F40系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40產(chǎn)品系列用于測量小到1微米的光斑,。對大多數(shù)顯微鏡而言,，F(xiàn)40能簡單地固定在c型轉(zhuǎn)接器上,，這樣的轉(zhuǎn)接器是顯微鏡行業(yè)標準配件,。F40配備的集成彩色攝像機,，能夠?qū)y量點進行準確監(jiān)控,。在1秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率,。像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)40需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設定。F40：20nm-40μm400-850nmF40-EXR：20nm-120μm400-1700nmF40-NIR：40nm-120μm950-1700nmF40-UV：4nm-40μm190-1100nmF40-UVX：4nm-120μm190-1700nm基板材料: 如果薄膜位于粗糙基板 (大多數(shù)金屬) 上的話,，一般不能測量薄膜的折射率,。防反射涂層膜厚儀推薦產(chǎn)品

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。單點厚度測量：一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆,。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。Thetametrisis膜厚儀有各種不同附件和波長覆蓋范圍。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng),。Filmetrics F40膜厚儀推薦廠家系統(tǒng)測試應力的精度小于15mpa (0.03cm-1) ，全自動的200mm和300mm硅片檢查,，自動檢驗和聚焦的能力,。

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設備,。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器,。它以PLC和工業(yè)計算機為和新,，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度,。主要應用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工,、冶金行業(yè)的板帶加工。3,、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量,。4,、薄膜測厚儀:用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度，測量范圍寬,、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點。5,、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6,、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,，脈沖被反射回探頭,，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

不管您參與對顯示器的基礎研究還是制造,，Thetametrisis都能夠提供您所需要的...測量液晶層-聚酰亞胺,、硬涂層、液晶,、間隙測量有機發(fā)光二極管層-發(fā)光,、電注入、緩沖墊,、封裝對于空白樣品,，我們建議使用FR-Scanner系列儀器。對于圖案片,，Thetametrisis的FR-Scanner用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應用廣范使用,。測量范例此案例中，我們成功地測量了藍寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度,，可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度,，折射率，消光系數(shù),。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴散,，這個擴展的波長范圍是必要的。厚度變化 (TTV) ,；溝槽深度,；過孔尺寸、深度,、側(cè)壁角度,。

TotalThicknessVariation(TTV)應用規(guī)格:測量方式:紅外干涉(非接觸式)樣本尺寸:50、75、100,、200,、300mm,，也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸測量厚度:15—780μm(單探頭)3mm(雙探頭總厚度測量)掃瞄方式:半自動及全自動型號,另2D/3D掃瞄(Mapping)可選襯底厚度測量:TTV,、平均值、*小值,、*大值,、公差...可選粗糙度:20—1000?(RMS)重復性:0.1μm(1sigma)單探頭*0.8μm(1sigma)雙探頭*分辨率:10nm請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多關于本產(chǎn)品的信息。F50-s980測厚范圍：4μm-1mm,；波長：960-1000nm,。Filmetrics Profilm3D膜厚儀研發(fā)生產(chǎn)

膜厚儀通過不同的測量原理來實現(xiàn)對膜厚的精確測量。防反射涂層膜厚儀推薦產(chǎn)品

F54包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置MA-Cmount安裝轉(zhuǎn)接器顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000厚度標準聚焦/厚度標準4",6"and200mm參考晶圓真空泵備用燈型號厚度范圍*波長范圍F54:20nm-40μm380-850nmF54-UV:4nm-30μm190-1100nmF54-NIR:40nm-100μm950-1700nmF54-EXR:20nm-100μm380-1700nmF54-UVX:4nm-100μm190-1700nm*取決于材料與顯微鏡額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫,隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃防反射涂層膜厚儀推薦產(chǎn)品