光纖紫外線、可見光譜和近紅外備用光纖,。接觸探頭是相當(dāng)堅固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過,。該套件包括指令，以及簡單的維修工具,，新的和舊風(fēng)格的探頭,。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長，直徑200um的光纖,，兩端配備SMA接頭,。米長，分叉反射探頭,。通用附件攜帶箱等。手提電腦手提電腦預(yù)裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件,。電腦提箱用于攜帶F10、F20,、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通，"conflat,、雙出入孔SMA,，并通過泄漏測試。LensPaper-CenterHole中間開孔鏡頭紙,，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張。F40-UV范圍：4nm-40μm,，波長：190-1100nm,。高精密儀器膜厚儀參數(shù)

FSM413SPANDFSM413C2C紅外干涉測量設(shè)備適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應(yīng)用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導(dǎo)體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度,、側(cè)壁角度...FSM413SP半自動機臺人工取放芯片Wafer厚度3D圖形FSM413C2CFullyautomatic全自動機臺人工取放芯片可適配Cassette,、SMIFPOD、FOUP.實驗室膜厚儀價格基本上所有光滑的,、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量,。

平臺和平臺附件標準和磚用平臺。CS-1可升級接觸式SS-3樣品臺,，可測波長范圍190-1700nmSS-36“×6”樣品平臺,，F(xiàn)20系統(tǒng)的標準配置?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，103mm進深。適用所有波長范圍,。SS-3-88“×8”樣品平臺,。可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm進深。適用所有波長范圍,。SS-3-24F20的24“×24”樣品平臺,。可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm進深,。適用所有波長范圍。SS-56"x6"吋樣品臺,，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,，需搭配具有APC接頭的光纖，全波長范圍使用樣品壓重-SS-3-50樣品壓重SS-3平臺,50mmx50mm樣品壓重-SS-3-110樣品壓重SS-3平臺,110mmx110mm

F50系列自動化薄膜測繪FilmetricsF50系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,。一個電動R-Theta平臺可接受標準和客制化夾盤,，樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!)測繪圖案可以是極座標,、矩形或線性的,，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法，并且不受測量點數(shù)量的限制,。內(nèi)建數(shù)十種預(yù)定義的測繪圖案,。不同的F50儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的。標準的F50是很受歡迎的產(chǎn)品。一般較短的波長(例如,，F(xiàn)50-UV)可用于測量較薄的薄膜,，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜,。 采用Michaelson干涉方法,，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體，準確得到測試結(jié)果,。

備用光源：LAMP-TH1-5PAK：F10,、F20、F30,、F40,、F50、和F60系統(tǒng)的非紫外光源,。5個/盒,。1200小時平均無故障。LAMP-TH：F42F42系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障,。LAMP-THF60：F60系統(tǒng)的光源。1000小時平均無故障,。LAMP-THF80：F80系統(tǒng)的光源,。1000小時平均無故障。LAMP-D2-L10290：L10290氘光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者,。LAMP-TH-L10290：L10290鎢鹵素光源,。2007年到2014年F20-UV的使用者,。LAMP-D2-LS和DT2：LS和DT2光源需更換氘燈,而鹵素?zé)艄庠葱韪鼡Q使用LAMP-TH1-5PAK.Filmetrics F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能,。四川膜厚儀原理

F50-XT測厚范圍：0.2μm-450μm,；波長：1440-1690nm。高精密儀器膜厚儀參數(shù)

接觸探頭測量彎曲和難測的表面CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實耐用的不銹鋼單線圈,。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射，對1.5mm厚的基板可抑制96%,。鋼制單線圈外加PVC涂層,，蕞大可測厚度15um。CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑17.5mm,。CP-C6-1.3探測直徑小至6mm的圓柱形和球形樣品外側(cè)。CP-C12-1.3用于直徑小至12mm圓柱形和球形樣品外側(cè)。CP-C26-1.3用于直徑小至26mm圓柱形和球形樣品外側(cè),。CP-BendingRod-L350-2彎曲長度300mm,，總長度350mm的接觸探頭。用于難以到達的區(qū)域,，但不會自動對準表面,。CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭。CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑蕞小的接觸探頭,，配備微型直角反射鏡,，用來測量小至直徑3mm管子的內(nèi)壁，不能自動對準表面,。CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,，可以在相隔10mm的兩個平坦表面之間進行測量。高精密儀器膜厚儀參數(shù)

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司是一家集研發(fā),、生產(chǎn),、咨詢、規(guī)劃,、銷售,、服務(wù)于一體的貿(mào)易型企業(yè)。公司成立于2002-02-07,，多年來在半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀行業(yè)形成了成熟,、可靠的研發(fā)、生產(chǎn)體系,。公司主要經(jīng)營半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀等產(chǎn)品,，產(chǎn)品質(zhì)量可靠，均通過儀器儀表行業(yè)檢測,，嚴格按照行業(yè)標準執(zhí)行,。目前產(chǎn)品已經(jīng)應(yīng)用與全國30多個省、市,、自治區(qū),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司研發(fā)團隊不斷緊跟半導(dǎo)體工藝設(shè)備，半導(dǎo)體測量設(shè)備,，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀行業(yè)發(fā)展趨勢,，研發(fā)與改進新的產(chǎn)品，從而保證公司在新技術(shù)研發(fā)方面不斷提升,，確保公司產(chǎn)品符合行業(yè)標準和要求,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司以市場為導(dǎo)向，以創(chuàng)新為動力,。不斷提升管理水平及半導(dǎo)體工藝設(shè)備,，半導(dǎo)體測量設(shè)備，光刻機 鍵合機,，膜厚測量儀產(chǎn)品質(zhì)量,。本公司以良好的商品品質(zhì)、誠信的經(jīng)營理念期待您的到來,！