TotalThicknessVariation(TTV)應用規(guī)格:測量方式:紅外干涉(非接觸式)樣本尺寸:50,、75,、100,、200,、300mm,，也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸測量厚度:15—780μm(單探頭)3mm(雙探頭總厚度測量)掃瞄方式:半自動及全自動型號,另2D/3D掃瞄(Mapping)可選襯底厚度測量:TTV,、平均值,、*小值,、*大值,、公差...可選粗糙度:20—1000?(RMS)重復性:0.1μm(1sigma)單探頭*0.8μm(1sigma)雙探頭*分辨率:10nm請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多關于本產(chǎn)品的信息,。幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪。人工加載或機器人加載均可。有機發(fā)光膜厚儀競爭力怎么樣

    （光刻膠）polyerlayers（高分子聚合物層）polymide（聚酰亞胺）polysilicon（多晶硅）amorphoussilicon（非晶硅）基底實例：對于厚度測量,，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑,、反射的基底。對于光學常數(shù)測量,，需要一塊平整的鏡面反射基底,；如果基底是透明的，基底背面需要進行處理使之不能反射,。包括：silicon（硅）glass（玻璃）aluminum（鋁）gaas（砷化鎵）steel（鋼）polycarbonate（聚碳酸脂）polymerfilms（高分子聚合物膜）應用半導體制造液晶顯示器光學鍍膜photoresist光刻膠oxides氧化物nitrides氮化物cellgaps液晶間隙polyimide聚酰亞胺ito納米銦錫金屬氧化物hardnesscoatings硬鍍膜anti-reflectioncoatings增透鍍膜filters濾光f20使用**仿真活動來分析光譜反射率數(shù)據(jù),。標準配置和規(guī)格F20-UVF20F20-NIRF20-EXR只測試厚度1nm~40μm15nm~100μm100nm~250μm15nm~250μm測試厚度和n&k值50nmandup100nmandup300nmandup100nmandup波長范圍200-1100nm380-1100nm950-1700nm380-1700nm準確度大于％或2nm精度1A2A1A穩(wěn)定性光斑大小20μm至可選樣品大小1mm至300mm及更大探測器類型1250-元素硅陣列512-元素砷化銦鎵1000-元素硅&512-砷化銦鎵陣列光源鎢鹵素燈。 介電材料膜厚儀可以免稅嗎紅外干涉測量技術,，非接觸式測量,。

接觸探頭測量彎曲和難測的表面CP-1-1.3測量平面或球形樣品，結實耐用的不銹鋼單線圈,。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射,，對1.5mm厚的基板可抑制96%。鋼制單線圈外加PVC涂層,，ZUI大可測厚度15um,。CP-2-1.3用于探入更小的凹表面，直徑17.5mm,。CP-C6-1.3探測直徑小至6mm的圓柱形和球形樣品外側,。CP-C12-1.3用于直徑小至12mm圓柱形和球形樣品外側。CP-C26-1.3用于直徑小至26mm圓柱形和球形樣品外側,。CP-BendingRod-L350-2彎曲長度300mm,，總長度350mm的接觸探頭。用于難以到達的區(qū)域,，但不會自動對準表面。CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭,。CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑蕞小的接觸探頭,，配備微型直角反射鏡，用來測量小至直徑3mm管子的內(nèi)壁,，不能自動對準表面,。CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡，可以在相隔10mm的兩個平坦表面之間進行測量,。

測量復雜的有機材料典型的有機發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層,，空穴傳輸層，以及重組/發(fā)光層,。所有這些層都有不尋常有機分子（小分子和/或聚合物）,。雖然有機分子高度反常色散，測量這些物質的光譜反射充滿挑戰(zhàn)，但對Filmetrics卻不盡然,。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個OLED的開發(fā)歷史,，能夠處理隨著有機分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征。軟基底上的薄膜有機發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力,，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準,，這對托偏儀測量是個嚴重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復雜光學，或者打磨PET背面,。 而這些對我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓和測量時間。操作箱中測量有機發(fā)光顯示器材料對水和氧極度敏感,。 很多科研小組都要求在控制的干燥氮氣操作箱中測量,。 而我們體積小，模塊化,，光纖設計的儀器提供非密封,、實時“操作箱”測量。一般較短波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長波長可以測量更厚、更不平整和更不透明的薄膜,。

（光刻膠）polyerlayers（高分子聚合物層）polymide（聚酰亞胺）polysilicon（多晶硅）amorphoussilicon（非晶硅）基底實例：對于厚度測量,，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底,。對于光學常數(shù)測量,，需要一塊平整的鏡面反射基底；如果基底是透明的,，基底背面需要進行處理使之不能反射,。包括：silicon（硅）glass（玻璃）aluminum（鋁）gaas（砷化鎵）steel（鋼）polycarbonate（聚碳酸脂）polymerfilms（高分子聚合物膜）應用半導體制造液晶顯示器光學鍍膜photoresist光刻膠oxides氧化物nitrides氮化物cellgaps液晶間隙polyimide聚酰亞胺ito納米銦錫金屬氧化物hardnesscoatings硬鍍膜anti-reflectioncoatings增透鍍膜filters濾光f20使用**仿真活動來分析光譜反射率數(shù)據(jù)。標準配置和規(guī)格F20-UVF20F20-NIRF20-EXR只測試厚度1nm~40μm15nm~100μm100nm~250μm15nm~250μm測試厚度和n&k值50nmandup100nmandup300nmandup100nmandup波長范圍200-1100nm380-1100nm950-1700nm380-1700nm準確度大于％或2nm精度1A2A1A穩(wěn)定性光斑大小20μm至可選樣品大小1mm至300mm及更大探測器類型1250-元素硅陣列512-元素砷化銦鎵1000-元素硅&512-砷化銦鎵陣列光源鎢鹵素燈,。產(chǎn)品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C。Filmetrics F50膜厚儀學校會用嗎

F20-EXR測厚范圍：15nm - 250μm,；波長：380-1700nm,。有機發(fā)光膜厚儀競爭力怎么樣

F10-ARc:走在前端以較低的價格現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品，包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層,瑾需其他設備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量.您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件,操作上并不需要嚴格的訓練,您甚至可以直覺的藉由設定任何波長范圍之ZUI大,ZUI小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.容易設定.易於維護.只需將F10-ARc插上到您計算機的USB端口,感謝Filmetrics的創(chuàng)新,F10-ARc幾乎不存在停機時間,加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準,，你不需擔心維護問題,。有機發(fā)光膜厚儀競爭力怎么樣