F10-ARc
獲得**精確的測量.自動基準(zhǔn)功能**增加基準(zhǔn)間隔時間, 量測準(zhǔn)確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級 測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度我們***探頭設(shè)計可排除98％背面反射,當(dāng)鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象。
F10-ARc：200nm - 15μm** 380-1050nm
當(dāng)您需要技術(shù)支援致電我們的應(yīng)用工程師,，提供即時的24小時援助（週一至週五）網(wǎng)上的 “手把手”
支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 基本上所有光滑的,、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。Filmetrics F3-SX膜厚儀國內(nèi)代理
FSM 413 紅外干涉測量設(shè)備
關(guān)鍵詞：厚度測量,，光學(xué)測厚,，非接觸式厚度測量，硅片厚度,，氮化硅厚度,，激光測厚，近紅外光測厚,，TSV, CD, Trench,，砷化鎵厚度，磷化銦厚度,，玻璃厚度測量,，石英厚度，聚合物厚度, 背磨厚度,，上下兩個測試頭,。Michaelson干涉法，翹曲變形,。
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,，可以給我留言！
產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備
· 產(chǎn)品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP,，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C
如果您需要更多的信息，請聯(lián)系我們岱美儀器,。 中科院膜厚儀國內(nèi)代理一般較短波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜，而較長波長可以測量更厚,、更不平整和更不透明的薄膜,。
平臺和平臺附件標(biāo)準(zhǔn)和**平臺。
CS-1可升級接觸式SS-3樣品臺,，可測波長范圍190-1700nm
SS-36“×6” 樣品平臺,，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，103 mm 進深,。 適用所有波長范圍。
SS-3-88“×8” 樣品平臺,?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm 進深。 適用所有波長范圍,。
SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度，550mm 進深,。 適用所有波長范圍,。
SS-56" x 6" 吋樣品臺，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,，需搭配具有APC接頭的光纖，全波長范圍使用
樣品壓重-SS-3-50
樣品壓重 SS-3 平臺, 50mm x 50mm
樣品壓重-SS-3-110
樣品壓重 SS-3 平臺, 110mm x 110mm
FSM 8018 VITE測試系列設(shè)備
VITE技術(shù)介紹：
VITE是傅里葉頻域技術(shù),，利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)（Phase shear technology）
設(shè)備介紹
適用于所有可讓近紅外線通過的材料：硅,、藍寶石、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石 英,、聚合物…………
應(yīng)用:
襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)
平整度
厚度變化 (TTV)
溝槽深度
過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度
粗糙度
薄膜厚度
不同半導(dǎo)體材料的厚度
環(huán)氧樹脂厚度
襯底翹曲度
晶圓凸點高度(bump height)
MEMS 薄膜測量
TSV 深度,、側(cè)壁角度...
F20-UV測厚范圍：1nm - 40μm,；波長：190-1100nm。
F40 系列
包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠程數(shù)據(jù)分析)MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn) 聚焦/厚度標(biāo)準(zhǔn)BG-Microscope (作為背景基準(zhǔn))
額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃
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F50測厚范圍：20nm-70μm；波長：380-1050nm,。Filmetrics F3-SX膜厚儀國內(nèi)代理
技術(shù)介紹：
紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量,。采用Michaelson干涉方法，紅外波段的激光能更好的穿透被測物體,，準(zhǔn)確的得到測試結(jié)果,。
產(chǎn)品簡介：FSM 413EC 紅外干涉測量設(shè)備
適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石 英,、聚合物…………
應(yīng)用:
襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)
平整度
溝槽深度
過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度
粗糙度
薄膜厚度
硅片厚度
環(huán)氧樹脂厚度
襯底翹曲度
晶圓凸點高度(bump height)
MEMS 薄膜測量
TSV 深度,、側(cè)壁角度...
Filmetrics F3-SX膜厚儀國內(nèi)代理
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司主營品牌有岱美儀器技術(shù)服務(wù)，發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大,，該公司其他型的公司。是一家有限責(zé)任公司企業(yè),，隨著市場的發(fā)展和生產(chǎn)的需求，與多家企業(yè)合作研究,，在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進，追求新型,，在強化內(nèi)部管理，完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時,，良好的質(zhì)量,、合理的價格、完善的服務(wù),，在業(yè)界受到寬泛好評,。以滿足顧客要求為己任；以顧客永遠滿意為標(biāo)準(zhǔn),；以保持行業(yè)優(yōu)先為目標(biāo),，提供***的磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)。岱美儀器技術(shù)服務(wù)以創(chuàng)造***產(chǎn)品及服務(wù)的理念,，打造高指標(biāo)的服務(wù),，引導(dǎo)行業(yè)的發(fā)展。