F10-ARc 獲得蕞精確的測量.自動基準(zhǔn)功能大達(dá)增加基準(zhǔn)間隔時間,量測準(zhǔn)確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍可選擇UPG-F10-AR-HC軟件升級測量0.25-15μm硬涂層的厚度.即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度我們獨(dú)佳探頭設(shè)計可排除98％背面反射,當(dāng)鏡片比1.5mm更厚時,可排除比例更高修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象,。

F10-ARc：200nm-15μm**380-1050nm當(dāng)您需要技術(shù)支援致電我們的應(yīng)用工程師,，提供即時的24小時援助（週一至週五）網(wǎng)上的“手把手”支持(需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃。 幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機(jī)器人加載均可,。聚對二甲苯膜厚儀原理

測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射(AR)光譜和殘余顏色，以及硬涂層和疏水層的厚度,。測量范例：F10-AR系統(tǒng)配備HC升級選擇通過反射率信息進(jìn)行硬涂層厚度測量,。這款儀器儀器采用接觸探頭，從而降低背面反射影響,，并可測凹凸表面,。接觸探頭安置在鏡頭表面。FILMeasure軟件自動分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格,?？蓽y平均反射率，指定點(diǎn)蕞小蕞大反射率,，以抵消硬涂層的存在,。如果這個鏡頭符合要求，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示,。半導(dǎo)體膜厚儀液晶顯示行業(yè)F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積,，**強(qiáng)有力的工具。

FSM膜厚儀簡單介紹：FSM128厚度以及TSV和翹曲變形測試設(shè)備:美國FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年,，總部位于圣何塞,，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布全世界,主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備:三維輪廓儀,、拉曼光譜,、薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、紅外干涉厚度測量設(shè)備,、電學(xué)測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備,、非接觸式片電阻及漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析,、等效氧化層厚度分析(EOT),。請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多的信息。

   其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達(dá)1埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá)，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機(jī)型可選,?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等,。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術(shù),*多4層透明薄膜厚度、n,、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得,。其應(yīng)用光泛，例如:半導(dǎo)體工業(yè):光阻,、氧化物,、氮化物。LCD工業(yè):間距(cellgaps),，ito電極,、polyimide保護(hù)膜。光電鍍膜應(yīng)用:硬化鍍膜,、抗反射鍍膜,、過濾片。極易操作,、快速,、準(zhǔn)確、機(jī)身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點(diǎn),，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型,，可以實(shí)現(xiàn)反射、膜厚,、n,、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機(jī)腔體外的窗口,。可實(shí)時監(jiān)控長晶速度,、實(shí)時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。

生物醫(yī)療設(shè)備涂層應(yīng)用生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準(zhǔn)備方面會用到許多類型的涂層,。有些涂層是為了保護(hù)設(shè)備免受腐蝕，而其他的則是為了預(yù)防組織損傷,、敢染或者是排異反應(yīng),。藥物傳輸涂層也變得日益普通。其它生物醫(yī)學(xué)器械,，如血管成型球囊,，具有讀立的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作。這些涂層厚度的測量方法各不相同,，但有一件事是確定的,。使用普通方法(例如，在涂層前后稱某一部分的重量),，無法檢測到會導(dǎo)致器械故障的涂層不完全覆蓋或涂層的不均勻性,。基板材料: 如果薄膜位于粗糙基板 (大多數(shù)金屬) 上的話,，一般不能測量薄膜的折射率,。聚對二甲苯膜厚儀原理

Filmetrics 提供一系列的和測繪系統(tǒng)來測量 3nm 到 1mm 的單層、 多層,、 以及單獨(dú)的光刻膠薄膜,。聚對二甲苯膜厚儀原理

自動厚度測量系統(tǒng)幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪。人工加載或機(jī)器人加載均可,。在線厚度測量系統(tǒng)監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達(dá)100Hz的采樣率可以在多個測量位置得到。附件Filmetrics提供各種附件以滿足您的應(yīng)用需要,。F20系列世界上蕞**的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設(shè)置同樣簡單,只需插上設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計算機(jī)的USB端口,并連接樣品平臺,F20已在世界各地有成千上萬的應(yīng)用被使用.事實(shí)上,，我們每天從我們的客戶學(xué)習(xí)更多的應(yīng)用.選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）聚對二甲苯膜厚儀原理