電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學，半導體,，以及其它數(shù)十個行業(yè),而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì)，鈍化層,，或掩膜材料被廣泛應(yīng)用于半導體產(chǎn)業(yè),。這個案例中，我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,，折射率,，和消光系數(shù)。有趣的事，氮化硅薄膜的光學性質(zhì)與薄膜的分子當量緊密相關(guān),。使用Filmetrics專有的氮化硅擴散模型,，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學性質(zhì)，不管他們是富硅,，貧硅,，還是分子當量。不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。光刻膠膜厚儀代理價格

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。單點厚度測量：一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng),。有各種不同附件和波長覆蓋范圍。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng),。單層膜膜厚儀半導體行業(yè)采用Michaelson干涉方法，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體,，準確得到測試結(jié)果,。

  更可加裝至三個探頭，同時測量三個樣品,，具紫外線區(qū)或標準波長可供選擇,。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外，可提供*小5um光點(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品,。F50:這型號配備全自動XY工作臺,，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping),。F70:瑾通過在F20基本平臺上增加鏡頭，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至,。F10-RT：在F20實現(xiàn)反射率跟穿透率的同時測量,，特殊光源設(shè)計特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源，特別適用于超薄膜層厚度和n,、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學參數(shù)（n和k）。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個桌面系統(tǒng)組裝起來,。F20包括所有測量需要的部件：分光計、光源,、光纖導線,、鏡頭集和和Windows下運行的軟件。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實例幾乎任何光滑,、半透明、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist,。

F10-RT同時測量反射和透射以真空鍍膜為設(shè)計目標，F(xiàn)10-RT只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜,。只需傳統(tǒng)價格的一小部分,，用戶就能進行蕞低/蕞高分析、確定FWHM并進行顏色分析,?？蛇x的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用FilmetricsF10的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導出和打印,。包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件BK7參考材料Al2O3參考材料Si參考材料防反光板鏡頭紙額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫,隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃要想成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題。

接觸探頭測量彎曲和難測的表面CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實耐用的不銹鋼單線圈,。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射，對1.5mm厚的基板可抑制96%,。鋼制單線圈外加PVC涂層,，蕞大可測厚度15um。CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑17.5mm,。CP-C6-1.3探測直徑小至6mm的圓柱形和球形樣品外側(cè)。CP-C12-1.3用于直徑小至12mm圓柱形和球形樣品外側(cè),。CP-C26-1.3用于直徑小至26mm圓柱形和球形樣品外側(cè),。CP-BendingRod-L350-2彎曲長度300mm，總長度350mm的接觸探頭,。用于難以到達的區(qū)域,，但不會自動對準表面。CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭,。CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑蕞小的接觸探頭,，配備微型直角反射鏡，用來測量小至直徑3mm管子的內(nèi)壁，不能自動對準表面,。CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,，可以在相隔10mm的兩個平坦表面之間進行測量。厚度范圍: 測量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 測量 70nm 到 10um 薄膜的折射率,。液晶顯示膜厚儀代理價格

F40-UV范圍：4nm-40μm，波長：190-1100nm,。光刻膠膜厚儀代理價格

F3-CS：快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易,軟件內(nèi)建所有常見的電介質(zhì)和半導體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學常數(shù)(n和k）,厚度結(jié)果會及時的以直覺的測量結(jié)果顯示對于進階使用者，可以進一步以F3-CS測量折射率,F3-CS可在任何運行WindowsXP到Windows864位作業(yè)系統(tǒng)的計算機上運行,USB電纜則提供電源和通信功能.包含的內(nèi)容：USB供電之光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件內(nèi)置樣品平臺BK7參考材料四萬小時光源壽命額外的好處：應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))光刻膠膜厚儀代理價格

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司是我國半導體工藝設(shè)備,，半導體測量設(shè)備,，光刻機 鍵合機，膜厚測量儀專業(yè)化較早的其他有限責任公司之一,，公司位于金高路2216弄35號6幢306-308室,，成立于2002-02-07，迄今已經(jīng)成長為儀器儀表行業(yè)內(nèi)同類型企業(yè)的佼佼者,。岱美中國致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競爭力,，產(chǎn)品已銷往多個國家和地區(qū)，被國內(nèi)外眾多企業(yè)和客戶所認可,。