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高校膜厚儀干涉測量應(yīng)用Total Thickness Variation (TTV) 應(yīng)用 規(guī)格: 測量方式: 紅外干涉(非接觸式) 樣本尺寸: 50,、75、100,、200,、300 mm， 也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸 測量厚度: 15 — 780 μm (單探頭) 3 mm (雙探頭總厚度測量) 掃瞄方式: 半自動(dòng)及全自動(dòng)型號(hào), 另2D/3D掃瞄(Mapping)可選 襯底厚度測量: TTV,、平均值,、*小值、*大值,、公差... 可選粗糙度: 2...
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晶片膜厚儀試用
FSM 413 紅外干涉測量設(shè)備 關(guān)鍵詞：厚度測量,，光學(xué)測厚，非接觸式厚度測量,，硅片厚度,，氮化硅厚度，激光測厚,，近紅外光測厚,，TSV, CD, Trench，砷化鎵厚度,，磷化銦厚度,，玻璃厚度測量，石英厚度,，聚合物厚度, 背磨厚度,，上下兩個(gè)測試頭。Michaelson干涉法,，翹曲變形,。 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話，可以給我留言,！ 產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備 · 產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C 如果您需要更多的信息,，請(qǐng)聯(lián)系我們岱美儀器,。 ...
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ITO導(dǎo)電膜膜厚儀可以免稅嗎
FSM 413 紅外干涉測量設(shè)備 關(guān)鍵詞：厚度測量，光學(xué)測厚,，非接觸式厚度測量,，硅片厚度，氮化硅厚度,，激光測厚,，近紅外光測厚，TSV, CD, Trench，砷化鎵厚度,，磷化銦厚度,，玻璃厚度測量，石英厚度,，聚合物厚度, 背磨厚度,，上下兩個(gè)測試頭。Michaelson干涉法,，翹曲變形,。 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話，可以給我留言,！ 產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備 · 產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP,，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C 如果您需要更多的信息,，請(qǐng)聯(lián)系我們岱美儀器。 ...
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液晶顯示膜厚儀**
F30 系列監(jiān)控薄膜沉積,，**強(qiáng)有力的工具F30 光譜反射率系統(tǒng)能實(shí)時(shí)測量沉積率,、沉積層厚度、光學(xué)常數(shù) (n 和 k 值) 和半導(dǎo)體以及電介質(zhì)層的均勻性,。 樣品層分子束外延和金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的,，或輕度吸收的薄膜。 這實(shí)際上包括從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導(dǎo)體材料,。 各項(xiàng)優(yōu)點(diǎn):極大地提高生產(chǎn)力低成本 —幾個(gè)月就能收回成本A精確 — 測量精度高于 ±1%快速 — 幾秒鐘完成測量非侵入式 — 完全在沉積室以外進(jìn)行測試易于使用 — 直觀的 Windows? 軟件幾分鐘就能準(zhǔn)備好的系統(tǒng) 型號(hào)厚度范圍*波長范圍 F30:15nm-70μm 380-10...
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光干涉膜厚儀推薦廠家
測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射 (AR) 光譜和殘余顏色,，以及硬涂層和疏水層的厚度。 測量范例： F10-AR系統(tǒng)配備HC升級(jí)選擇通過反射率信息進(jìn)行硬涂層厚度測量,。這款儀器儀器采用接觸探頭,，從而降低背面反射影響，并可測凹凸表面,。接觸探頭安置在鏡頭表面,。FILMeasure軟件自動(dòng)分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格?？蓽y平均反射率,，指定點(diǎn)**小比較大反射率，以抵消硬涂層的存在,。如果這個(gè)鏡頭符合要求,，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示。 采用Michaelson干涉方法,，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體,，準(zhǔn)確得到測試結(jié)果。光干涉膜厚儀推薦廠家...
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光刻膠膜厚儀當(dāng)?shù)貎r(jià)格
F54自動(dòng)化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米 可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方 F54 自動(dòng)化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置 不同的型號(hào)主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙,，或更不透明的薄...
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研究所膜厚儀推薦產(chǎn)品
F10-RT同時(shí)測量反射和透射以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜,。 只需傳統(tǒng)價(jià)格的一小部分,，用戶就能進(jìn)行比較低/比較高 分析、確定 FWHM 并進(jìn)行顏色分析,。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力,。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件BK7 參考材料Al2O3 參考材料Si 參考材料防反光板鏡頭紙 額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (...
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光干涉膜厚儀芯片行業(yè)
技術(shù)介紹： 紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量,。采用Michaelson干涉方法,，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體，準(zhǔn)確的得到測試結(jié)果,。 產(chǎn)品簡介：FSM 413EC 紅外干涉測量設(shè)備 適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍(lán)寶石、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石 英,、聚合物………… 應(yīng)用: 襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響) 平整度 溝槽深度 過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度 粗糙度 薄膜厚度 硅片厚度 環(huán)氧樹脂厚度 襯底翹曲度 晶圓凸點(diǎn)...
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膜厚儀膜厚儀生產(chǎn)國
FSM膜厚儀簡單介紹： FSM 128 厚度以及TSV和翹曲變形測試設(shè)備: 美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,，總部位于圣何塞,，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布全世界, 主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備: 三維輪廓儀,、拉曼光譜,、 薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備,、電學(xué)測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備,、非接觸式片電阻及 漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析,、等效氧化層厚度分析 (EOT),。 請(qǐng)?jiān)L問我們的中文官網(wǎng)了解更多的信息。 F20-XT膜厚范圍：0.2μm - 450μm,；波長：1440-1690nm,。膜厚...
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安徽高校膜厚儀
接觸探頭測量彎曲和難測的表面 CP-1-1.3測量平面或球形樣品,，結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈。 CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,，對(duì) 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%,。 鋼制單線圈外加PVC涂層，比較大可測厚度 15um,。 CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑 17.5mm。 CP-C6-1.3探測直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè)。 CP-BendingRod-L350-2彎曲長度 300mm...
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安徽膜厚儀干涉測量應(yīng)用
FSM 413MOT 紅外干涉測量設(shè)備： 適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍(lán)寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物………… 應(yīng)用: 襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響) 平整度 厚度變化 (TTV) 溝槽深度 過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度 粗糙度 薄膜厚度 不同半導(dǎo)體材料的厚度 環(huán)氧樹脂厚度 襯底翹曲度 晶圓凸點(diǎn)高度(bump height) MEMS 薄膜測量 TSV 深度,、側(cè)壁角度... 如果您想了解更多關(guān)...
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半導(dǎo)體設(shè)備膜厚儀摩擦學(xué)應(yīng)用
FSM 360 拉曼光譜系統(tǒng) FSM紫外光和可見光拉曼系統(tǒng), 型號(hào)360 FSM拉曼的應(yīng)用 l 局部應(yīng)力,； l 局部化學(xué)成分 l 局部損傷 紫外光可測試的深度 ***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應(yīng)力 可見光可測試的深度 良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力 系統(tǒng)測試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1) 全自動(dòng)的200mm和300mm硅片檢查 自動(dòng)檢驗(yàn)和聚焦的能力。 以上的信息比較有限,，如果您有更加詳細(xì)的技術(shù)問題,，請(qǐng)聯(lián)系我們的技術(shù)人員為您解答?；蛘咴L問...
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導(dǎo)電氧化物膜厚儀實(shí)際價(jià)格
FSM 360 拉曼光譜系統(tǒng) FSM紫外光和可見光拉曼系統(tǒng), 型號(hào)360 FSM拉曼的應(yīng)用 l 局部應(yīng)力,； l 局部化學(xué)成分 l 局部損傷 紫外光可測試的深度 ***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應(yīng)力 可見光可測試的深度 良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力 系統(tǒng)測試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1) 全自動(dòng)的200mm和300mm硅片檢查 自動(dòng)檢驗(yàn)和聚焦的能力。 以上的信息比較有限,，如果您有更加詳細(xì)的技術(shù)問題,，請(qǐng)聯(lián)系我們的技術(shù)人員為您解答?；蛘咴L問...
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襯底膜厚儀有哪些應(yīng)用
F40 系列 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn) 聚焦/厚度標(biāo)準(zhǔn)BG-Microscope (作為背景基準(zhǔn)) 額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃 如果需要了解更多的信息,，請(qǐng)?jiān)L問我們官網(wǎng)或者聯(lián)系我們。 可測量的層數(shù): 通常能夠測量薄膜堆內(nèi)的三層...
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碳化硅膜厚儀代理價(jià)格
FSM 413 紅外干涉測量設(shè)備 關(guān)鍵詞：厚度測量,，光學(xué)測厚,，非接觸式厚度測量,，硅片厚度，氮化硅厚度,，激光測厚,，近紅外光測厚，TSV, CD, Trench,，砷化鎵厚度,，磷化銦厚度，玻璃厚度測量,，石英厚度,，聚合物厚度, 背磨厚度，上下兩個(gè)測試頭,。Michaelson干涉法,，翹曲變形。 如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,，可以給我留言,！ 產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備 · 產(chǎn)品型號(hào)：FSM 413EC, FSM 413MOT，F(xiàn)SM 413SA DP,，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C 如果您需要更多的信息,，請(qǐng)聯(lián)系我們岱美儀器。 ...
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硬涂層膜厚儀研發(fā)可以用嗎
測量復(fù)雜的有機(jī)材料典型的有機(jī)發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層,，空穴傳輸層,，以及重組/發(fā)光層。所有這些層都有不尋常有機(jī)分子（小分子和/或聚合物）,。雖然有機(jī)分子高度反常色散,，測量這些物質(zhì)的光譜反射充滿挑戰(zhàn)，但對(duì)Filmetrics卻不盡然,。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個(gè)OLED的開發(fā)歷史,，能夠處理隨著有機(jī)分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征。軟基底上的薄膜有機(jī)發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力,，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準(zhǔn),，這對(duì)托偏儀測量是個(gè)嚴(yán)重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復(fù)雜光學(xué)，或者打磨PET背面,。 而這些對(duì)我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓(xùn)和測量時(shí)間。操作箱中測...
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硬涂層膜厚儀研發(fā)生產(chǎn)
測量復(fù)雜的有機(jī)材料典型的有機(jī)發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層,，空穴傳輸層,，以及重組/發(fā)光層。所有這些層都有不尋常有機(jī)分子（小分子和/或聚合物）,。雖然有機(jī)分子高度反常色散,，測量這些物質(zhì)的光譜反射充滿挑戰(zhàn),，但對(duì)Filmetrics卻不盡然。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個(gè)OLED的開發(fā)歷史,，能夠處理隨著有機(jī)分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征,。軟基底上的薄膜有機(jī)發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準(zhǔn),，這對(duì)托偏儀測量是個(gè)嚴(yán)重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復(fù)雜光學(xué),，或者打磨PET背面。 而這些對(duì)我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓(xùn)和測量時(shí)間,。操作箱中測...
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反射率膜厚儀國內(nèi)代理
接觸探頭測量彎曲和難測的表面 CP-1-1.3測量平面或球形樣品，結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈,。 CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,，對(duì) 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%。 鋼制單線圈外加PVC涂層,，比較大可測厚度 15um,。 CP-2-1.3用于探入更小的凹表面，直徑 17.5mm,。 CP-C6-1.3探測直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè)。 CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。 CP-BendingRod-L350-2彎曲長度 300mm...
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有機(jī)發(fā)光膜厚儀優(yōu)惠價(jià)格
厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請(qǐng)瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對(duì)您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。 單點(diǎn)厚度測量： 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺(tái)式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。 大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。 F20全世界銷量**hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。 微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點(diǎn)只有1微米（μm）時(shí),，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個(gè)系統(tǒng)。 測量SU-8 其它厚光刻膠的厚度有特別重要的應(yīng)用,。有...
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美國進(jìn)口膜厚儀值得買
Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案：支架： 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器,。 我們的 F40 在幾十個(gè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)得到使用，測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨(dú)特的測量系統(tǒng)對(duì)整個(gè)支架表面的自動(dòng)厚度測繪,，只需在測量時(shí)旋轉(zhuǎn)支架。植入件： 在測量植入器件的涂層時(shí),，不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭,。導(dǎo)絲和導(dǎo)引針： 和支架一樣，這些器械常?？梢杂孟?F40 這樣的顯微鏡儀器,。導(dǎo)液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾...
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ITO導(dǎo)電膜膜厚儀出廠價(jià)
顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器。 Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價(jià)格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器,。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40,，光敏度低 5 倍)，包括集成攝像機(jī),、光纖,、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn)、F40 軟件,，和 F40 手冊(cè),。 軟件升級(jí)： UPG-RT-to-Thickness升級(jí)的厚度求解軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。UPG-Thickness-to-n&k升級(jí)的折射率求解軟件,，需要UPG-...
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液晶顯示器膜厚儀售后服務(wù)
平臺(tái)和平臺(tái)附件標(biāo)準(zhǔn)和**平臺(tái)。 CS-1可升級(jí)接觸式SS-3樣品臺(tái),，可測波長范圍190-1700nm SS-36“×6” 樣品平臺(tái),，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，103 mm 進(jìn)深,。 適用所有波長范圍。 SS-3-88“×8” 樣品平臺(tái),?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度，139mm 進(jìn)深,。 適用所有波長范圍,。 SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺(tái)。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm 進(jìn)深,。 適用所有波長范圍。 SS-56" x 6" 吋樣品臺(tái),，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,，需搭配具有APC接頭的光纖，全波長范圍使用 樣品壓重-SS-3-50 樣品...
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福建聯(lián)電膜厚儀
生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準(zhǔn)備方面會(huì)用到許多類型的涂層,。 有些涂層是為了保護(hù)設(shè)備免受腐蝕,，而其他的則是為了預(yù)防組 織損傷、***或者是排異反應(yīng),。 藥 物傳輸涂層也變得日益普通,。 其它生物醫(yī)學(xué)器械,，如血管成型球囊，具有**的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作,。 測量范例：支架是塑料或金屬制成的插入血管防止收縮的小管。很多時(shí)候,，這些支架用聚合物或藥 物涂層處理,，以提高功能和耐腐蝕。F40配上20倍物鏡（25微米光斑）,，我們能夠測量沿不銹鋼支架外徑這些涂層的厚度,。這個(gè)功能強(qiáng)大的儀器提供醫(yī)療器械行業(yè)快速可靠，非破壞性,，無需樣品準(zhǔn)備的厚度測量,。 紫外光可測試的深度：優(yōu)...
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膜厚儀科研應(yīng)用
其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間，測量精度高達(dá)1埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá),，測量時(shí)間只需一到二秒,并有手動(dòng)及自動(dòng)機(jī)型可選?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對(duì)二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspection...
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光學(xué)系數(shù)膜厚儀芯片行業(yè)
平臺(tái)和平臺(tái)附件標(biāo)準(zhǔn)和**平臺(tái),。 CS-1可升級(jí)接觸式SS-3樣品臺(tái)，可測波長范圍190-1700nm SS-36“×6” 樣品平臺(tái),，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度，103 mm 進(jìn)深,。 適用所有波長范圍,。 SS-3-88“×8” 樣品平臺(tái)?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm 進(jìn)深。 適用所有波長范圍,。 SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺(tái),。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度，550mm 進(jìn)深,。 適用所有波長范圍。 SS-56" x 6" 吋樣品臺(tái),，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,，需搭配具有APC接頭的光纖，全波長范圍使用 樣品壓重-SS-3-50 樣品...
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浙江晶圓片膜厚儀
FSM 8018 VITE測試系列設(shè)備 VITE技術(shù)介紹： VITE是傅里葉頻域技術(shù),，利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)（Phase shear technology） 設(shè)備介紹 適用于所有可讓近紅外線通過的材料：硅,、藍(lán)寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物………… 應(yīng)用: 襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響) 平整度 厚度變化 (TTV) 溝槽深度 過孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度 粗糙度 薄膜厚度 不同半導(dǎo)體材料的厚度 環(huán)氧樹脂厚度 ...
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多層膜膜厚儀鍍膜行業(yè)
厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請(qǐng)瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對(duì)您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。 單點(diǎn)厚度測量： 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺(tái)式測量系統(tǒng)。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。 大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。 F20全世界銷量**hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。 微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點(diǎn)只有1微米（μm）時(shí),，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個(gè)系統(tǒng)。 厚度范圍: 測量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 ...
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Filmetrics F60膜厚儀出廠價(jià)
F10-AR 無須處理涂層背面我們探頭設(shè)計(jì)能抑 制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,，使用更厚的鏡頭抑 制的更多。 就像我們所有的臺(tái)式儀器一樣,，F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定,。 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料整平濾波器 (用于高反射基板)備用燈 額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手”...
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福建膜厚儀應(yīng)用
電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué)，半導(dǎo)體,，以及其它數(shù)十個(gè)行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。 測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì)，鈍化層,，或掩膜材料被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),。這個(gè)案例中，我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,，折射率,，和消光系數(shù)。有趣的事,，氮化硅薄膜的光學(xué)性質(zhì)與薄膜的分子當(dāng)量緊密相關(guān),。使用Filmetrics專有的氮化硅擴(kuò)散模型，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學(xué)性質(zhì)，不管他們是富硅,，貧硅,，還是分子當(dāng)量。 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺(tái)式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。福建膜厚儀應(yīng)...
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ITO導(dǎo)電膜膜厚儀售后服務(wù)
F40 系列 包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn) 聚焦/厚度標(biāo)準(zhǔn)BG-Microscope (作為背景基準(zhǔn)) 額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃 如果需要了解更多的信息，請(qǐng)?jiān)L問我們官網(wǎng)或者聯(lián)系我們,。 F20-XT膜厚范圍：0.2μm - 45...