厚度標準：

所有 Filmetrics 厚度標準都是得到驗證可追溯的 NIST 標準,。

S-Custom-NIST：在客戶提供的樣品上定制可追溯的 NIST 厚度校準。 

TS-Focus-SiO2-4-3100SiO2-on-Si ：厚度標準,，外加調焦區(qū)和單晶硅基準,，厚度大約 3100A，4" 晶圓,。

TS-Focus-SiO2-4-10000SiO2-on-Si ：厚度標準,，外加調焦區(qū)和單晶硅基準，厚度大約 10000A,，4" 晶圓,。

TS-Hardcoat-4μm：丙烯酸塑料硬涂層厚度標準，厚度大約 4um,，直徑 2",。

TS-Hardcoat-Trans：背面透明的硬涂層，可用于透射測量,。

TS-Parylene-4um：丙烯酸塑料上的聚對二甲苯厚度標準,，厚度大約 4um ，直徑2",。

TS-Parylene-8um：硅基上的聚對二甲苯厚度標準,，厚度大約 8um，23mm x 23mm,。

TS-SiO2-4-7200：硅基上的二氧化硅厚度標準,，厚度大約 7200A，4" 晶圓,。

TS-SiO2-4-7200-NIST：可追溯的 NIST SiO2-4-7200 厚度標準,。

TS-SiO2-6-Multi：多厚度硅基上的二氧化硅標準: 125埃米，250埃米,，500埃米,，1000埃米，5000埃米,，和 10000埃米 (+/-10%誤差),，6英寸晶圓。TS-SS3-SiO2-8000：專為SS-3樣品平臺設計之二氧化硅厚度標準片,厚度大約為 8000A,。 產品名稱：紅外干涉厚度測量設備,。進口膜厚儀原產地

鏡頭組件Filmetrics 提供幾十種不同鏡頭配置。訂制專門用途 的鏡片一般在幾天之內可以完成,。

LA-GL25-25-30-EXR用于 60-1000mm 工作距離的直徑 1" 鏡頭組件,，30mm 焦距鏡頭,。KM-GL25用于直徑 1" 鏡頭的簡化動力支架。 可以在兩個軸上斜向調節(jié),。 8-32 安裝螺紋,。KM-F50用于直徑 0.5" 鏡頭的簡化動力支架。 還可以用于 F50,?？商峁┎煌溺R頭組合。LA-F50/SS-13-20-UVX小光斑 (200um) 選項,，可見光, 近紅外或紫外線,。

如果您想要了解更多的信息，請聯(lián)系我們岱美儀器,。 湖北膜厚儀優(yōu)惠價格可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力,。

FSM 413 紅外干涉測量設備

關鍵詞：厚度測量，光學測厚,，非接觸式厚度測量,，硅片厚度，氮化硅厚度,，激光測厚,，近紅外光測厚，TSV, CD, Trench,，砷化鎵厚度,，磷化銦厚度，玻璃厚度測量,，石英厚度,，聚合物厚度, 背磨厚度，上下兩個測試頭,。Michaelson干涉法,，翹曲變形。    

如果您對該產品感興趣的話,，可以給我留言,！

產品名稱：紅外干涉厚度測量設備

·       產品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT，F(xiàn)SM 413SA DP,，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C

如果您需要更多的信息,，請聯(lián)系我們岱美儀器。

F30 系列監(jiān)控薄膜沉積,，**強有力的工具F30 光譜反射率系統(tǒng)能實時測量沉積率,、沉積層厚度、光學常數 (n 和 k 值) 和半導體以及電介質層的均勻性,。

樣品層分子束外延和金屬有機化學氣相沉積: 可以測量平滑和半透明的,，或輕度吸收的薄膜。 這實際上包括從氮化鎵鋁到鎵銦磷砷的任何半導體材料,。

各項優(yōu)點:極大地提高生產力低成本 —幾個月就能收回成本A精確 — 測量精度高于 ±1%快速 — 幾秒鐘完成測量非侵入式 — 完全在沉積室以外進行測試易于使用 — 直觀的 Windows? 軟件幾分鐘就能準備好的系統(tǒng)

型號厚度范圍*波長范圍

F30:15nm-70μm 380-1050nm

F30-EXR:15nm - 250μm 380-1700nm

F30-NIR:100nm - 250μm 950-1700nm

F30-UV:3nm-40μm 190-1100nm

F30-UVX:3nm - 250μm 190-1700nm

F30-XT:0.2μm - 450μm1440-1690nm 紫外光可測試的深度：***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應力,。

F50 系列自動化薄膜測繪Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤,，樣品直徑可達450毫米,。(耐用的平臺在我們的量產系統(tǒng)能夠執(zhí)行數百萬次的量測!)

測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的,，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法,，并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案,。

不同的 F50 儀器是根據波長范圍來加以區(qū)分的,。 標準的 F50是很受歡迎的產品。 一般較短的波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜,。 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng),。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。盒厚測量膜厚儀服務為先

F20-XT膜厚范圍：0.2μm - 450μm,；波長：1440-1690nm,。進口膜厚儀原產地

濾光片整平光譜響應。

ND#0.5 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#0.5 衰減整平濾波器.

ND#1 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#1 衰減整平濾波器.

ND#2 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度 + ND#2 衰減整平濾波器.

420nm 高通濾波器.420nm 高通濾波器於濾波器架.

515nm 高通濾波器.515nm 高通濾波器於濾波器架.

520nm 高通濾波器 +ND1.520nm 高通濾波器 + ND#1 十倍衰減整平濾波器.

520nm 高通濾波器 + ND#2520nm 高通濾波器 + ND#2 一百倍衰減整平濾波器.

550nm 高通濾波器550nm 高通濾波器於濾波器架. 進口膜厚儀原產地

岱美儀器技術服務（上海）有限公司位于中國(上海)自由貿易試驗區(qū)加太路39號第五層六十五部位,，擁有一支專業(yè)的技術團隊,。在岱美儀器技術服務近多年發(fā)展歷史，公司旗下現(xiàn)有品牌岱美儀器技術服務等,。公司堅持以客戶為中心,、磁記錄、半導體,、光通訊生產及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿易,、轉口貿易，商務信息咨詢服務,。 【依法須經批準的項目,，經相關部門批準后方可開展經營活動】磁記錄、半導體,、光通訊生產及測試儀器的批發(fā),、進出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務，國際貿易,、轉口貿易,，商務信息咨詢服務。 【依法須經批準的項目,，經相關部門批準后方可開展經營活動】市場為導向,，重信譽，保質量,，想客戶之所想,，急用戶之所急，全力以赴滿足客戶的一切需要,。誠實,、守信是對企業(yè)的經營要求，也是我們做人的基本準則,。公司致力于打造***的磁記錄,，半導體，光通訊生產,，測試儀器的批發(fā),。