非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在, 在兩級之間是部分結晶硅。部分結晶硅又被叫做多晶硅,。

非晶硅和多晶硅的光學常數(shù)(n和k)對不同沉積條件是獨特的,，必須有精確的厚度測量,。 測量厚度時還必須考慮粗糙度和硅薄膜結晶可能的風化,。

Filmetrics 設備提供的復雜的測量程序同時測量和輸出每個要求的硅薄膜參數(shù),， 并且“一鍵”出結果,。

成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統(tǒng)成功地解決這些問題,。Filmetrics Profilm3D膜厚儀國內代理

    軟件升級提供專門用途的軟件,。UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT,。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness。UPG-F10-AR-HC為F10-AR升級的FFT硬涂層厚度測量軟件,。包括TS-Hardcoat-4um厚度標準,。厚度測量范圍,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件,，需要UPG-Spec-to-RT,。

其他：手提電腦手提電腦預裝FILMeasure軟件,、XP和Microsoft辦公軟件。電腦提箱用于攜帶F10,、F20、F30和F40系統(tǒng)的提箱,。ConflatFeedthrough真空穿通,，"conflat,、雙出入孔SMA，并通過泄漏測試,。LensPaper-CenterHole**開孔鏡頭紙,，用于保護面朝下的樣品,，5本各100張,。 Filmetrics F-HC膜厚儀合理價格幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機器人加載均可,。

F3-CS：

Filmetrics的F3-CS 專門為了微小視野及微小樣品測量設計, 任何人從**操作到研&發(fā)人員都可以此簡易USB供電系統(tǒng)在數(shù)秒鐘內測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.

我們具專利的自動校正功能大幅縮短測量設置並可自動調節(jié)儀器的靈敏度, 使用免手持測量模式時, 只需簡單地將樣品面朝下放置在平臺上測量樣品 , 此時該系統(tǒng)已具備可測量數(shù)百種膜層所必要的一切設置不管膜層是否在透明或不透明基底上.

快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易, 軟件內建所有常見的電介質和半導體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學常數(shù)(n和k）,厚度結果會及時的以直覺的測量結果顯示對于進階使用者,，可以進一步以F3-CS測量折射率, F3-CS可在任何運行Windows XP到 Windows8 64位作業(yè)系統(tǒng)的計算機上運行, USB電纜則提供電源和通信功能.

F50 和 F60 的晶圓平臺提供不同尺寸晶圓平臺。

F50晶圓平臺- 100mm用于 2",、3" 和 4" 晶圓的 F50 平臺組件,。

F50晶圓平臺- 200mm用于 4",、5",、 6" 和 200mm 晶圓的 F50 平臺組件,。

F50晶圓平臺- 300mm用于 4",、5"、6",、200mm 和 300mm 晶圓的 F50 平臺組件,。

F50晶圓平臺- 450mmF50 夾盤組件實用于 4", 5", 6", 200mm, 300mm, 以及450mm毫米晶片。

F50晶圓平臺- 訂制預訂 F50 的晶圓平臺,，通常在四星期內交貨,。

F60晶圓平臺- 200mm用于 4",、5"、6" 和 200mm 晶圓的 F60 平臺組件,。

F60晶圓平臺- 300mm用于 4",、5",、6",、200mm 和 300mm 晶圓的 F60 平臺組件,。 只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。

接觸探頭測量彎曲和難測的表面

CP-1-1.3測量平面或球形樣品，結實耐用的不銹鋼單線圈,。

CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,，對 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%,。 鋼制單線圈外加PVC涂層，比較大可測厚度 15um,。

CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,，直徑 17.5mm。

CP-C6-1.3探測直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側,。

CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側。

CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側,。

CP-BendingRod-L350-2彎曲長度 300mm，總長度 350mm 的接觸探頭,。 用于難以到達的區(qū)域，但不會自動對準表面,。

CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內壁的接觸探頭。

CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑**小的接觸探頭，配備微型直角反射鏡,，用來測量小至直徑 3mm 管子的內壁,，不能自動對準表面,。

CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡，可以在相隔 10mm 的兩個平坦表面之間進行測量,。 Filmetrics 提供一系列的和測繪系統(tǒng)來測量 3nm 到 1mm 的單層,、 多層、 以及單獨的光刻膠薄膜,。光學系數(shù)膜厚儀原理

F30測厚范圍：15nm-70μm；波長：380-1050nm,。Filmetrics Profilm3D膜厚儀國內代理

    其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間，測量精度高達1埃,，測量穩(wěn)定性高達，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機型可選,。可應用領域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等,。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術,*多4層透明薄膜厚度,、n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得,。其應用***,，例如:半導體工業(yè):光阻、氧化物,、氮化物。LCD工業(yè):間距(cellgaps),，ito電極,、polyimide保護膜,。光電鍍膜應用:硬化鍍膜、抗反射鍍膜,、過濾片。極易操作,、快速,、準確,、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型，可以實現(xiàn)反射,、膜厚、n,、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,?？蓪崟r監(jiān)控長晶速度、實時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。Filmetrics Profilm3D膜厚儀國內代理

岱美儀器技術服務（上海）有限公司發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大,，現(xiàn)有一支專業(yè)技術團隊,，各種專業(yè)設備齊全,。在岱美儀器技術服務近多年發(fā)展歷史，公司旗下現(xiàn)有品牌岱美儀器技術服務等,。公司堅持以客戶為中心,、磁記錄,、半導體、光通訊生產及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿易、轉口貿易,，商務信息咨詢服務。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導體,、光通訊生產及測試儀器的批發(fā),、進出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿易、轉口貿易,，商務信息咨詢服務。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】市場為導向，重信譽,，保質量，想客戶之所想,，急用戶之所急，全力以赴滿足客戶的一切需要,。岱美儀器技術服務始終以質量為發(fā)展,，把顧客的滿意作為公司發(fā)展的動力，致力于為顧客帶來***的磁記錄,，半導體,，光通訊生產，測試儀器的批發(fā),。