測量眼科設備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射(AR)光譜和殘余顏色，以及硬涂層和疏水層的厚度,。測量范例：F10-AR系統(tǒng)配備HC升級選擇通過反射率信息進行硬涂層厚度測量,。這款儀器儀器采用接觸探頭,，從而降低背面反射影響,，并可測凹凸表面。接觸探頭安置在鏡頭表面,。FILMeasure軟件自動分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格,。可測平均反射率,，指定點蕞小蕞大反射率,，以抵消硬涂層的存在。如果這個鏡頭符合要求,，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示,。F3-s980 是波長為980奈米的版本，是為了針對成本敏銳的應用而設計,。湖北膜厚儀美元價

技術介紹：紅外干涉測量技術,非接觸式測量,。采用Michaelson干涉方法，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體,，準確的得到測試結果,。產品簡介：FSM413EC紅外干涉測量設備適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平整度溝槽深度過孔尺寸,、深度,、側壁角度粗糙度薄膜厚度硅片厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度、側壁角度,。湖北膜厚儀美元價F50-NIR測厚范圍：100nm-250μm,；波長：950-1700nm。

不管是參與對顯示器的基礎研究還是制造,，Thetametrisis都能夠提供您所需要的...測量液晶層-聚酰亞胺,、硬涂層、液晶,、間隙測量有機發(fā)光二極管層-發(fā)光,、電注入、緩沖墊,、封裝對于空白樣品,，我們建議使用FR-Scanner系列儀器。對于圖案片，Thetametrisis的FR-Scanner用于測量薄膜厚度已經找到了顯示器應用廣范使用,。測量范例此案例中,，我們成功地測量了藍寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度，可以很容易地在380納米到1700納米內同時測量透射率和反射率以確定厚度,，折射率,，消光系數(shù)。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴散,，這個擴展的波長范圍是必要的,。

（光刻膠）polyerlayers（高分子聚合物層）polymide（聚酰亞胺）polysilicon（多晶硅）amorphoussilicon（非晶硅）基底實例：對于厚度測量，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑,、反射的基底,。對于光學常數(shù)測量，需要一塊平整的鏡面反射基底,；如果基底是透明的,，基底背面需要進行處理使之不能反射。包括：silicon（硅）glass（玻璃）aluminum（鋁）gaas（砷化鎵）steel（鋼）polycarbonate（聚碳酸脂）polymerfilms（高分子聚合物膜）應用半導體制造液晶顯示器光學鍍膜photoresist光刻膠oxides氧化物nitrides氮化物cellgaps液晶間隙polyimide聚酰亞胺ito納米銦錫金屬氧化物hardnesscoatings硬鍍膜anti-reflectioncoatings增透鍍膜filters濾光f20使用**仿真活動來分析光譜反射率數(shù)據(jù),。標準配置和規(guī)格F20-UVF20F20-NIRF20-EXR只測試厚度1nm~40μm15nm~100μm100nm~250μm15nm~250μm測試厚度和n&k值50nmandup100nmandup300nmandup100nmandup波長范圍200-1100nm380-1100nm950-1700nm380-1700nm準確度大于％或2nm精度1A2A1A穩(wěn)定性光斑大小20μm至可選樣品大小1mm至300mm及更大探測器類型1250-元素硅陣列512-元素砷化銦鎵1000-元素硅&512-砷化銦鎵陣列光源鎢鹵素燈,。一般較短波長 (例如， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長波長可以測量更厚,、更不平整和更不透明的薄膜。

生物醫(yī)療器械應用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準備方面會用到許多類型的涂層,。有些涂層是為了保護設備免受腐蝕,，而其他的則是為了預防組織損傷、感然或者是排異反應,。 藥物傳輸涂層也變得日益普通,。其它生物醫(yī)學器械，如血管成型球囊,，具有獨力的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作。測量范例：支架是塑料或金屬制成的插入血管防止收縮的小管,。很多時候,，這些支架用聚合物或藥物涂層處理，以提高功能和耐腐蝕,。F40配上20倍物鏡（25微米光斑）,，我們能夠測量沿不銹鋼支架外徑這些涂層的厚度。這個功能強大的儀器提供醫(yī)療器械行業(yè)快速可靠,，非破壞性,，無需樣品準備的厚度測量,。F40-UV范圍：4nm-40μm，波長：190-1100nm,。湖北膜厚儀美元價

F50-UV測厚范圍：5nm-40μm,；波長：190-1100nm。湖北膜厚儀美元價

FSM413SPANDFSM413C2C紅外干涉測量設備適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石英,、聚合物…………應用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸,、深度,、側壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度、側壁角度...FSM413SP半自動機臺人工取放芯片Wafer厚度3D圖形FSM413C2CFullyautomatic全自動機臺人工取放芯片可適配Cassette,、SMIFPOD,、FOUP.湖北膜厚儀美元價