺(tái)就可以了,。F20系列不同型號(hào)的選擇,，主要取決于您需要測量的薄膜厚度（確定所需的波長范圍）。型號(hào)厚度范圍*波長范圍F2015nm-70μm380-1050nmF20-EXR15nm-250μm380-1700nmF20-NIR100nm-250μm950-1700nmF20-UV1nm-40μm190-1100nmF20-UVX1nm-250μm190-1700nmF20-XTμm-450μm1440-1690nm*取決于薄膜種類Filmetrics膜厚測試儀通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度,，通過非可見光的測量,，可以測量薄至1nm或厚至13mm的薄膜。測量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度,、顏色,、折射率甚至是表面粗糙度。1.有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)2.蕞大樣品薄膜厚度的測量范圍是：3nm～25um3.精度高于,、氧化物,、氮化物；,、Polyimides,；3.光電鍍膜應(yīng)用:硬化膜、抗反射膜,、濾波片,。1.光源有壽命，不用時(shí)請(qǐng)關(guān)閉2.光纖易損,，不要彎折,，不要頻繁插拔3.精密儀器。

F50系列包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置光纖電纜4",6"and200mm參考晶圓TS-SiO2-4-7200厚度標(biāo)準(zhǔn)BK7參考材料整平濾波器(用于高反射基板)真空泵備用燈型號(hào)厚度范圍*波長范圍F50：20nm-70μm380-1050nmF50-UV：5nm-40μm190-1100nmF50-NIR：100nm-250μm950-1700nmF50-EXR：20nm-250μm380-1700nmF50-UVX：5nm-250μm190-1700nmF50-XT：0.2μm-450μm1440-1690nmF50-s980：4μm-1mm960-1000nmF50-s1310：7μm-2mm1280-1340nmF50-s1550：10μm-3mm1520-1580nm額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫,隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃要想成功測量光刻膠要面對(duì)一些獨(dú)特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動(dòng)測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

F50和F60的晶圓平臺(tái)提供不同尺寸晶圓平臺(tái)。F50晶圓平臺(tái)-100mm用于2",、3"和4"晶圓的F50平臺(tái)組件,。F50晶圓平臺(tái)-200mm用于4"、5"、6"和200mm晶圓的F50平臺(tái)組件,。F50晶圓平臺(tái)-300mm用于4"、5",、6",、200mm和300mm晶圓的F50平臺(tái)組件。F50晶圓平臺(tái)-450mmF50夾盤組件實(shí)用于4",5",6",200mm,300mm,以及450mm毫米晶片,。F50晶圓平臺(tái)-訂制預(yù)訂F50的晶圓平臺(tái),，通常在四星期內(nèi)交貨。F60晶圓平臺(tái)-200mm用于4",、5",、6"和200mm晶圓的F60平臺(tái)組件。F60晶圓平臺(tái)-300mm用于4",、5",、6"、200mm和300mm晶圓的F60平臺(tái)組件,。采用Michaelson干涉方法,，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體，準(zhǔn)確得到測試結(jié)果,。NK值膜厚儀值得買

F40測量范圍,；20nm-40μm;波長：400-850nm。半導(dǎo)體薄膜膜厚儀原產(chǎn)地

備用光源：LAMP-TH1-5PAK：F10,、F20,、F30、F40,、F50,、和F60系統(tǒng)的非紫外光源。5個(gè)/盒,。1200小時(shí)平均無故障,。LAMP-TH：F42F42系統(tǒng)的光源。1000小時(shí)平均無故障,。LAMP-THF60：F60系統(tǒng)的光源,。1000小時(shí)平均無故障。LAMP-THF80：F80系統(tǒng)的光源,。1000小時(shí)平均無故障,。LAMP-D2-L10290：L10290氘光源。2007年到2014年F20-UV的使用者,。LAMP-TH-L10290：L10290鎢鹵素光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者。LAMP-D2-LS和DT2：LS和DT2光源需更換氘燈,而鹵素?zé)艄庠葱韪鼡Q使用LAMP-TH1-5PAK.半導(dǎo)體薄膜膜厚儀原產(chǎn)地

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司在半導(dǎo)體工藝設(shè)備，半導(dǎo)體測量設(shè)備,，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀一直在同行業(yè)中處于較強(qiáng)地位，無論是產(chǎn)品還是服務(wù),，其高水平的能力始終貫穿于其中,。公司位于金高路2216弄35號(hào)6幢306-308室，成立于2002-02-07,，迄今已經(jīng)成長為儀器儀表行業(yè)內(nèi)同類型企業(yè)的佼佼者,。岱美中國以半導(dǎo)體工藝設(shè)備，半導(dǎo)體測量設(shè)備,，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀為主業(yè)，服務(wù)于儀器儀表等領(lǐng)域,，為全國客戶提供先進(jìn)半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機(jī) 鍵合機(jī),，膜厚測量儀,。多年來，已經(jīng)為我國儀器儀表行業(yè)生產(chǎn),、經(jīng)濟(jì)等的發(fā)展做出了重要貢獻(xiàn),。