銦錫氧化物與透明導電氧化物液晶顯示器,，有機發(fā)光二極管變異體，以及絕大多數平面顯示器技術都依靠透明導電氧化物(TCO)來傳輸電流,，并作每個發(fā)光元素的陽極,。和任何薄膜工藝一樣,，了解組成顯示器各層物質的厚度至關重要,。對于液晶顯示器而言,，就需要有測量聚酰亞胺和液晶層厚度的方法，對有機發(fā)光二極管而言,，則需要測量發(fā)光,、電注入和封裝層的厚度,。在測量任何多個層次的時候,，諸如光譜反射率和橢偏儀之類的光學技術需要測量或建模估算每一個層次的厚度和光學常數(反射率和k值)。不幸的是,，使得氧化銦錫和其他透明導電氧化物在顯示器有用的特性,，同樣使這些薄膜層難以測量和建模，從而使測量在它們之上的任何物質變得困難,。Filmetrics的氧化銦錫解決方案Filmetrics已經開發(fā)出簡便易行而經濟有效的方法,，利用光譜反射率精確測量氧化銦錫。將新型的氧化銦錫模式和F20-EXR,很寬的400-1700nm波長相結合,，從而實現氧化銦錫可靠的“一鍵”分析,。氧化銦錫層的特性一旦得到確定，剩余顯示層分析的關鍵就解決了,。 F20-XT膜厚范圍：0.2μm - 450μm,；波長：1440-1690nm。Filmetrics F3-SX膜厚儀質保期多久

生物醫(yī)療設備涂層應用生物醫(yī)療器械應用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準備方面會用到許多類型的涂層,。有些涂層是為了保護設備免受腐蝕,，而其他的則是為了預防組織損傷、敢染或者是排異反應,。藥物傳輸涂層也變得日益普通,。其它生物醫(yī)學器械，如血管成型球囊,，具有讀立的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作。這些涂層厚度的測量方法各不相同,，但有一件事是確定的,。使用普通方法(例如，在涂層前后稱某一部分的重量),，無法檢測到會導致器械故障的涂層不完全覆蓋或涂層的不均勻性等問題,。ITO導電膜膜厚儀售后服務膜厚儀是一種用于測量薄膜或涂層的厚度的儀器.

接觸探頭測量彎曲和難測的表面CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結實耐用的不銹鋼單線圈。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射,，對1.5mm厚的基板可抑制96%,。鋼制單線圈外加PVC涂層，ZUI大可測厚度15um,。CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑17.5mm。CP-C6-1.3探測直徑小至6mm的圓柱形和球形樣品外側,。CP-C12-1.3用于直徑小至12mm圓柱形和球形樣品外側,。CP-C26-1.3用于直徑小至26mm圓柱形和球形樣品外側。CP-BendingRod-L350-2彎曲長度300mm,，總長度350mm的接觸探頭,。用于難以到達的區(qū)域，但不會自動對準表面,。CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內壁的接觸探頭,。CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑蕞小的接觸探頭，配備微型直角反射鏡,，用來測量小至直徑3mm管子的內壁,，不能自動對準表面。CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,，可以在相隔10mm的兩個平坦表面之間進行測量,。

FSM413SPANDFSM413C2C紅外干涉測量設備適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸、深度,、側壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度,、側壁角度...FSM413SP半自動機臺人工取放芯片Wafer厚度3D圖形FSM413C2CFullyautomatic全自動機臺人工取放芯片可適配Cassette、SMIFPOD,、FOUP.F20-UV測厚范圍：1nm - 40μm,；波長：190-1100nm。

濾光片整平光譜響應。ND#0.5衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#0.5衰減整平濾波器.ND#1衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#1衰減整平濾波器.ND#2衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#2衰減整平濾波器.420nm高通濾波器.420nm高通濾波器於濾波器架.515nm高通濾波器.515nm高通濾波器於濾波器架.520nm高通濾波器+ND1.520nm高通濾波器+ND#1十倍衰減整平濾波器.520nm高通濾波器+ND#2520nm高通濾波器+ND#2一百倍衰減整平濾波器.550nm高通濾波器550nm高通濾波器於濾波器架.一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。Filmetrics F3-SX膜厚儀質保期多久

膜厚儀在材料科學、化學工程,、電子工程等領域中廣泛應用,，用于質量控制、研發(fā)和生產過程中的膜厚測量,。Filmetrics F3-SX膜厚儀質保期多久

厚度測量產品：我們的膜厚測量產品可適用于各種應用,。我們大部分的產品皆備有庫存以便快速交貨。請瀏覽本公司網頁產品資訊或聯(lián)系我們的應用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。單點厚度測量：一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆。大多數產品都有庫存而且可立即出貨,。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng),。有各種不同附件和波長覆蓋范圍。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用岱美儀器提供的整個系統(tǒng),。Filmetrics F3-SX膜厚儀質保期多久