F10-ARc:

走在前端 以較低的價格現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品,，包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層, *需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.

容易設(shè)定. 易於維護.只需將F10-ARc插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準,，你不需擔心維護問題。 F3-sX 系列測厚范圍：10μm - 3mm,；波長：960-1580nm,。授權(quán)膜厚儀學校會用嗎

F10-AR易于使用而且經(jīng)濟有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層F10-AR 是測試眼科減反涂層設(shè)計的儀器。 雖然價格**低于當今絕大多數(shù)同類儀器,，應(yīng)用幾項技術(shù),， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量,。

在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進行比較低,、比較高和平均反射測試。

我們有專門的算法對硬涂層的局部反射失真進行校正,。 我們獨有的 AutoBaseline 能極大地增加基線間隔,，提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的精確度。

利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級能測量 0.25-15um 的硬涂層厚度,。 在減反層存在的情況下也能對硬涂層厚度進行測量,。 Filmetrics F3-SX膜厚儀免稅價格厚度范圍: 測量從 1nm 到 13mm 的厚度。 測量 70nm 到 10um 薄膜的折射率,。

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。

單點厚度測量：

一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。

大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。

微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng)。

FSM膜厚儀簡單介紹：

FSM 128 厚度以及TSV和翹曲變形測試設(shè)備:

美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,，總部位于圣何塞,，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布全世界, 主要產(chǎn)品包括:光學測量設(shè)備: 三維輪廓儀,、拉曼光譜,、

薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備,、電學測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備,、非接觸式片電阻及 漏電流測量設(shè)備,、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT),。

請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多的信息,。 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。

    光纖紫外線,、可見光譜和近紅外備用光纖。接觸探頭是相當堅固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過,。該套件包括指令，以及簡單的維修工具,，新的和舊風格的探頭,。FO-PAT-SMA-SMA-200-22米長，直徑200um的光纖,，兩端配備SMA接頭,。米長，分叉反射探頭,。

通用附件攜帶箱等,。手提電腦手提電腦預(yù)裝FILMeasure軟件、XP和Microsoft辦公軟件,。

電腦提箱用于攜帶F10,、F20、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通,，"conflat、雙出入孔SMA,，并通過泄漏測試,。LensPaper-CenterHole**開孔鏡頭紙，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張,。 F50-NIR測厚范圍：100nm-250μm；波長：950-1700nm,。銦錫氧化物膜厚儀有哪些應(yīng)用

不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。授權(quán)膜厚儀學校會用嗎

測量有機發(fā)光顯示器有機發(fā)光顯示器 (OLEDs)有機發(fā)光顯示器正迅速從實驗室轉(zhuǎn)向大規(guī)模生產(chǎn)。明亮,，超薄,，動態(tài)的特性使它們成為從手機到電視顯示屏的優(yōu)先。組成顯示屏的多層薄膜的精密測量非常重要，但不能用傳統(tǒng)接觸型的輪廓儀,，因為它會破壞顯示屏表面,。我們的F20-UV，F(xiàn)40-UV,，和F10-RT-UV將提供廉價,，可靠，非侵入測量原型裝置和全像素化顯示屏,。我們的光譜儀還可以測量大氣敏感材料的化學變化,。

測量透明導(dǎo)電氧化膜不論是銦錫氧化物，氧化鋅,，還是聚合物（3,4-乙烯基）,，我們獨有的ITO光學模型，加上可見/近紅外儀器,，可以測得厚度和光學常數(shù),，費用和操作難度*是光譜橢偏儀的一小部分。 授權(quán)膜厚儀學校會用嗎

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司位于中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)加太路39號第五層六十五部位,，擁有一支專業(yè)的技術(shù)團隊,。在岱美儀器技術(shù)服務(wù)近多年發(fā)展歷史，公司旗下現(xiàn)有品牌岱美儀器技術(shù)服務(wù)等,。公司堅持以客戶為中心,、磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準的項目，經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動】市場為導(dǎo)向，重信譽,，保質(zhì)量,，想客戶之所想，急用戶之所急,，全力以赴滿足客戶的一切需要,。誠實、守信是對企業(yè)的經(jīng)營要求,，也是我們做人的基本準則,。公司致力于打造***的磁記錄，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)。