非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在, 在兩級之間是部分結(jié)晶硅。部分結(jié)晶硅又被叫做多晶硅,。

非晶硅和多晶硅的光學(xué)常數(shù)(n和k)對不同沉積條件是獨(dú)特的,，必須有精確的厚度測量。 測量厚度時(shí)還必須考慮粗糙度和硅薄膜結(jié)晶可能的風(fēng)化,。

Filmetrics 設(shè)備提供的復(fù)雜的測量程序同時(shí)測量和輸出每個(gè)要求的硅薄膜參數(shù),， 并且“一鍵”出結(jié)果。

適用于所有可讓紅外線通過的材料 硅、藍(lán)寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石 英、聚合物等,。碳化硅膜厚儀價(jià)格怎么樣

接觸探頭測量彎曲和難測的表面

CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈。

CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,，對 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%,。 鋼制單線圈外加PVC涂層，比較大可測厚度 15um,。

CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑 17.5mm。

CP-C6-1.3探測直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè)。

CP-BendingRod-L350-2彎曲長度 300mm,，總長度 350mm 的接觸探頭,。 用于難以到達(dá)的區(qū)域，但不會自動對準(zhǔn)表面,。

CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭,。

CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑**小的接觸探頭，配備微型直角反射鏡,，用來測量小至直徑 3mm 管子的內(nèi)壁,，不能自動對準(zhǔn)表面。

CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,，可以在相隔 10mm 的兩個(gè)平坦表面之間進(jìn)行測量,。 重慶晶片膜厚儀F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積，**強(qiáng)有力的工具,。

    更可加裝至三個(gè)探頭,，同時(shí)測量三個(gè)樣品，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長可供選擇,。F40:這型號安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來測量微小樣品。F50:這型號配備全自動XY工作臺,，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:*通過在F20基本平臺上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測量法（CTM）,，把設(shè)備的測量范圍極大的拓展至。F10-RT：在F20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時(shí)測量,，特殊光源設(shè)計(jì)特別適用于透明基底樣品的測量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源，特別適用于超薄膜層厚度和n,、k值測量,。**膜厚測量儀系統(tǒng)F20使用F20**分光計(jì)系統(tǒng)可以簡便快速的測量厚度和光學(xué)參數(shù)（n和k）。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度,、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個(gè)桌面系統(tǒng)組裝起來。F20包括所有測量需要的部件：分光計(jì),、光源,、光纖導(dǎo)線、鏡頭**和Windows下運(yùn)行的軟件,。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實(shí)例幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測,。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist。

F3-CS：

Filmetrics的F3-CS 專門為了微小視野及微小樣品測量設(shè)計(jì), 任何人從**操作到研&發(fā)人員都可以此簡易USB供電系統(tǒng)在數(shù)秒鐘內(nèi)測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.

我們具專利的自動校正功能大幅縮短測量設(shè)置並可自動調(diào)節(jié)儀器的靈敏度, 使用免手持測量模式時(shí), 只需簡單地將樣品面朝下放置在平臺上測量樣品 , 此時(shí)該系統(tǒng)已具備可測量數(shù)百種膜層所必要的一切設(shè)置不管膜層是否在透明或不透明基底上.

快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易, 軟件內(nèi)建所有常見的電介質(zhì)和半導(dǎo)體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學(xué)常數(shù)(n和k）,厚度結(jié)果會及時(shí)的以直覺的測量結(jié)果顯示對于進(jìn)階使用者，可以進(jìn)一步以F3-CS測量折射率, F3-CS可在任何運(yùn)行Windows XP到 Windows8 64位作業(yè)系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)上運(yùn)行, USB電纜則提供電源和通信功能. 成功測量光刻膠要面對一些獨(dú)特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。

硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，用于測量硬涂層和其他保護(hù)性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設(shè)計(jì)的。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進(jìn)行多點(diǎn)測量,，因?yàn)橥繉雍穸葘τ谄焚|(zhì)至關(guān)重要,。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的。 這些用途中的每一項(xiàng)是特殊的挑戰(zhàn),，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件,、硬件和應(yīng)用知識以便為用戶提供正確的解決方案。

測量范例帶HC選項(xiàng)的F10-AR收集測量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學(xué)接觸探頭,，它的設(shè)計(jì)降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,，給出涂層厚度,。在這個(gè)例子中，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆,。 可測量的層數(shù): 通常能夠測量薄膜堆內(nèi)的三層**薄膜,。 在某些情況下，能夠測量到十幾層,。安徽膜厚儀聯(lián)系電話

監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達(dá)100 Hz的采樣率可以在多個(gè)測量位置得到。碳化硅膜厚儀價(jià)格怎么樣

F10-HC輕而易舉而且經(jīng)濟(jì)有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC 以 Filmetrics F20 平臺為基礎(chǔ),，根據(jù)光譜反射數(shù)據(jù)分析快速提供薄膜測量結(jié)果,。 F10-HC 先進(jìn)的模擬算法是為測量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如，底涂/硬涂層)專門設(shè)計(jì)的,。

全世界共有數(shù)百臺 F10-HC 儀器在工作,，幾乎所有主要汽車硬涂層公司都在使用它們。

像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)10-HC 可以連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)定,。

包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料TS-Hardcoat-4um 厚度標(biāo)準(zhǔn)備用燈

額外的好處：應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計(jì)劃 碳化硅膜厚儀價(jià)格怎么樣

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司專注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大,。公司目前擁有較多的高技術(shù)人才,，以不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競爭力，加快企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新,，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)健生產(chǎn)經(jīng)營,。誠實(shí)、守信是對企業(yè)的經(jīng)營要求,，也是我們做人的基本準(zhǔn)則,。公司致力于打造***的磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)。公司深耕磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā),，正積蓄著更大的能量,，向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展,。