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輪廓儀的物鏡知多少,?白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,,以三維非接觸時(shí)方法測(cè)量分析樣片表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,,典型結(jié)果包括:表面形貌(粗糙度,,平面度,,平行度,,臺(tái)階高度,,錐角等)幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和集體,,特征圖形的位置和數(shù)量等)白光干涉系統(tǒng)基于無限遠(yuǎn)顯微鏡系統(tǒng),,通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x,。因此物鏡是輪廓儀*重要部件,,物鏡的選擇根據(jù)功能和檢測(cè)的精度提出需求,為了滿足各種精度的需求,,需要提供各種物鏡,,例如標(biāo)配的10×,,還有×,5×,,20×,,50×,100×,,可選,。不同的鏡頭價(jià)格有很大的差別,因此需要量力根據(jù)需求選配對(duì)應(yīng)的鏡頭哦,。 產(chǎn)能 : 45s/點(diǎn) (移動(dòng) + 聚焦 + 測(cè)量)(掃描范圍 50um),。自動(dòng)測(cè)量輪廓儀美元報(bào)價(jià)
共聚焦顯微鏡方法共聚焦顯微鏡包括LED光源,、旋轉(zhuǎn)多真孔盤,、帶有壓電驅(qū)動(dòng)器的物鏡和CCD相機(jī)。LED光源通過多真孔盤(MPD)和物鏡聚焦到樣品表面上,,從而反射光,。反射光通過MPD的真孔減小到聚焦的部分落在CCD相機(jī)上。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細(xì)節(jié),,但是在共焦圖像中,,通過多真孔盤的操作濾除模糊細(xì)節(jié)(未聚焦),只有來自聚焦平面的光到達(dá)CCD相機(jī),。因此,,共聚焦顯微鏡能夠在納米范圍內(nèi)獲得高分辨率。每個(gè)共焦圖像是通過樣品的形貌的水平切片,,在不同的焦點(diǎn)高度捕獲圖像產(chǎn)生這樣的圖像的堆疊,,共焦顯微鏡通過壓電驅(qū)動(dòng)器和物鏡的精確垂直位移來實(shí)現(xiàn)。200到400個(gè)共焦圖像通常在幾秒內(nèi)被捕獲,,之后軟件從共焦圖像的堆棧重建精確的三維高度圖像,。安徽輪廓儀免稅價(jià)格光學(xué)系統(tǒng):同軸照明無限遠(yuǎn)干涉成像系統(tǒng)。
輪廓儀在集成電路的應(yīng)用封裝Bump測(cè)量視場(chǎng):72*96(um)物鏡:干涉50X檢測(cè)位置:樣品局部面減薄表面粗糙度分析封裝:300mm硅片背面減薄表面粗糙度分析面粗糙度分析:2D,3D顯示,;線粗糙度分析:Ra,Ry,,Rz,…器件多層結(jié)構(gòu)臺(tái)階高M(jìn)EMS器件多層結(jié)構(gòu)分析,、工藝控制參數(shù)分析激光隱形切割工藝控制世界為一的能夠?qū)崿F(xiàn)激光槽寬度,、深度自動(dòng)識(shí)別和數(shù)據(jù)自動(dòng)生成,大達(dá)地縮短了激光槽工藝在線檢測(cè)的時(shí)間,,避免人工操作帶來的一致性,,可靠性問題歡迎咨詢。
我們的輪廓儀有什么優(yōu)勢(shì)呢世界先進(jìn)水平的產(chǎn)品技術(shù)合理的產(chǎn)品價(jià)格24小時(shí)到現(xiàn)場(chǎng)的本地化售后服務(wù)無償產(chǎn)品技術(shù)培訓(xùn)和應(yīng)用技術(shù)支持個(gè)性化的應(yīng)用軟件服務(wù)支持合理的保質(zhì)期后產(chǎn)品服務(wù)更佳的產(chǎn)品性價(jià)比和更優(yōu)解決方案非接觸式輪廓儀(光學(xué)輪廓儀)是以白光干涉為原理制成的一款高精度微觀形貌測(cè)量?jī)x器,,可測(cè)各類從超光滑到粗糙,、低反射率到高反射率的物體表面,,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度,、微觀幾何輪廓,、曲率等。(本段來自網(wǎng)絡(luò))輪廓儀反映的是零件的宏觀輪廓,。
輪廓儀是用容易理解的機(jī)械技術(shù)測(cè)量薄膜厚度,。它的工作原理是測(cè)量測(cè)量劃過薄膜的檢測(cè)筆的高度(見右圖)。輪廓儀的主要優(yōu)點(diǎn)是可以測(cè)量所有固體膜,,包括不透明的厚金屬膜,。更昂貴的系統(tǒng)能測(cè)繪整個(gè)表面輪廓。(有關(guān)我們的低成本光學(xué)輪廓儀的資訊,,請(qǐng)點(diǎn)擊這里).獲取反射光譜指南然而輪廓儀也有不足之處,。首先,樣本上必須有個(gè)小坎才能測(cè)量薄膜厚度,,而小坎通常無法很標(biāo)準(zhǔn)(見圖),。這樣,標(biāo)定誤差加上機(jī)械漂移造成5%-10%的測(cè)量誤差,。與此相比,,光譜反射儀使用非接觸技術(shù),不需要任何樣本準(zhǔn)備就可以測(cè)量厚度,。只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度和折射率,。光譜反射儀還可以測(cè)量多層薄膜。輪廓儀和光譜反射儀的主要優(yōu)點(diǎn)列表于下,。如需更多光譜反射儀信息請(qǐng)?jiān)L問岱美儀器的官網(wǎng),。儀器運(yùn)用高性能內(nèi)部抗震設(shè)計(jì),不受外部環(huán)境影響測(cè)量的準(zhǔn)確性,。安徽輪廓儀學(xué)校會(huì)用嗎
每個(gè)共焦圖像是通過樣品的形貌的水平切片,,在不同的焦點(diǎn)高度捕獲圖像產(chǎn)生這樣的圖像的堆疊。自動(dòng)測(cè)量輪廓儀美元報(bào)價(jià)
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