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光刻膠膜厚儀科研應(yīng)用

來源: 發(fā)布時間:2022-11-12

光纖紫外線、可見光譜和近紅外備用光纖,。接觸探頭是相當(dāng)堅固的,,但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過。該套件包括指令,,以及簡單的維修工具,,新的和舊風(fēng)格的探頭。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長,,直徑200um的光纖,,兩端配備SMA接頭。米長,,分叉反射探頭,。通用附件攜帶箱等。手提電腦手提電腦預(yù)裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件,。電腦提箱用于攜帶F10、F20,、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通,"conflat,、雙出入孔SMA,,并通過泄漏測試。LensPaper-CenterHole中間開孔鏡頭紙,,用于保護(hù)面朝下的樣品,,5本各100張。所有的 Filmetrics 型號都能通過精確的光譜反射建模來測量厚度 (和折射率)。光刻膠膜厚儀科研應(yīng)用

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光源用于一般用途應(yīng)用之光源L思-DDT2可用在Filmetrics設(shè)備的光源具有氘燈-鎢絲與遠(yuǎn)端控制的快門來取代舊款HamamatsuD2光源L思-DLED1具有高亮度白光LED的光源光纖配件:CP-RepairToolKitCP-1-1.3接觸探頭是相當(dāng)堅固的,,但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過,。該套件包括指令,以及簡單的維修工具,,新的和舊風(fēng)格的探頭,。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長,直徑200um的光纖,,兩端配備SMA接頭,。FO-RP1-.25-SMA-200-1.32米長,分叉反射探頭,。光刻膠膜厚儀科研應(yīng)用不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。

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FSM8018VITE測試系列設(shè)備VITE技術(shù)介紹:VITE是傅里葉頻域技術(shù),利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)(Phasesheartechnology)設(shè)備介紹適用于所有可讓近紅外線通過的材料:硅,、藍(lán)寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石英,、聚合物…………應(yīng)用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導(dǎo)體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度、側(cè)壁角度...

厚度標(biāo)準(zhǔn):所有Filmetrics厚度標(biāo)準(zhǔn)都是得到驗證可追溯的NIST標(biāo)準(zhǔn),。S-Custom-NIST:在客戶提供的樣品上定制可追溯的NIST厚度校準(zhǔn)。TS-Focus-SiO2-4-3100SiO2-on-Si:厚度標(biāo)準(zhǔn),,外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準(zhǔn),,厚度大約3100A,4"晶圓,。TS-Focus-SiO2-4-10000SiO2-on-Si:厚度標(biāo)準(zhǔn),,外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準(zhǔn),厚度大約10000A,,4"晶圓,。TS-Hardcoat-4μm:丙烯酸塑料硬涂層厚度標(biāo)準(zhǔn),厚度大約4um,,直徑2",。TS-Hardcoat-Trans:背面透明的硬涂層,可用于透射測量。TS-Parylene-4um:丙烯酸塑料上的聚對二甲苯厚度標(biāo)準(zhǔn),,厚度大約4um,,直徑2"。TS-Parylene-8um:硅基上的聚對二甲苯厚度標(biāo)準(zhǔn),,厚度大約8um,,23mmx23mm。TS-SiO2-4-7200:硅基上的二氧化硅厚度標(biāo)準(zhǔn),,厚度大約7200A,,4"晶圓。TS-SiO2-4-7200-NIST:可追溯的NISTSiO2-4-7200厚度標(biāo)準(zhǔn),。TS-SiO2-6-Multi:多厚度硅基上的二氧化硅標(biāo)準(zhǔn):125埃米,,250埃米,500埃米,,1000埃米,,5000埃米,和10000埃米(+/-10%誤差),,6英寸晶圓,。TS-SS3-SiO2-8000:專為SS-3樣品平臺設(shè)計之二氧化硅厚度標(biāo)準(zhǔn)片,厚度大約為8000A。要想成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),, 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

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F40系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40產(chǎn)品系列用于測量小到1微米的光斑。對大多數(shù)顯微鏡而言,,F(xiàn)40能簡單地固定在c型轉(zhuǎn)接器上,,這樣的轉(zhuǎn)接器是顯微鏡行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)配件。F40配備的集成彩色攝像機(jī),,能夠?qū)y量點進(jìn)行準(zhǔn)確監(jiān)控,。在1秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率。像我們所有的臺式儀器一樣,,F(xiàn)40需要連接到您裝有Windows計算機(jī)的USB端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設(shè)定,。F40:20nm-40μm400-850nmF40-EXR:20nm-120μm400-1700nmF40-NIR:40nm-120μm950-1700nmF40-UV:4nm-40μm190-1100nmF40-UVX:4nm-120μm190-1700nmFSM拉曼的應(yīng)用:局部應(yīng)力; 局部化學(xué)成分,;局部損傷,。穿透率膜厚儀實惠價格

產(chǎn)品名稱:紅外干涉厚度測量設(shè)備。光刻膠膜厚儀科研應(yīng)用

厚度測量產(chǎn)品:我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助。單點厚度測量:一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆,。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點只有1微米(μm)時,,需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng)。光刻膠膜厚儀科研應(yīng)用

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